一种纳米晶带材综合检测装置制造方法及图纸

技术编号:28037906 阅读:25 留言:0更新日期:2021-04-09 23:20
本实用新型专利技术提供一种纳米晶带材综合检测装置,包括限位滑块、滚珠丝杆、右撑板、可调板、蝶形螺丝、定位压片、防滑胶皮以及右滑动座,操作台上端面左侧贴合有可调板,可调板下端面左右两侧对称焊接有限位滑块,可调板上端面右侧贴合有右撑板,蝶形螺丝下侧安装有定位压片,定位压片下端面粘贴有防滑胶皮,右撑板下端面中间位置焊接有右滑动座,可调板内部上侧安装有滚珠丝杆,该设计解决了原有检测装置在对纳米晶带材进行检测时,纳米晶带材容易松弛的问题,本实用新型专利技术结构合理,具备左右移动拽拉能力,便于使用,实用性强。

【技术实现步骤摘要】
一种纳米晶带材综合检测装置
本技术是一种纳米晶带材综合检测装置,属于纳米晶带材检测

技术介绍
纳米晶带材由于具有独特的物理和化学性质,近年来受到极大关注,广泛应用于光学、催化、生物医药等领域。纳米晶带材在生产制造过程中,需要对表面光滑度、厚度等进行测试调整,从而保证带材的品质。而随着科技的发展,现有的检测装置大多采用场发射扫描电子显微镜对纳米晶带材进行抽样检测,但现有的场发射扫描电子显微镜不具备拉扯定型结构,在对纳米晶带材进行检测时,由于纳米晶带材松散,导致检测结果不够准确,在实用性方面有待提高,现在急需一种纳米晶带材综合检测装置来解决上述出现的问题。
技术实现思路
针对现有技术存在的不足,本技术目的是提供一种纳米晶带材综合检测装置,以解决上述
技术介绍
中提出的问题,本技术结构合理,具备左右移动拽拉能力,便于使用,实用性强。为了实现上述目的,本技术是通过如下的技术方案来实现:一种纳米晶带材综合检测装置,包括场发射扫描电子显微镜主体、纳米晶带材、拉扯定型机构、操作台以及支撑腿,所述操作台下端面左右两侧对称焊接有支撑腿,所述操作台上端面装配有场发射扫描电子显微镜主体,所述操作台上侧设置有拉扯定型机构,所述操作台上侧固定有纳米晶带材,所述拉扯定型机构包括限位滑块、滚珠丝杆、右撑板、左撑板、可调板、蝶形螺丝、夹持座、定位压片、防滑胶皮以及右滑动座,所述操作台上端面左侧贴合有可调板,所述可调板下端面左右两侧对称焊接有限位滑块,所述可调板上端面右侧贴合有右撑板,所述右撑板左端面上侧焊接有夹持座,所述夹持座上端面中间位置啮合有蝶形螺丝,所述蝶形螺丝下侧安装有定位压片,所述定位压片下端面粘贴有防滑胶皮,所述右撑板下端面中间位置焊接有右滑动座,所述可调板上端面左侧贴合有左撑板,所述可调板内部上侧安装有滚珠丝杆。进一步地,所述滚珠丝杆左端面焊接有转盘,所述滚珠丝杆环形侧面左侧设有第一外螺纹,所述滚珠丝杆环形侧面右侧设有第二外螺纹,且第二外螺纹与第一外螺纹螺纹旋转方向相反,所述滚珠丝杆环形侧面左侧卡装有稳定轴承,所述滚珠丝杆环形侧面右侧卡套有防脱轴套。进一步地,所述左撑板下端面中间位置焊接有左滑动座,所述左滑动座内部下侧设有第一内螺纹,且第一内螺纹与第一外螺纹相啮合,所述右滑动座内部下侧设有第二内螺纹,且第二内螺纹与第二外螺纹相啮合。进一步地,所述可调板上端面中间位置开设有限位凹槽,且限位凹槽与左滑动座和右滑动座相匹配。进一步地,所述蝶形螺丝啮合有两组,且两组蝶形螺丝规格相同,两组所述蝶形螺丝下端面均焊接有连接片,所述定位压片安装有两组,且两组定位压片规格相同,两组所述定位压片上端面中间位置均开设有圆形凹槽,且圆形凹槽与连接片相匹配。进一步地,所述夹持座焊接有两组,且两组夹持座规格相同,所述防滑胶皮粘接有两组,且两组防滑胶皮规格相同,所述操作台上端面左侧开设有限位滑槽,且限位滑槽与限位滑块相匹配。本技术的有益效果:本技术的一种纳米晶带材综合检测装置,因本技术添加了限位滑块、滚珠丝杆、右撑板、左撑板、可调板、蝶形螺丝、夹持座、定位压片、防滑胶皮以及右滑动座,该设计方便对纳米晶带材进行拽拉定型,避免纳米晶带材在检测过程中出现松弛情况,解决了原有检测装置在对纳米晶带材进行检测时,纳米晶带材容易松弛的问题,提高了本技术的拉扯定型效果。因左撑板下端面中间位置焊接有左滑动座,左滑动座内部下侧设有第一内螺纹,且第一内螺纹与第一外螺纹相啮合,右滑动座内部下侧设有第二内螺纹,且第二内螺纹与第二外螺纹相啮合,该设计在滚珠丝杆转动时,左滑动座和右滑动座会同步异向移动,因可调板上端面中间位置开设有限位凹槽,且限位凹槽与左滑动座和右滑动座相匹配,限位凹槽避免左滑动座和右滑动座在左右移动时出现偏移情况,本技术结构合理,具备左右移动拽拉能力,便于使用,实用性强。附图说明通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述,本技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显:图1为本技术一种纳米晶带材综合检测装置的结构示意图;图2为本技术一种纳米晶带材综合检测装置中拉扯定型机构的正视剖面图;图3为图2中A的放大图;图中:1-场发射扫描电子显微镜主体、2-纳米晶带材、3-拉扯定型机构、4-操作台、5-支撑腿、31-限位滑块、32-滚珠丝杆、33-右撑板、34-左撑板、35-可调板、36-蝶形螺丝、37-夹持座、38-定位压片、39-防滑胶皮、311-右滑动座、321-转盘、341-左滑动座、351-限位凹槽、361-连接片。具体实施方式为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本技术。请参阅图1-图3,本技术提供一种技术方案:一种纳米晶带材综合检测装置,包括场发射扫描电子显微镜主体1、纳米晶带材2、拉扯定型机构3、操作台4以及支撑腿5,操作台4下端面左右两侧对称焊接有支撑腿5,操作台4上端面装配有场发射扫描电子显微镜主体1,操作台4上侧设置有拉扯定型机构3,操作台4上侧固定有纳米晶带材2。拉扯定型机构3包括限位滑块31、滚珠丝杆32、右撑板33、左撑板34、可调板35、蝶形螺丝36、夹持座37、定位压片38、防滑胶皮39以及右滑动座311,操作台4上端面左侧贴合有可调板35,可调板35下端面左右两侧对称焊接有限位滑块31,可调板35上端面右侧贴合有右撑板33,右撑板33左端面上侧焊接有夹持座37,夹持座37上端面中间位置啮合有蝶形螺丝36,蝶形螺丝36下侧安装有定位压片38,定位压片38下端面粘贴有防滑胶皮39,右撑板33下端面中间位置焊接有右滑动座311,可调板35上端面左侧贴合有左撑板34,可调板35内部上侧安装有滚珠丝杆32,该设计解决了原有检测装置在对纳米晶带材进行检测时,纳米晶带材容易松弛的问题。滚珠丝杆32左端面焊接有转盘321,滚珠丝杆32环形侧面左侧设有第一外螺纹,滚珠丝杆32环形侧面右侧设有第二外螺纹,且第二外螺纹与第一外螺纹螺纹旋转方向相反,滚珠丝杆32环形侧面左侧卡装有稳定轴承,滚珠丝杆32环形侧面右侧卡套有防脱轴套,第一外螺纹和第二外螺纹方便滚珠丝杆32对左滑动座341和右滑动座311进行啮合使其左右移动,稳定轴承使滚珠丝杆32转动稳定性更好,而防脱轴套避免滚珠丝杆32在使用过程中出现脱落情况,左撑板34下端面中间位置焊接有左滑动座341,左滑动座341内部下侧设有第一内螺纹,且第一内螺纹与第一外螺纹相啮合,右滑动座311内部下侧设有第二内螺纹,且第二内螺纹与第二外螺纹相啮合,该设计在滚珠丝杆32转动时,左滑动座341和右滑动座311会同步异向移动,可调板35上端面中间位置开设有限位凹槽351,且限位凹槽351与左滑动座341和右滑动座311相匹配,限位凹槽351避免左滑动座341和右滑动座311在左右移动时出现偏移情况。蝶形螺丝36啮合有两组,且两组蝶形螺丝36规格相同,本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种纳米晶带材综合检测装置,包括场发射扫描电子显微镜主体、纳米晶带材、拉扯定型机构、操作台以及支撑腿,其特征在于:所述操作台下端面左右两侧对称焊接有支撑腿,所述操作台上端面装配有场发射扫描电子显微镜主体,所述操作台上侧设置有拉扯定型机构,所述操作台上侧固定有纳米晶带材;/n所述拉扯定型机构包括限位滑块、滚珠丝杆、右撑板、左撑板、可调板、蝶形螺丝、夹持座、定位压片、防滑胶皮以及右滑动座,所述操作台上端面左侧贴合有可调板,所述可调板下端面左右两侧对称焊接有限位滑块,所述可调板上端面右侧贴合有右撑板,所述右撑板左端面上侧焊接有夹持座,所述夹持座上端面中间位置啮合有蝶形螺丝,所述蝶形螺丝下侧安装有定位压片,所述定位压片下端面粘贴有防滑胶皮,所述右撑板下端面中间位置焊接有右滑动座,所述可调板上端面左侧贴合有左撑板,所述可调板内部上侧安装有滚珠丝杆。/n

【技术特征摘要】
1.一种纳米晶带材综合检测装置,包括场发射扫描电子显微镜主体、纳米晶带材、拉扯定型机构、操作台以及支撑腿,其特征在于:所述操作台下端面左右两侧对称焊接有支撑腿,所述操作台上端面装配有场发射扫描电子显微镜主体,所述操作台上侧设置有拉扯定型机构,所述操作台上侧固定有纳米晶带材;
所述拉扯定型机构包括限位滑块、滚珠丝杆、右撑板、左撑板、可调板、蝶形螺丝、夹持座、定位压片、防滑胶皮以及右滑动座,所述操作台上端面左侧贴合有可调板,所述可调板下端面左右两侧对称焊接有限位滑块,所述可调板上端面右侧贴合有右撑板,所述右撑板左端面上侧焊接有夹持座,所述夹持座上端面中间位置啮合有蝶形螺丝,所述蝶形螺丝下侧安装有定位压片,所述定位压片下端面粘贴有防滑胶皮,所述右撑板下端面中间位置焊接有右滑动座,所述可调板上端面左侧贴合有左撑板,所述可调板内部上侧安装有滚珠丝杆。


2.根据权利要求1所述的一种纳米晶带材综合检测装置,其特征在于:所述滚珠丝杆左端面焊接有转盘,所述滚珠丝杆环形侧面左侧设有第一外螺纹,所述滚珠丝杆环形侧面右侧设有第二外螺纹,且第二外螺纹与第一外螺纹螺纹旋转方向相反,所述滚珠丝杆环形侧面左侧卡...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨水华邱菊
申请(专利权)人:南通华禄新材料科技有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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