一种确定加速寿命试验中加速因子的方法及应用技术

本发明专利技术公开了一种确定加速寿命试验中加速因子的方法及应用，其通过获取第一环境温度、第二环境温度、受试设备的所有元器件类型、同一类型元器件的数量及对应的激活能，利用第一映射关系获取每个类型元器件所对应的加速因子，基于每个类型元器件所对应的工作失效率及数量获得受试设备的预估失效率，利用每个类型元器件所对应的加速因子、工作失效率和受试设备的预估失效率获取受试设备的第一加速因子，利用每个类型元器件所对应的激活能和数量得到受试设备的激活能，利用第二映射关系获取受试设备的第二加速因子，利用受试设备的第一加速因子和第二加速因子确定受试设备的最终加速因子，利用最终加速因子进行受试设备的加速寿命试验，以缩短加速试验的试验时长。以缩短加速试验的试验时长。以缩短加速试验的试验时长。

【技术实现步骤摘要】
一种确定加速寿命试验中加速因子的方法及应用


[0001]本专利技术属于设备可靠性试验
，更具体地，涉及一种确定加速寿命试验中加速因子的方法及应用。

技术介绍

[0002]可靠性就是产品在规定的条件下和规定的时间内完成规定的功能的能力。常用平均故障间隔时间和使用寿命来衡量其可靠性水平高低。针对可靠性水平较高、使用寿命较长的设备，严格按照GJB899A开展充分的可靠性专项试验，试验时间较长，试验成本较高。寻找有效的可靠性加速寿命试验方案，指导工程人员在较短的试验时间内可以充分科学地考核被试设备的可靠性水平，一直是可靠性专业人员研究的方向之一，设计可靠性加速寿命试验方案，最重要的工作之一就是确定加速因子。
[0003]在可靠性加速寿命试验方案中，由于受试设备的元器件种类较多，对于不同的元器件来说其对应的激活能以及适用的加速因子参量不同，然而选用不适用的加速因子，会导致长寿命设备开展可靠性试验时，试验时间较长且试验成本较高。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求，本专利技术提供了一种确定加速寿命试验中加速因子的方法及应用，旨在解决长寿命设备开展可靠性试验时，试验时间较长且试验成本较高的技术问题。
[0005]为实现上述目的，按照本专利技术的一个方面，提供了一种确定加速寿命试验中加速因子的方法，该方法包括：
[0006]获取第一环境温度、第二环境温度、受试设备的所有元器件类型、同一类型元器件的数量及对应的激活能，其中，第一环境温度为受试设备正常工作时的环境温度，第二环境温度为加速寿命试验中受试设备的环境温度；
[0007]利用第一映射关系获取每个类型元器件所对应的加速因子，其中，第一映射关系为第一环境温度、第二环境温度、同一类型元器件的激活能和同一类型元器件所对应的加速因子四者之间的映射关系；
[0008]基于每个类型元器件所对应的工作失效率及数量获得受试设备的预估失效率，利用每个类型元器件所对应的加速因子、工作失效率和受试设备的预估失效率获取受试设备的第一加速因子；
[0009]利用每个类型元器件所对应的激活能和数量得到受试设备的激活能，利用第二映射关系获取受试设备的第二加速因子，其中，第二映射关系为第一环境温度、第二环境温度、受试设备的激活能和第二加速因子四者之间的映射关系；
[0010]利用受试设备的第一加速因子和第二加速因子确定受试设备的最终加速因子，利用最终加速因子进行受试设备的加速寿命试验。
[0011]作为本专利技术的进一步改进，受试设备的元器件类型包括电阻，电容、磁性线圈、连
接器、半导体单片集成电路和混合集成电路中的一种或多种。
[0012]作为本专利技术的进一步改进，通过GJB/Z 299C标准获取每个类型元器件所对应的工作失效率。
[0013]作为本专利技术的进一步改进，基于每个类型元器件所对应的工作失效率及数量获得受试设备的预估失效率具体为：
[0014]第i类元器件的工作失效率λ
i
为λ
i
＝m
i
λ
mi
，其中，m
i
为第i类元器件的个数，λ
mi
为一个第i类元器件的工作失效率；
[0015]受试设备的预估失效率λ
S
为其中，n为受试设备所包含的所有元器件的种类个数。
[0016]作为本专利技术的进一步改进，第i类元器件所对应的加速因子A
i
为：
[0017][0018]其中，E
i
为第i类元器件所对应的激活能值；k为玻尔兹曼常数；T0为参加加速试验的受试设备正常工作的环境温度，T
d
为加速试验条件下的环境温度；
[0019]利用每个类型元器件所对应的加速因子、工作失效率和受试设备的预估失效率获取受试设备的第一加速因子为：
[0020][0021]作为本专利技术的进一步改进，受试设备的激活能E
S
的计算方式为：
[0022][0023]其中，E
i
为第i类元器件所对应的激活能值；m
i
为第i类元器件的个数，n为受试设备所包含的所有元器件的种类个数。
[0024]作为本专利技术的进一步改进，受试设备的第二加速因子为：
[0025][0026]其中，k为玻尔兹曼常数；T0为参加加速试验的受试设备正常工作的环境温度，T
d
为加速试验条件下的环境温度。
[0027]作为本专利技术的进一步改进，根据第一加速因子和第二加速因子确定受试设备的最终加速因子A
S
具体为：
[0028][0029]为实现上述目的，按照本专利技术的另一个方面，提供了一种终端设备，包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元，其中，存储单元存储有计算机程序，当程序被处理单元
执行时，使得处理单元执行上述方法的步骤。
[0030]为实现上述目的，按照本专利技术的另一个方面，提供了一种计算机可读介质，其存储有可由电子设备执行的计算机程序，当计算机程序在电子设备上运行时，使得电子设备执行上述方法的步骤。
[0031]总体而言，通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比，能够取得下列有益效果：
[0032]本专利技术提供的一种确定加速寿命试验中加速因子的方法及应用，其通过两类不同的加速因子综合加权确定以提高加速因子的准确度，其中一类加速因子根据确定的所述受试设备的元器件的加速因子和失效率，通过不同类别元器件失效率在设备失效率的权重加权各类元器件的加速因子确定；另外一类加速因子根据确定的所述受试设备的元器件的激活能和元器件数量，通过不同类别元器件数量在元器件总数量的权重加权各类元器件的激活能确定，从而利用该加速因子指导工程人员开展可靠性加速寿命试验，可以有效缩短试验时长，降低设备的可靠性试验时间和试验成本。
附图说明
[0033]图1是本专利技术实施例提供的一种确定加速寿命试验中加速因子的方法的示意图。
具体实施方式
[0034]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。此外，下面所描述的本专利技术各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
[0035]图1是本专利技术实施例提供的一种确定加速寿命试验中加速因子的方法的示意图。如图1所示，一种确定加速寿命试验中加速因子的方法，其包括如下步骤：
[0036]获取第一环境温度、第二环境温度、受试设备的所有元器件类型、同一类型元器件的数量及对应的激活能，其中，第一环境温度为受试设备正常工作时的环境温度，第二环境温度为加速寿命试验中受试设备的环境温度；受试设备是加速寿命试验中的试验对象，其可以为任何电子设备，元器件类型包括电阻，电容、磁性线圈、连接器、半导体单片集成电路、混合集成电路等本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种确定加速寿命试验中加速因子的方法，其特征在于，该方法包括：获取第一环境温度、第二环境温度、受试设备的所有元器件类型、同一类型元器件的数量及对应的激活能，其中，第一环境温度为受试设备正常工作时的环境温度，第二环境温度为加速寿命试验中受试设备的环境温度；利用第一映射关系获取每个类型元器件所对应的加速因子，其中，第一映射关系为第一环境温度、第二环境温度、同一类型元器件的激活能和同一类型元器件所对应的加速因子四者之间的映射关系；基于每个类型元器件所对应的工作失效率及数量获得受试设备的预估失效率，利用每个类型元器件所对应的加速因子、工作失效率和受试设备的预估失效率获取受试设备的第一加速因子；利用每个类型元器件所对应的激活能和数量得到受试设备的激活能，利用第二映射关系获取受试设备的第二加速因子，其中，第二映射关系为第一环境温度、第二环境温度、受试设备的激活能和第二加速因子四者之间的映射关系；利用受试设备的第一加速因子和第二加速因子确定受试设备的最终加速因子，利用最终加速因子进行受试设备的加速寿命试验。2.如权利要求1所述的一种确定加速寿命试验中加速因子的方法，其中，受试设备的元器件类型包括电阻，电容、磁性线圈、连接器、半导体单片集成电路和混合集成电路中的一种或多种。3.如权利要求1所述的一种确定加速寿命试验中加速因子的方法，其中，通过GJB/Z 299C标准获取每个类型元器件所对应的工作失效率。4.如权利要求1所述的一种确定加速寿命试验中加速因子的方法，其中，基于每个类型元器件所对应的工作失效率及数量获得受试设备的预估失效率具体为：第i类元器件的工作失效率λ
i
为λ
i
＝m
i
λ
mi
，其中，m
i
为第i类元器件的个数，λ
mi
为一个第i类元器件的工作失效率；...

【专利技术属性】
技术研发人员：李国胜，李万，宋刚，蔡斯，樊进，卢志强，胡刚，陆军，仇玲萍，马苗，詹孟宇，邹杨思，徐寒柳，许传农，
申请(专利权)人：武汉船舶通信研究所中国船舶重工集团公司第七二二研究所，
类型：发明
国别省市：