【技术实现步骤摘要】
探针卡
本专利技术涉及一种对形成在晶片的图案进行检查的探针卡。
技术介绍
半导体元件的电特性试验是以如下方式执行:将半导体晶片靠近在配线基板上形成有多个探针的探针卡而使各探针与半导体晶片上的对应的电极垫接触。在探针到达与电极垫接触的位置后,可使半导体晶片进一步向探针卡侧上升特定高度。将如上所述的过程称为过压,将晶片进一步上升特定高度的距离称为过压量。过压可为使探针弹性变形的过程。即便电极垫的高度或探针的高度因过压而存在偏差,也能够使所有探针确实地与电极垫接触。另外,在过压时,探针发生弹性变形,与电极垫接触之侧的探针的一端在电极垫上移动而实现擦洗。通过这种擦洗,可去除电极垫表面的氧化膜,减少接触阻力。最近,随着半导体元件微小化,半导体元件的电极呈现出微细化及窄间距化的趋势,而且还要求探针卡的探针变细。探针卡可具备探针卡用导板。探针卡用导板可支撑探针而使探针的位置准确地定位。因此,随着探针微细化且窄间距化,还要求探针卡用导板的贯通孔微细化且窄间距化。以往,使用包含陶瓷材质的探针卡用导板。陶瓷材质的机械强度较高,可具有与晶片相似的热膨胀系数。陶瓷材质的探针卡用导板主要利用机械加工方法形成贯通孔。具体而言,陶瓷材质的探针卡用导板是利用钻或激光来形成贯通孔。然而,在利用机械加工方法加工贯通孔的情况下,会难以实现最近在半导体技术中所要求的微细化及窄间距化。利用钻或激光的加工方法需考虑机械误差来加工贯通孔,因此贯通孔的微细化及窄间距化存在极限。另外,在机械加工方法的情况下,为了利用钻或激光形 ...
【技术保护点】
1.一种探针卡,其特征在于,包含:/n第1板;/n第2板,结合到所述第1板的下部;/n上部导引板,设置到所述第1板的上表面;以及/n下部导引板,设置到所述第2板的下表面;且/n所述上部导引板及所述下部导引板中的至少一者包含阳极氧化膜材质,/n所述上部导引板及所述下部导引板的面积小于所述第1板及所述第2板的面积,因此所述第1板及所述第2板的表面露出。/n
【技术特征摘要】
20191004 KR 10-2019-01232701.一种探针卡,其特征在于,包含:
第1板;
第2板,结合到所述第1板的下部;
上部导引板,设置到所述第1板的上表面;以及
下部导引板,设置到所述第2板的下表面;且
所述上部导引板及所述下部导引板中的至少一者包含阳极氧化膜材质,
所述上部导引板及所述下部导引板的面积小于所述第1板及所述第2板的面积,因此所述第1板及所述第2板的表面露出。
2.根据权利要求1所述的探针卡,其特征在于,
在设置在所述第1板的所述上表面的上部安装区域设置有所述上部导引板,
在设置在所述第2板的所述下表面的下部安装区域设置有所述下部导引板。
3.根据权利要求2所述的探针卡,其特征在于,
所述上部安装区域在所述第1板的所述上表面形成为凹槽,
所述下部安装区域在所述第2板的所述下表面构成为凹槽。
4.根据权利要求1所述的探针卡,其特征在于,
包含设置在所述第1板的第1贯通孔、及与所述第1贯通孔对应地设置在所述第2板的第2贯通孔,
在所述第1贯通孔及所述第2贯通孔的内部定位有多个探针。
5.根据权利要求1所述的探针卡,其特征在于,
包含补强板,所述补强板与所述上部导引板及所述下部导引板的至少一面结合。
6.根据权利要求5所述的探针卡,其特征在于,
所述补强板具备供多个探针定位的切割槽。
7.根据权利要求1所述的探针卡,其特征在于,
所述第1板及所述第2板由金属材质制成。
8.根据权利要求1所述的探针卡,其特征在于,
所述第1板及所述第2板由陶瓷材质制成。
9.根据权利要求5所述的探针卡,其特征在于,
所述补强板由Si3N4材质制成。
10.根据权利要求5所述的探针卡,其特征在于,
所述补强板由陶瓷材质制成。
11.根据权利要求1所述的探针卡,其特征在于,
所述上部导引板及所述下部导引板中的至少一者是由多个阳极氧化膜积层而成。
12.一种探针卡,其特征在于,包含:
第1板,具备第1贯通孔;
第2板,结合到所述第1板的下部,具备第2贯通孔;
上部导引板,设置到所述第1板的上表面,具备供探针插入的上部导孔;
下部导引板,设置到所述第2板的下表面,具备供所述探针插入的下部导孔;...
【专利技术属性】
技术研发人员:安范模,朴胜浩,边圣铉,
申请(专利权)人:普因特工程有限公司,
类型:发明
国别省市:韩国;KR
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