地表植被参数监测装置、系统及方法制造方法及图纸

技术编号:28205266 阅读:23 留言:0更新日期:2021-04-24 14:33
本发明专利技术公开了一种地表植被参数监测装置,所述装置包括:数据采集器,分别与所述数据采集器连接的多个激光雷达、存储器,为所述数据采集器供电的电源模块;所述数据采集器及所述电源模块安装在机箱内,所述机箱以可拆卸方式安装在支架上,所述支架固定在植被监测区域的地面上;所述激光雷达,用于按照设定时间间隔对地表目标植被进行点云扫描;所述数据采集器,用于获取各激光雷达输出的点云数据,并将所述点云数据保存到所述存储器。本发明专利技术还公开了一种地表植被参数监测系统及方法。利用本发明专利技术,可以实现对地表植被自动、连续、全天候的数据采集。据采集。据采集。

【技术实现步骤摘要】
地表植被参数监测装置、系统及方法


[0001]本专利技术涉及植被监测领域,具体涉及一种地表植被参数监测装置、系统及方法。

技术介绍

[0002]叶面积指数(LAI),亦称叶面积系数,是指单位土地面积上植物叶片总面积占土地面积的倍数,是表示植被利用光能状况和冠层结构的一个综合指标。在生态学中,叶面积指数是生态系统的一个重要结构参数,用来反映植物叶面数量、冠层结构变化、植物群落生命活力及其环境效应,为植物冠层表面物质和能量交换的描述提供结构化的定量信息,并在生态系统碳积累、植被生产力和土壤、植物、大气间相互作用的能量平衡,以及植被遥感等方面起重要作用。
[0003]叶面积指数的测量最直接的做法是将一平米作物全部破坏取回实验室,进行叶面积测量,然后统计总的叶片面积,根据统计结果得到叶面积指数,但这种方法对于有些作物比较困难。鉴于此,现有技术中提供了一些间接测定方法及相应的测量仪器,比如基于遥感图像(通过遥感图像数据建立模型来计算叶面积指数)的方法、基于辐射测量的方法(通过测量辐射透过率来计算叶面积指数。无论是基于遥感图像还是基于辐射测量的方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种地表植被参数监测装置,其特征在于,所述装置包括:数据采集器,分别与所述数据采集器连接的多个激光雷达、存储器,为所述数据采集器供电的电源模块;所述数据采集器及所述电源模块设置在机箱内,所述机箱以可拆卸方式安装在具有一定高度的支架上,所述支架固定在植被监测区域的地面上;所述激光雷达,用于持续对地表目标植被进行点云扫描;所述数据采集器,用于获取各激光雷达输出的点云数据,并将所述点云数据保存到所述存储器。2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述激光雷达以可拆卸方式安装在所述支架上,并与所述数据采集器通过数据线连接;或者所述激光雷达以可拆卸方式安装在远离所述支架的支撑物上,并与所述数据采集器无线连接。3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:一个或多个与所述数据采集器连接的多光谱相机,用于按照设定时间间隔采集地表目标植被的不同光谱带的图像;所述数据采集器还用于获取所述多光谱相机输出的图像数据,并将所述图像数据保存到所述存储器。4.一种地表植被参数监测系统,其特征在于,所述系统包括:权利要求1至2任一项所述的地表植被参数监测装置、以及与所述地表植被参数监测装置通过无线通信网络连接的远程数据处理设备;所述地表植被参数监测装置将获取的点云数据定时上传给所述远程数据处理设备;所述远程数据处理设备根据所述点云数据生成对应的云图,并计算得到地表植被参数。5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:姚永军覃小林陈成
申请(专利权)人:北京华益瑞科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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