一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案制造技术

本发明专利技术公开了一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，治具分为通用测试夹具、DUT Cartridge和probe面板，原理是在一个屏蔽箱内放置一个通用测试夹具，夹具包含控制板的信号通过PCB转接板的转接针引出提供了一個通用的界面，DUT Cartridge可以通过这个界面将需要的电信号接至DUT进行测试，DUT Cartridge上盖对于一些需要测试射频接口的部分进行避位开窗通过RF Probe连接接触，RF Probe固定在Probe面板上，Probe面板上的RF Probe通过RF Cable连接至屏蔽箱的射频接口，屏蔽箱的射频输出接口连接至射频仪器，以上根据DUT的不同和射频接口的不同只需要更换特定的DUT Cartridge和Probe面板即可，屏蔽箱和通用夹具不需要更换，本发明专利技术具有成本低，可靠性高，产线维护容易，体积小，无污染，适用范围广等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案
本专利技术涉及主板测试相关
，具体为一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案。
技术介绍
测试治具属于治具下面的一个类别，专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。因其主要在生产线上用于产品的各项指标的测试，所以叫测试治具。传统的主板测试治具体积大，占用一定的空间，不方便进行搬运，并且不可重复利用，而且对于主板性能的测试效率比较低，平时需要技术人员定期的对治具进行维护，维护工作量较大，占用人力，并且治具的成本也非常的高。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有的问题，提供一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，解决了上述
技术介绍
中提出的问题，提供了一种更高效，更可靠，低成本，体积小，可重复利用，方便维护，低噪音，无污染的通用射频测试治具方案。本专利技术为实现上述技术目的所采用的技术方案为：一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，包括通用测试夹具、DUTCartridge和probe面板，在一个屏蔽箱内放置一个通用测试夹具，夹具包含控制板的信号通过PCB转接板的转接针引出提供了一個通用的界面，DUTCartridge可以通过这个界面将需要的电信号接至DUT进行测试，DUT测试射频信号需要将DUTCartridge射频接口位置的上盖开窗进行连接RFProbe，RFProbe需要固定在Probe面板上，Probe面板上的RFProbe通过RFCable连接至屏蔽箱的射频接口，屏蔽箱的射频输出接口连接至射频仪器。优选的，所述DUTCartridge内部采用冷却气流槽设计，DUT不会过温，保证DUT的测试稳定性。优选的，屏蔽箱和夹具为通用设备，根据DUT的不同或者DUT射频接口的不同只需要更换DUTCartridge或者Probe面板即可。优选的，模块化所述DUTCartridge与DUT之间信号的转接是通过转接针的方式进行转接。优选的，所述probe面板上安装有Rfprobe，并且Rfprobe独立固定在夹具上框架。优选的，所述夹具的气缸在压合时，通过上下框架模组之间的导向柱进行对位连接。本专利技术的有益效果为：1.可替换DUTCartridge和Probe面板，模块化DUTCartridge通过转接针将信号转接至DUT。RfProbe安装于Probe面板上，独立固定在夹具上框架，夹具气缸压合时通过上下框架模组之间的导向柱进行对位连接。使得DUT与DUTCartridge转接针、RfProbe有效连接测试。2.可替换DUTCartridge和Probe面板的设计变的简易；对于DUT的更新变动，设计人员仅需要考虑设计DUTCartridge和Probe面板，节约设计时间,降低成本。3.根据DUT的不同和射频接口的不同只需要更换特定的DUTCartridge和Probe面板即可，屏蔽箱和通用夹具不需要更换，可操作性高，节约成本。附图说明图1为本专利技术工作原理示意图；图2为本专利技术结构示意图；图3为本专利技术可拆换模组示意图；图4为本专利技术Probe面板固定示意图；图5为本专利技术DUTCartridge结构示意图；图6为本专利技术冷却气流槽设计示意图；1-控制板、2-转接PCB、3-导向柱、4-转接针模组、5-进出气缸、6-夹具上框架、7-Probe固定架、8-Probe面板、9-RFProbe、10-DUTCartridge、11-导柱、12-夹具下框架、13-屏蔽箱、14-通用夹具、15-DUT、16-DUT载板、17-气流槽、18-风冷吹气接口、19-Probe面板固定板。具体实施方式为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。在本申请的描述中，需要说明的是，术语“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该申请产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本申请的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，包括通用测试夹具、DUTCartridge和probe面板，在一个屏蔽箱内放置一个通用测试夹具，夹具包含控制板的信号通过PCB转接板的转接针引出提供了一個通用的界面，DUTCartridge可以通过这个界面将需要的电信号接至DUT进行测试，DUT测试射频信号需要将DUTCartridge射频接口位置的上盖开窗进行连接RFProbe，RFProbe需要固定在Probe面板上，Probe面板上的RFProbe通过RFCable连接至屏蔽箱的射频接口，屏蔽箱的射频输出接口连接至射频仪器。DUTCartridge内部采用冷却气流槽设计，DUT不会过温，保证DUT的测试稳定性，屏蔽箱和夹具为通用设备，根据DUT的不同或者DUT射频接口的不同只需要更换DUTCartridge或者Probe面板即可，模块化所述DUTCartridge与DUT之间信号的转接是通过转接针的方式进行转接，所述probe面板上安装有Rfprobe，并且Rfprobe独立固定在夹具上框架，夹具的气缸在压合时，通过上下框架模组之间的导向柱进行对位连接。工作原理：在一个屏蔽箱内放置一个通用测试夹具，夹具包含控制板的信号通过PCB转接板的转接针引出提供了一個通用的界面，DUTCartridge可以通过这个界面将需要的电信号接至DUT进行测试。DUTCartridge上盖对于一些需要测试射频接口的部分进行避位开窗通过RFProbe连接接触。RFProbe固定在Probe面板上，Probe面板上的RFProbe通过RFCable连接至屏蔽箱的射频接口，屏蔽箱的射频输出接口连接至射频仪器，以上根据DUT本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，其特征在于：包括通用测试夹具、DUT Cartridge和probe面板，在一个屏蔽箱内放置一个通用测试夹具，夹具包含控制板的信号通过PCB转接板的转接针引出提供了一個通用的界面，DUT Cartridge可以通过这个界面将需要的电信号接至DUT进行测试，DUT测试射频信号需要将DUT Cartridge射频接口位置的上盖开窗进行连接RF Probe，RF Probe需要固定在Probe面板上，Probe面板上的RFProbe通过RF Cable连接至屏蔽箱的射频接口，屏蔽箱的射频输出接口连接至射频仪器。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，其特征在于：包括通用测试夹具、DUTCartridge和probe面板，在一个屏蔽箱内放置一个通用测试夹具，夹具包含控制板的信号通过PCB转接板的转接针引出提供了一個通用的界面，DUTCartridge可以通过这个界面将需要的电信号接至DUT进行测试，DUT测试射频信号需要将DUTCartridge射频接口位置的上盖开窗进行连接RFProbe，RFProbe需要固定在Probe面板上，Probe面板上的RFProbe通过RFCable连接至屏蔽箱的射频接口，屏蔽箱的射频输出接口连接至射频仪器。


2.根据权利要求1所述的一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，其特征在于：所述DUTCartridge内部采用冷却气流槽设计，DUT不会过温，保证DUT的测试稳定性。

【专利技术属性】
技术研发人员：徐欢夏，魏善磊，徐伟，
申请(专利权)人：江苏联康信息股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32