激光器测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种激光器测试系统，其包括：PIV测试单元、光谱测试单元和激光器安装单元，其中，所述激光器安装单元至少用于固定被测激光器；所述PIV测试单元与被测激光器电连接，并能够向所述被测激光器提供电流而使被测激光器发光；以及，所述PIV测试单元还能够接收所述激光器发出的光并获得所述光的发光功率和电压；所述光谱测试单元与被测激光器连接，并能够接收被测激光器发出的光并获得所述光的发光光谱。本实用新型专利技术提供的激光器测试系统，可以同时测试并获得DFB激光器的光谱和PIV光学参数，而不需要繁琐复杂的切换，大大节约了测试成本。了测试成本。了测试成本。

【技术实现步骤摘要】
激光器测试系统


[0001]本技术涉及一种测试系统，特别涉及一种激光器测试系统，属于半导体测试


技术介绍

[0002]半导体激光器具有体积小、重量轻、电光转换效率高、性能稳定、可靠性高和寿命长等优点，已经成为光电行业中最有发展前途的领域，可广泛应用于通信、计算机(主要是数据存储和输入输出设备)、影视、制造业、航天、航空、材料处理、医疗、娱乐、科研、安全防护、军事、反恐、工艺品、显示和印刷等行业。
[0003]光纤通信的问世，使高速率、大容量的通信成为可能，目前已经成为最主要的信息传输技术。分布反馈式半导体激光器(Distributed Feedback Semiconductor Laser，DFB)具有体积小、效率高、重量轻等优点，是光纤通信的主要光源，对半导体激光器的性能参数进行测试和表征是深刻理解激光器特性的关键，同时也是判断激光器好坏的重要依据；只有这样才能正确的使用激光器并延长其寿命。因此，研究并开发测试功能齐全的半导体激光器特性测试系统具有非常重要的现实意义。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光器测试系统，其特征在于包括：PIV测试单元、光谱测试单元和激光器安装单元，其中，所述激光器安装单元至少用于固定被测激光器；所述PIV测试单元与被测激光器电连接，并能够向所述被测激光器提供电流而使被测激光器发光；以及，所述PIV测试单元还能够接收所述激光器发出的光并获得所述光的发光功率和电压；所述光谱测试单元与被测激光器连接，并能够接收被测激光器发出的光并获得所述光的发光光谱。2.根据权利要求1所述的激光器测试系统，其特征在于：所述PIV测试单元包括控制器、数字源表、功率计和探测器，其中，所述控制器分别与所述功率计、数字源表连接，所述数字源表还能够与被测激光器电连接，所述功率计还与所述探测器连接，所述探测器能够接收被测激光器所发出的光。3.根据权利要求2所述的激光器测试系统，其特征在于：所述光谱测试单元通过光纤与被测激光器连接，被测激光器发出的光通过光纤被传输到光谱测试单元。4.根据权利要求3所述的激光器测试系统，其特征在于：所述被测激光器的出光口...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄寓洋，
申请(专利权)人：苏州苏纳光电有限公司，
类型：新型
国别省市：