一种集成电路测试用承载治具制造技术

本实用新型专利技术涉及承载治具领域，尤其为一种集成电路测试用承载治具，包括底座，底座的前端设置有第一限位杆，底座的内侧开设有内槽，内槽的内表面连接有滑块，滑块的上端连接有伸缩杆，伸缩杆的前端设置有第二限位杆，伸缩杆的上端连接有夹具，夹具靠近上端的内侧贯穿设置有进位杆，进位杆的下端连接有活动板，活动板的下端连接有弹簧，活动板的下端靠近弹簧的位置设置有软体夹片，夹具的内部贯穿设置有限高杆。本实用新型专利技术，解决了传统的集成电路测试用承载治具，电路板固定结构多为点触式固定结构，该固定结构固定效果较差，同时不够灵活不能很好的适配不同尺寸的电路板的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试用承载治具
本技术涉及承载治具领域，具体为一种集成电路测试用承载治具。
技术介绍
治具是一个木工、铁工、钳工、机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具，主要是作为协助控制位置或动作(或两者)的一种工具。治具可以分为工艺装配类治具、项目测试类治具和线路板测试类治具三类。在工业时代前就已被广泛使用，包括机械治具、木工治具、焊接治具、珠宝治具、以及其他领域。某些类型的治具也称为“模具”或“辅具”，其主要目的是为重复性和准确的重复某部分的重制。一个明显的例子是当复制钥匙时，原始的钥匙通常被固定于治具上，如此机器就能借由原始钥匙外观的导引复制出新的钥匙。有许多治具之所以产生是因为商业的需要，因为有许多类型的治具是客制化的，某些是为了提高生产力、重复特定动作、或使工作更加精确。因为治具的设计基本上是建立于逻辑，类似的治具可能会因为使用于不同的时间和地点而分别产生。钻孔治具是一种可借由移动模具以导引麻花钻孔设备或其他钻孔装置到每个洞的准确中心位置，并可在多个可互换零件上加速反复在洞孔中心定位的治具类型，在铁工实务上，典型的作法是在钻孔治具上的每个孔留有坚硬套环以避免麻花钻切到治具。本技术讨论一种集成电路测试用承载治具。存在以下问题传统的集成电路测试用承载治具，电路板固定结构多为点触式固定结构，该固定结构固定效果较差，且不能很好的适配不同尺寸的电路板。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术提供了一种集成电路测试用承载治具，解决了传统的集成电路测试用承载治具，电路板固定结构多为点触式固定结构，该固定结构固定效果较差，同时不能很好的适配不同尺寸的电路板的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路测试用承载治具，包括底座，所述底座的前端设置有第一限位杆，所述底座的内侧开设有内槽，所述内槽的内表面连接有滑块，所述滑块的上端连接有伸缩杆，所述伸缩杆的前端设置有第二限位杆，所述伸缩杆的上端连接有夹具，所述夹具靠近上端的内侧贯穿设置有进位杆，所述进位杆的下端连接有活动板，所述活动板的下端连接有弹簧，所述活动板的下端靠近弹簧的位置设置有软体夹片，所述夹具的内部贯穿设置有限高杆。作为本技术的一种优选技术方案，所述夹具的数量为两组，两组所述底座的水平中心垂直线呈对称分布。作为本技术的一种优选技术方案，所述夹具的上端设置有螺纹孔，所述螺纹孔的内径尺寸大小与进位杆的外径尺寸大小相适配。作为本技术的一种优选技术方案，所述进位杆通过螺纹与夹具活动连接，所述进位杆通过轴承与活动板活动连接，所述轴承设置于活动板的内部。作为本技术的一种优选技术方案，所述活动板的材质为高分子软体材质，所述活动板的形状为矩形。作为本技术的一种优选技术方案，所述伸缩杆还包括内杆与外杆，所述内杆与外杆通过第二限位杆固定相对位置。作为本技术的一种优选技术方案，所述活动板通过与弹簧与夹具弹性连接，两组所述夹具通过限高杆保持同一水平高度。与现有技术相比，本技术提供了一种集成电路测试用承载治具，具备以下有益效果：一种集成电路测试用承载治具，通过内槽、滑块构成的可移动式夹具，同时配合设置有夹具、活动板与弹簧构成的活动式夹持固定装置，可以有效的解决传统的集成电路测试用承载治具，固定结构固定效果较差与不能很好的适配不同尺寸的电路板的问题。附图说明图1为本技术集成电路测试用承载治具整体结构示意图；图2为本技术A区域机构放大图；图3为本技术底座外观示意图。图中：1、底座；2、第一限位杆；3、内槽；4、滑块；5、伸缩杆；6、第二限位杆；7、夹具；8、进位杆；9、活动板；10、弹簧；11、软体夹片；12、限高杆。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-3，本实施方案中一种集成电路测试用承载治具，包括底座1，底座1的前端设置有第一限位杆2，底座1的内侧开设有内槽3，内槽3的内表面连接有滑块4，滑块4的上端连接有伸缩杆5，伸缩杆5的前端设置有第二限位杆6，伸缩杆5的上端连接有夹具7，夹具7靠近上端的内侧贯穿设置有进位杆8，进位杆8的下端连接有活动板9，活动板9的下端连接有弹簧10，活动板9的下端靠近弹簧10的位置设置有软体夹片11，夹具7的内部贯穿设置有限高杆12。本实施例中，夹具7的数量为两组，两组底座1的水平中心垂直线呈对称分布，使电路板的固定更加稳定；夹具7的上端设置有螺纹孔，螺纹孔的内径尺寸大小与进位杆8的外径尺寸大小相适配，使夹具7的内径尺寸与进位杆8的外径尺寸大小相同，使夹具7可以通过螺纹转动实现进退位；进位杆8通过螺纹与夹具7活动连接，进位杆8通过轴承与活动板9活动连接，轴承设置于活动板9的内部，使进位杆8的转动结构更加合理；活动板9的材质为高分子软体材质，活动板9的形状为矩形，防止夹持结构对电路板造成损伤；伸缩杆5还包括内杆与外杆，内杆与外杆通过第二限位杆6固定相对位置，通过伸缩杆5实现夹具7水平高度的可调节，增加本技术适配性；活动板9通过与弹簧10与夹具7弹性连接，两组夹具7通过限高杆12保持同一水平高度，使电路板被夹持后始终保持水平。本技术的工作原理及使用流程：使用者将电路板放在一组夹具7上，然后，通过旋转进位杆8，使活动板9向下运动并夹持住电路板，弹簧10与电路板接触，保护电路板不受损伤，随后使用者推动另一组夹具7靠向电路板的另一端，然后旋转另一组进位杆8，使另一组夹具7对电路板的另一端实现夹持，使用者通过松动第二限位杆6，然后通过挑动限高杆12来实现两组夹具7水平高度的同时调节，使两组夹具7调节到适合的水平高度后，旋紧第二限位杆6来固定伸缩杆5的位置，随后通过推动伸缩杆5，使两组夹具7移动到适合的水平位置，然后旋紧第一限位杆2来固定滑块4的位置，从而最终固定两组夹具7的水平位移。最后应说明的是：以上仅为本技术的优选实施例而已，并不用于限制本技术，尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试用承载治具，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的前端设置有第一限位杆(2)，所述底座(1)的内侧开设有内槽(3)，所述内槽(3)的内表面连接有滑块(4)，所述滑块(4)的上端连接有伸缩杆(5)，所述伸缩杆(5)的前端设置有第二限位杆(6)，所述伸缩杆(5)的上端连接有夹具(7)，所述夹具(7)靠近上端的内侧贯穿设置有进位杆(8)，所述进位杆(8)的下端连接有活动板(9)，所述活动板(9)的下端连接有弹簧(10)，所述活动板(9)的下端靠近弹簧(10)的位置设置有软体夹片(11)，所述夹具(7)的内部贯穿设置有限高杆(12)。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试用承载治具，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的前端设置有第一限位杆(2)，所述底座(1)的内侧开设有内槽(3)，所述内槽(3)的内表面连接有滑块(4)，所述滑块(4)的上端连接有伸缩杆(5)，所述伸缩杆(5)的前端设置有第二限位杆(6)，所述伸缩杆(5)的上端连接有夹具(7)，所述夹具(7)靠近上端的内侧贯穿设置有进位杆(8)，所述进位杆(8)的下端连接有活动板(9)，所述活动板(9)的下端连接有弹簧(10)，所述活动板(9)的下端靠近弹簧(10)的位置设置有软体夹片(11)，所述夹具(7)的内部贯穿设置有限高杆(12)。


2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用承载治具，其特征在于：所述夹具(7)的数量为两组，两组所述底座(1)的水平中心垂直线呈对称分布。


3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试用承载治具，其特征在于：所述夹具(7)...

【专利技术属性】
技术研发人员：张曾彪，
申请(专利权)人：苏州特尔信精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32