一种自动温控检测设备制造技术

一种自动温控检测设备，其包括温控箱，测试座组件，以及控制模块。所述温控箱包括温控器，所述测试座组件包括socket测试座，通过所述socket测试座内置的加热棒和感温线，对芯片表面进行加热并实时检测温度，将实时温度反馈给控制模块，控制模块与所述温控器中的预设的测试温度做比较，发出不同的命令，即当实时温度小于测试温度时自动对加热棒通电，从而开始加热，当实时温度大于等于测试温度时由自动对加热棒断电，从而停止加热。如此循环实现闭环检测，从而将温度控制在一定范围内，系统闭环检测，使测试温度更准确。温度传感器实时检测芯片表面温度与预设值做比较，从而实现PID控制，使测试温度更稳定。

【技术实现步骤摘要】
一种自动温控检测设备
本技术属于芯片测试
，特别是一种自动温控检测设备。
技术介绍
半导体行业芯片量产时需要对芯片进行高温测试，测试温度的准确性、稳定性及高效性对芯片尤为重要。目前芯片的功能测试主要在室温进行，不同场所、不同时段，测试的环境都不一样，从而导致测试数据差异性较大。为了解决这一问题，需要一种能够进行自动升温控制的检测设备。
技术实现思路
有鉴于此，本技术提供了一种自动温控检测设备，以解决上述技术问题。一种自动温控检测设备，包括一个温控箱，一个与所述温控箱连接的测试座组件，以及一个与所述温控箱电性连接的控制模块。所述温控箱包括一个温控器，以及一个插座组件。所述插座组件包括一个DC插座，以及一个温度传感器插头。所述DC插座用于连接加热棒并为加热棒供电，所述温度传感器插头用于温度传感器的插拔。所述测试座组件包括一个socket测试座，socket测试座内置加热棒和感温线，所述加热棒和感温线分别与所述DC插座和所述温度传感器插头连接。所述控制模块包括一个实时数据获取单元，一个预设单元，一个比较单元，以及一个控制命令输出单元。所述实时数据获取单元用于获取插设在所述温度传感插座上的温度传感器所输出的实时温度数据，所述预设单元用于预设测试芯片所需要的测试温度，所述比较单元用于比较所述实时数据获取单元所输出的数据与所述测试温度，当实时数据获取单元所输出的数据小于所述测试温度时由控制命令输出单元输出所述加热棒加热的命令，当实时数据获取单元所输出的数据大于等于所述测试温度时由控制命令输出单元输出所述加热棒停止加热的命令。进一步地，所述温控箱还包括一个底盖，一个与所述底盖连接的顶盖，一个与所述顶盖连接的后盖，一个与所述顶盖连接的前盖，以及一个设置在所述底盖上的电器组件。进一步地，所述测试座组件还包括一个固定座，一个设置在所述固定座上的PCB板，一个插设在所述固定座上的光源驱动板，以及一个设置在所述固定座上的光源组件。进一步地，所述插座组件还包括一个与所述电器组件连接的电源插座。进一步地，所述电器组件包括一个设置在所述底盖上的空气断路器，一个与所述空气断路器连接的固态继电器，以及一个与所述固态继电器连接的开关电源。进一步地，所述温度传感器插座插设的温度传感器为K型热电偶型或更换为热电阻。进一步地，所述加热棒为高效率加热棒，升温时间小于等于一分钟。进一步地，所述自动温控检测设备为单芯片测试或更换多个芯片进行测试。与现有技术相比，本技术提供的自动温控检测设备所具有所述温控器和所述socket测试座通过控制模块控制实现自动温控检测。具体的，通过所述socket测试座内置的加热棒和感温线，对芯片表面进行加热并实时检测温度，将实时温度反馈给控制模块，控制模块与所述温控器中的预设的测试温度做比较，发出不同的命令，即当实时温度小于测试温度时自动对加热棒通电，从而开始加热，当实时温度大于等于测试温度时由自动对加热棒断电，从而停止加热。如此循环实现闭环检测，从而将温度控制在一定范围内，系统闭环检测，使测试温度更准确。温度传感器实时检测芯片表面温度与预设值做比较，从而实现PID控制，使测试温度更稳定。综上所述，本技术提供的自动温控检测设备可以实现自动化控制温度，使测试简单方便效率高，同时能保证测试温度的准确性和稳定性。附图说明图1为本技术提供的一种自动温控检测设备的结构示意图。图2为图1的自动温控检测设备所具有的温控箱的结构示意图。图3为图1的自动温控检测设备所具有的测试座组件的结构示意图。图4为图1的自动温控检测设备所具有的控制模块的流程图具体实施方式以下对本技术的具体实施例进行进一步详细说明。应当理解的是，此处对本技术实施例的说明并不用于限定本技术的保护范围。如图1至图4所示，其为本技术提供的自动温控检测设备的结构示意图。所述自动温控检测设备包括一个温控箱10，一个与所述温控箱10连接的测试座组件20，以及一个设置在所述温控箱10上的控制模块30。可以想到的是，所述自动温控检测设备还包括其他的一些功能模块，如组装组件，安装模块，以及连接组件等等，其为本领域技术人员所习知的技术，在此不再赘述。所述温控箱10包括一个底盖11，一个与所述底盖11连接的顶盖12，一个与所述顶盖12连接的后盖13，一个与所述顶盖12连接的前盖14，一个设置在所述前盖14和所述后盖13上的插座组件15，一个设置在所述底盖11上的电器组件16，以及一个设置在所述前盖14上的温控器17。所述底盖11、顶盖12、后盖13、前盖14其本身为现有技术，用于固定设置其他组件，并组成设备外壳，该外壳内部容纳所述电器组件16，在此不在赘述。所述插座组件15包括一个设置在所述后盖13上的电源插座151，一个设置在所述前盖14上的DC插座152，一个设置在所述前盖14上的温度传感器插头153，以及一个设置在所述前盖14上的两档开关154。所述电源插座151用于插设外部电源装置，提供AC220V的电源，为自动温控检测设备提供电能。所述DC插座152用于连接加热棒并为加热棒供电，且可以更换不同功率的加热棒。所述温度传感器插头153用于温度传感器的插拔，方便更换和后期维护，具体的，所述温度传感器采用的是K型热电偶型温度传感器，也可以更换成电热阻或其他型号的温度传感器。所述两档开关154用于控制自动温控检测设备的通断电。所述电器组件16设置在所述底盖11上并通过所述电源插座151与连接外部电源装置由外部电源为电器组件16供电。所述电器组件16包括一个设置在所述底盖11上的空气断路器161，一个与所述空气断路器161连接的固态继电器162，以及一个与所述固态继电器162连接的开关电源163。所述空气断路器161一端与电源插座151连接，另一端与所述固态继电器162连接，所述空气断路器161在电路电流超过额定电流时会自动断开开关，从而保护电路防止短路。所述固态继电器162一端与所述空气断路器161连接，另一端与开关电源163连接，固态继电器是具有隔离功能的无触点电子开关，在开关过程中无机械接触部件，因此所述固态继电器162在电路中作为开关使用，控制加热棒的通断电，同时对电路起到短路保护，过载保护和过热保护的作用。所述开关电源163为检测设备提供直流24V电源，为低压电元器件供电，如加热棒、温度传感器等。所述温控器17设置在所述前盖14上，所述温控器17用于设置控制的温度并显示当前实时温度，具体的，采用进口温控器，所述温控器17的显示精度±1℃，采样周期为250ms一次，从而使测试温度更准确。所述测试座组件20包括一个固定座21，一个设置在所述固定座21上的PCB板22，一个设置在所述PCB板22上的socket测试座23，一个插设在所述固定座21上的光源驱动板24，以及一个设置在所述固定座21上的光源组件25。所述固定座21其本身为现有技术，用于安装其他组件，如PCB板22、光源驱动板24等，在此不在赘述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动温控检测设备，其特征在于：所述自动温控检测设备包括一个温控箱，一个与所述温控箱连接的测试座组件，以及一个与所述温控箱电性连接的控制模块，所述温控箱包括一个温控器，以及一个插座组件，所述插座组件包括一个DC插座，以及一个温度传感器插头，所述DC插座用于连接加热棒并为加热棒供电，所述温度传感器插头用于温度传感器的插拔，所述测试座组件包括一个socket测试座，socket测试座内置加热棒和感温线，所述加热棒和感温线分别与所述DC插座和所述温度传感器插头连接，所述控制模块包括一个实时数据获取单元，一个预设单元，一个比较单元，以及一个控制命令输出单元，所述实时数据获取单元用于获取插设在所述温度传感插座上的温度传感器所输出的实时温度数据，所述预设单元用于预设测试芯片所需要的测试温度，所述比较单元用于比较所述实时数据获取单元所输出的数据与所述测试温度，当实时数据获取单元所输出的数据小于所述测试温度时由控制命令输出单元输出所述加热棒加热的命令，当实时数据获取单元所输出的数据大于等于所述测试温度时由控制命令输出单元输出所述加热棒停止加热的命令。/n

【技术特征摘要】
1.一种自动温控检测设备，其特征在于：所述自动温控检测设备包括一个温控箱，一个与所述温控箱连接的测试座组件，以及一个与所述温控箱电性连接的控制模块，所述温控箱包括一个温控器，以及一个插座组件，所述插座组件包括一个DC插座，以及一个温度传感器插头，所述DC插座用于连接加热棒并为加热棒供电，所述温度传感器插头用于温度传感器的插拔，所述测试座组件包括一个socket测试座，socket测试座内置加热棒和感温线，所述加热棒和感温线分别与所述DC插座和所述温度传感器插头连接，所述控制模块包括一个实时数据获取单元，一个预设单元，一个比较单元，以及一个控制命令输出单元，所述实时数据获取单元用于获取插设在所述温度传感插座上的温度传感器所输出的实时温度数据，所述预设单元用于预设测试芯片所需要的测试温度，所述比较单元用于比较所述实时数据获取单元所输出的数据与所述测试温度，当实时数据获取单元所输出的数据小于所述测试温度时由控制命令输出单元输出所述加热棒加热的命令，当实时数据获取单元所输出的数据大于等于所述测试温度时由控制命令输出单元输出所述加热棒停止加热的命令。


2.如权利要求1所述的自动温控检测设备，其特征在于：所述温控箱还包括一个底盖，一个与...

【专利技术属性】
技术研发人员：李涛，王华伟，
申请(专利权)人：浙江邦睿达科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33