一种多功能闪存芯片测试架制造技术

技术编号:28274806 阅读:15 留言:0更新日期:2021-04-30 13:13
本实用新型专利技术公开了一种多功能闪存芯片测试架,包括主测试板和辅助测试板,主测试板的一侧活动连接有辅助测试板;在使用辅助板体时可以将其从放置槽中利用铰接件转出,在不使用或存放测试架时,亦可将辅助板体利用铰接件转入放置槽的内腔中。该测试架在主板体的表面开设有若干第一插槽,第一插槽的内腔中还插接有主测试座,每个主测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片,且每个辅助测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片,使得在对闪存芯片进行测试时,可以将多个闪存芯片分别放置在主测试座和辅助测试座内,且分别接通USB接口和电源接口,同时对多个闪存芯片进行测试,与传统的单闪存芯片测试方法相比,测试效率也更高。

【技术实现步骤摘要】
一种多功能闪存芯片测试架
本技术涉及芯片测试架
,具体为一种多功能闪存芯片测试架。
技术介绍
现有技术中缺少对闪存芯片行之有效的测试方法,一般是将闪存芯片和电子设备的其余元器件一起装配完毕后,对整个电子产品进行测试。以固态硬盘为例,它是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘,由控制单元和存储单元组成。由于固态硬盘的元器件较多,因此找出故障元器件需要耗费一定时间,而闪存芯片一般为TSOP、BGA等封装,其引脚较多,因此如果闪存芯片为不良产品,则更换闪存芯片将浪费更多的测试时间。现有的芯片测试架,大多不能对多个闪存芯片同时进行测试,不够便携且固定效果较差。针对这些面对的问题和挑战,我们提出了一种多功能闪存芯片测试架,它具有能对多个闪存芯片同时进行测试、便携且固定效果较好等优点。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种多功能闪存芯片测试架,它具有能对多个闪存芯片同时进行测试、便携且固定效果较好等优点,从而解决了传统芯片测试架,大多不能对多个闪存芯片同时进行测试,不够便携且固定效果较差的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种多功能闪存芯片测试架,包括主测试板和辅助测试板,主测试板的一侧活动连接有辅助测试板,所述主测试板包括主板体、第一插槽和主开关,主板体的表面开设有若干第一插槽,主板体的表面边沿处设置有若干主开关,且主板体的一侧外壁上分别安装有主USB接口和主电源接口,主板体的内侧外壁边沿处还设置有铰接件,铰接件的另一端活动连接有辅助测试板;所述辅助测试板包括辅助板体、第二插槽和辅助开关,辅助板体的表面加工有若干第二插槽,辅助板体的表面边沿处设置有若干辅助开关,且辅助板体与主USB接口和主电源接口相对应的一侧外壁上分别安装有辅助USB接口和辅助电源接口。进一步地,所述第一插槽的一侧内壁上加工有第一卡槽,第一插槽相对第一卡槽的一侧边沿处安装有第一夹柱,且第一插槽的内腔中还插接有主测试座,每个主测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片,主测试座与第一卡槽相对应的一侧外壁上设置有主卡块,且主卡块与第一卡槽相互配合。进一步地,所述第二插槽的一侧内壁上加工有第二卡槽,第二插槽相对第二卡槽的一侧边沿处安装有第二夹柱,且第二插槽的内腔中还插接有辅助测试座,每个辅助测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片,辅助测试座与第二卡槽相对应的一侧外壁上设置有辅助卡块,且辅助卡块与第二卡槽相互配合。进一步地,所述主板体的底面开设有放置槽,辅助板体的内侧通过铰接件活动连接主板体且放置槽与辅助板体相互匹配。进一步地,所述主板体的底面四角处均设置有固定吸盘,且固定吸盘为一种丁腈橡胶材质制成的构件。与现有技术相比,本技术的有益效果如下:1、本多功能闪存芯片测试架,在主板体的表面开设有若干第一插槽,第一插槽的内腔中还插接有主测试座,每个主测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片,且每个辅助测试座的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片,使得在对闪存芯片进行测试时,可以将多个闪存芯片分别放置在主测试座和辅助测试座内,且分别接通USB接口和电源接口,同时对多个闪存芯片进行测试,与传统的单闪存芯片测试方法相比,测试效率也更高。2、本多功能闪存芯片测试架,在主板体的底面开设有放置槽,辅助板体的内侧通过铰接件活动连接主板体且放置槽与辅助板体相互匹配,使得在使用辅助板体时可以将其从放置槽中利用铰接件转出,在不使用或存放测试架时,亦可将辅助板体利用铰接件转入放置槽的内腔中,节约了空间便于携带也更加灵活。3、本多功能闪存芯片测试架,在主板体的底面四角处均设置有固定吸盘,使得在测试闪存芯片的过程中,主板体可以利用固定吸盘吸住接触面,避免发生晃动或倾斜影响测试精确度。附图说明图1为本技术的整体结构示意图;图2为本技术的主测试板和辅助测试板连接结构示意图;图3为本技术的A处放大结构示意图;图4为本技术的主测试板和辅助测试板背面结构示意图。图中:1、主测试板;11、主板体;111、主USB接口;112、主电源接口;113、铰接件;114、放置槽;115、固定吸盘;12、第一插槽;121、第一卡槽;122、第一夹柱;123、主测试座;1231、主卡块;13、主开关;2、辅助测试板;21、辅助板体;211、辅助USB接口;212、辅助电源接口;22、第二插槽;221、第二卡槽;222、第二夹柱;223、辅助测试座;2231、辅助卡块;23、辅助开关。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。请参阅图1、图2和图4,一种多功能闪存芯片测试架,包括主测试板1和辅助测试板2,主测试板1的一侧活动连接有辅助测试板2,主测试板1包括主板体11、第一插槽12和主开关13,主板体11的表面开设有若干第一插槽12,主板体11的表面边沿处设置有若干主开关13,且主板体11的一侧外壁上分别安装有主USB接口111和主电源接口112,主板体11的内侧外壁边沿处还设置有铰接件113,铰接件113的另一端活动连接有辅助测试板2;第一插槽12的一侧内壁上加工有第一卡槽121,第一插槽12相对第一卡槽121的一侧边沿处安装有第一夹柱122,且第一插槽12的内腔中还插接有主测试座123,每个主测试座123的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片,主测试座123与第一卡槽121相对应的一侧外壁上设置有主卡块1231,且主卡块1231与第一卡槽121相互配合;主板体11的底面开设有放置槽114,辅助板体21的内侧通过铰接件113活动连接主板体11且放置槽114与辅助板体21相互匹配;主板体11的底面四角处均设置有固定吸盘115,且固定吸盘115为一种丁腈橡胶材质制成的构件。请参阅图1-3,一种多功能闪存芯片测试架,辅助测试板2包括辅助板体21、第二插槽22和辅助开关23,辅助板体21的表面加工有若干第二插槽22,辅助板体21的表面边沿处设置有若干辅助开关23,且辅助板体21与主USB接口111和主电源接口112相对应的一侧外壁上分别安装有辅助USB接口211和辅助电源接口212;第二插槽22的一侧内壁上加工有第二卡槽221,第二插槽22相对第二卡槽221的一侧边沿处安装有第二夹柱222,且第二插槽22的内腔中还插接有辅助测试座223,每个辅助测试座223的上端内腔中均能够安装有对应的闪存芯片,辅助测试座223与第二卡槽221相对应的一侧外壁上设置有辅助卡块2231,且辅助卡块2231与第二卡槽221相互配合。综上所述:本多功能闪存芯片测试架,主板体11的表面开设有若干第一插槽12,第一插槽12的内腔中还插接有主测试座123,每个主测试座1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多功能闪存芯片测试架,包括主测试板(1)和辅助测试板(2),主测试板(1)的一侧活动连接有辅助测试板(2),其特征在于:所述主测试板(1)包括主板体(11)、第一插槽(12)和主开关(13),主板体(11)的表面开设有若干第一插槽(12),主板体(11)的表面边沿处设置有若干主开关(13),且主板体(11)的一侧外壁上分别安装有主USB接口(111)和主电源接口(112),主板体(11)的内侧外壁边沿处还设置有铰接件(113),铰接件(113)的另一端活动连接有辅助测试板(2);/n所述辅助测试板(2)包括辅助板体(21)、第二插槽(22)和辅助开关(23),辅助板体(21)的表面加工有若干第二插槽(22),辅助板体(21)的表面边沿处设置有若干辅助开关(23),且辅助板体(21)与主USB接口(111)和主电源接口(112)相对应的一侧外壁上分别安装有辅助USB接口(211)和辅助电源接口(212)。/n

【技术特征摘要】
1.一种多功能闪存芯片测试架,包括主测试板(1)和辅助测试板(2),主测试板(1)的一侧活动连接有辅助测试板(2),其特征在于:所述主测试板(1)包括主板体(11)、第一插槽(12)和主开关(13),主板体(11)的表面开设有若干第一插槽(12),主板体(11)的表面边沿处设置有若干主开关(13),且主板体(11)的一侧外壁上分别安装有主USB接口(111)和主电源接口(112),主板体(11)的内侧外壁边沿处还设置有铰接件(113),铰接件(113)的另一端活动连接有辅助测试板(2);
所述辅助测试板(2)包括辅助板体(21)、第二插槽(22)和辅助开关(23),辅助板体(21)的表面加工有若干第二插槽(22),辅助板体(21)的表面边沿处设置有若干辅助开关(23),且辅助板体(21)与主USB接口(111)和主电源接口(112)相对应的一侧外壁上分别安装有辅助USB接口(211)和辅助电源接口(212)。


2.根据权利要求1所述的一种多功能闪存芯片测试架,其特征在于:所述第一插槽(12)的一侧内壁上加工有第一卡槽(121),第一插槽(12)相对第一卡槽(121)的一侧边沿处安装有第一夹柱(122),且第一插槽(12)的内腔中还插接有主测试座(123),每个...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨德军
申请(专利权)人:众腾电子科技东莞有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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