一种MT-FA产品的测试方法技术

本发明专利技术提供一种MT-FA产品的测试方法，包括以下步骤：1）将将PD探头与功率计连接，光源、摇偏仪和光开关依次连接，MT-FA产品的装夹夹具设置在PD探头前方；2）将MT测试头置入到PD探头的测试位置内，利用PD探头对MT测试头做归零处理；3）取出MT测试头，将MT测试头对接待测试MT-FA产品中MT接头；4）将待测试MT-FA产品置入装夹夹具中，待测试MT-FA产品中FA光纤阵列朝向PD探头；5）移动夹具，使得夹具带动待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入到PD探头的测试位置；6）打开光开关，PD探头接受光信号，然后测试MT-FA产品损耗。与现有技术相比，该检测方法将MT-FA产品装夹在夹具上，再由夹具带动MT-FA产品移动至PD探头测试位置进行检测，提高测试效率，测试后产品外观没有损伤。测试后产品外观没有损伤。测试后产品外观没有损伤。

【技术实现步骤摘要】
一种MT-FA产品的测试方法


[0001]本专利技术涉及光学模块线缆产品领域，特别是一种MT-FA产品的测试方法。

技术介绍

[0002]MT-FA是并行光模块最核心的光器件，通过将光纤阵列研磨成45
°
反射镜实现光信号的90
°
转角，因体积小，可靠性高，可实现高密度大通道，并能在宽温度环境下稳定工作等特点，被应用于各种并行光传输领域，如：QSFP、AOC、HDMI等多种产品。MT是指多芯插芯连接头，FA是指光纤阵列的光器件。
[0003]现有对MT-FA产品的测试方法是把MT-FA产品中的FA插到PD探头的插头上，插头是塑胶材质，插入和取出不方便，容易造成光纤阵列（FA）表面划伤。PD是指光功率计测试探头。

技术实现思路

[0004]针对上述问题，本专利技术提供了一种MT-FA产品的测试方法，对MT-FA产品进行测试，效率提高，并且避免MT-FA产品外观出现损伤。
[0005]本专利技术采用的技术方案为：一种MT-FA产品的测试方法，包括以下步骤：1）将PD探头与功率计连接，光源、摇偏仪和光开关依次连接， MT-FA产品的装夹夹具设置在PD探头前方；2）将MT测试头置入到PD探头的测试位置内，利用PD探头对MT测试头做归零处理；3）取出MT测试头，将MT测试头对接待测试MT-FA产品中MT接头；4）将待测试MT-FA产品置入装夹夹具中，待测试MT-FA产品中FA光纤阵列朝向PD探头；5）移动夹具，使得夹具带动待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入到PD探头的测试位置；6）打开光开关，PD探头接受光信号，然后测试MT-FA产品损耗。
[0006]优选地，步骤1）中装夹夹具包括基座以及在基座上滑动的滑块，基座上设有用于供滑块滑动的滑轨，滑块上设有用于安放MT-FA产品的安放槽，基座设置在PD探头的表面，PD探头上设有插入槽。
[0007]优选地，步骤5）中沿滑轨移动滑块，滑块移动至滑轨一端时，滑块上待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入PD探头的插入槽内。
[0008]优选地，步骤5）中所述滑块铰接有用于固定安放槽内MT-FA产品的定位板。
[0009]与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于：本专利技术提供一种MT-FA产品检测方法，将MT-FA产品装夹在夹具上，再由夹具带动MT-FA产品移动至PD探头测试位置进行检测，可以提高测试效率，并且测试后的产品FA光纤阵列的外观没有损伤。
附图说明
[0010]图1，为本专利技术提供的一种MT-FA产品的测试方法中MT-FA产品进行测试的示意图；图2，为本专利技术提供的一种MT-FA产品的测试方法中对MT测试头归零的原理示意图；图3，为本专利技术提供的一种MT-FA产品的测试方法中对MT-FA产品测试的原理示意图。
具体实施方式
[0011]根据附图对本专利技术提供的优选实施方式做具体说明。
[0012]图1，为本专利技术提供的一种MT-FA产品的测试方法中MT-FA产品进行测试的示意图。该MT-FA产品的测试方法，具体包括以下步骤：1）将PD探头10与功率计60连接，光源30、摇偏仪50和光开关40依次连接，装夹夹具20设置在PD探头前方；2）将MT测试头200置入到PD探头10的测试位置内，利用PD探头10对MT测试头做归零处理，如图2所示；3）取出MT测试头200，将MT测试头200对接待测试MT-FA产品100中MT接头101；4）将待测试MT-FA产品100置入装夹夹具20中，待测试MT-FA产品100中FA光纤阵列102朝向PD探头；5）移动装夹夹具20，使得夹具上待测试产品MT-FA产品100中FA光纤阵列102置入到PD探头10的测试位置，如图3所示；6）打开光开关，PD探头10接受光信号，然后测试MT-FA产品损耗。
[0013]步骤1）中装夹夹具20包括基座21以及在基座上滑动的滑块22，基座21上设有用于供滑块滑动的滑轨211，滑块22上设有用于安放MT-FA产品的安放槽221，基座21设置在PD探头10的表面，PD探头10上设有插入槽。
[0014]步骤5）中沿滑轨移动滑块，滑块移动至滑轨一端时，滑块带动待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入PD探头的插入槽内。
[0015]步骤5）中所述滑块22铰接有用于固定安放槽内MT-FA产品的定位板222，由于MT-FA产品形状的不规则形，可利用定位板222对安放槽221内MT-FA产品进行定位，避免在进行检测过程中出现移位现象。
[0016]综上所述，本专利技术的技术方案可以充分有效的实现上述专利技术目的，且本专利技术的结构及功能原理都已经在实施例中得到充分的验证，能达到预期的功效及目的，在不背离本专利技术的原理和实质的前提下，可以对专利技术的实施例做出多种变更或修改。因此，本专利技术包括一切在专利申请范围中所提到范围内的所有替换内容，任何在本专利技术申请专利范围内所作的等效变化，皆属本案申请的专利范围之内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MT-FA产品的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：1）将PD探头与功率计连接，光源、摇偏仪和光开关依次连接， MT-FA产品的装夹夹具设置在PD探头前方；2）将MT测试头置入到PD探头的测试位置内，利用PD探头对MT测试头做归零处理；3）取出MT测试头，将MT测试头对接待测试MT-FA产品中MT接头；4）将待测试MT-FA产品置入装夹夹具中，待测试MT-FA产品中FA光纤阵列朝向PD探头；5）移动夹具，使得夹具带动待测试产品MT-FA产品中FA光纤阵列置入到PD探头的测试位置；6）打开光开关，PD探头接受光信号，然后测试MT-FA产品损耗...

【专利技术属性】
技术研发人员：李飞，刘武，范臣臣，张海泉，
申请(专利权)人：北极光电深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：