轨道电路综合测试仪制造技术

技术编号:27946890 阅读:46 留言:0更新日期:2021-04-02 14:30
本实用新型专利技术涉及轨道电路综合测试仪,包括具有触控屏和若干测试插孔的测试主机和护盖,所述测试主机上部的左右两侧设置有边槽,所述边槽前后贯通所述测试主机且顶部开放,所述边槽的中部转动连接有短臂,所述护盖左右两侧的上部一体连接有短轴,所述短臂的另一端与所述短轴转动连接,所述护盖能够完全遮盖所述触控屏和测试插孔,所述护盖上对应所述测试插孔设置有防尘塞,所述防尘塞在所述护盖盖设在触控屏上时插设在所述测试插孔中;本实用新型专利技术结构简单,安全性高,体积小,便于携带,实用性强;通过设置可翻盖的护盖能够有效的保护触控屏,避免其他物品撞击损坏触控屏。

【技术实现步骤摘要】
轨道电路综合测试仪
本技术属于轨道电路检测
,具体涉及一种轨道电路综合测试仪。
技术介绍
轨道电路综合测试仪是针对铁路部门而研制的多功能专用仪器,适用于电务工区日常检测和维护使用,本仪器具有体积小、精度高、操作简便等特点,能够完成单载频信号测量、多载频测量、单频测量、直流测量、补偿电容在线测量、阻抗在线测量、25Hz、50Hz相敏轨道电路测量、示波器、高压脉冲轨道电路测量、高压脉冲和移频轨道电路叠加测量、数据存储等功能,ME2000H轨道电路综合测试仪是这样一种专利测试仪,其具有触控屏,通过在触控屏上操控实现不同功能的选择;轨道电路综合测试仪由于其较小的体积,因而在携带的时候通常与其他工具、设备一同装袋携带,其他物体可能会刮花触控屏造成屏幕磨损,影响显示和操控。
技术实现思路
本技术的目的是克服现有技术的不足而提供一种可实现对触控屏实现有效防护的轨道电路综合测试仪。本技术的技术方案如下:轨道电路综合测试仪,包括护盖和具有触控屏以及若干测试插孔的测试主机,所述测试主机上部的左右两侧设置有边槽,所述边槽前后贯通所述测试主机且顶部开放,所述边槽的中部转动连接有短臂,所述护盖左右两侧的上部一体连接有短轴,所述短臂的另一端与所述短轴转动连接,所述护盖能够完全遮盖所述触控屏和测试插孔,所述护盖上对应所述测试插孔设置有防尘塞,所述防尘塞在所述护盖盖设在触控屏上时插设在所述测试插孔中。进一步的,所述护盖的内壁上设置有柔性的手带,在所述护盖盖设在触控屏上时,所述手带与触控屏贴合,用于保护触控片;手带的上部设置有硅胶材质的固定块,固定块直接粘接或铆接在所述护盖上,固定块固定手带的两端使手带成圈形。进一步的,所述防尘塞的中部设置有外径大于所述防尘塞直径的定位环,在所述护盖盖设在触控屏上时,所述定位环抵在测试插孔的边沿上。进一步的,所述测试主机的下部向内收缩形成插孔台,所述测试插孔设置在所述插孔台上。进一步的,所述护盖对应所述插孔台的位置处设置有第一孔,所述第一孔内滑动连接有连接柱,所述连接柱背离插孔台的一端设置有卡头,所述测试主机的背面对应所述连接柱的位置设置有卡孔,在所述护盖翻盖至所述测试主机的背侧时,所述连接柱能够插设在所述卡孔中。进一步的,所述护盖对应所述插孔台的位置处设置有至少两个卡爪,所述卡爪上卡设有触控笔。与现有技术相比,本技术的有益效果是:本技术结构简单,安全性高,体积小,便于携带,实用性强;通过设置可翻盖的护盖能够有效的保护触控屏,避免其他物品撞击损坏触控屏,护盖的下部设置有防尘塞,在阻挡灰尘进入测试插孔的同时还具有对护盖定位的作用,确保护盖翻至正面后能够长久稳定的盖设在触控屏上,避免在轨道电路综合测试仪装包移动的时候护盖意外打开,造成触控屏裸露。附图说明图1为本技术实施例的主视结构示意图。图2为本技术实施例的护盖盖设在触控屏上时的结构示意图。图3为本技术实施例的护盖翻盖至测试主机的背侧时的结构示意图。图中,短轴(1)、圆轴(2)、短臂(3)、边槽(4)、固定块(5)、测试主机(6)、手带(7)、触控屏(8)、护盖(9)、卡爪(10)、触控笔(11)、测试插孔(12)、防尘塞(13)、插孔台(14)、第一孔(16)、卡头(17)、连接柱(18)、卡孔(19)、卡凸(20)、定位环(21)。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。如图1至图3所示,轨道电路综合测试仪,包括护盖9和具有触控屏8以及若干测试插孔12的测试主机6,测试主机6可采用
技术介绍
中的ME2000H轨道电路综合测试仪即可,测试主机6上部的左右两侧设置有边槽4,边槽4前后贯通测试主机6且顶部开放,即边槽4仅剩余有两个侧面,分别为一底面和竖侧面;边槽4的中部通过圆轴2转动连接有短臂3,护盖9左右两侧的上部一体连接有短轴1,短臂3的另一端与短轴1转动连接,即护盖9通过短轴1铰接在短臂3上,护盖9能够完全遮盖触控屏8和测试插孔12,短臂3在边槽4竖侧面上的铰接点在边槽4的中线上,从而护盖9能够在向前翻盖在触控屏8上,也能够向后翻盖在测试主机6的背面;当然,所述测试主机6的顶部形状还需不妨碍短臂3的转动;护盖9上对应测试插孔12设置有防尘塞13,防尘塞13的固定端粘设在护盖9上或嵌设在护盖9上或铆接在护盖9上,防尘塞13在护盖9盖设在触控屏8上时插设在测试插孔12中,防尘塞13在防止测试插孔12进灰的同时也固定了护盖9的位置;护盖9采用塑料材质为佳,也可采用铝板等金属材质;防尘塞13采用现有技术中的硅胶、橡胶、泡棉、聚氨酯等具有一定形状同时可形变的材料制成,优选的,防尘塞13的自由端设置有圆角或倒角以便于防尘塞13进入测试插孔12。进一步的,如图1至图3所示,护盖9的内壁上设置有柔性的手带7,在护盖9盖设在触控屏8上时,手带7与触控屏8贴合作为对触控屏8的保护;手带7的上部设置有硅胶材质的固定块5,固定块5直接粘接或铆接在护盖9上,固定块5固定手带7的两端使手带7成圈形;在护盖9翻盖至测试主机6背面的时候,手带7外翻,工作人员可以将几个手指穿在手带7中,便于测试主机6的把持;手袋采用棉质、尼龙、皮革等布匹材料,也可用于擦拭触控屏8的表面。进一步的,如图2至图3所示,防尘塞13的中部设置有外径大于防尘塞13直径的定位环21,在护盖9盖设在触控屏8上时,定位环21抵在测试插孔12的边沿上,限定防尘塞13的插入深度,定位环21与防尘塞13一体成型。进一步的,如图1至图3所示,测试主机6的下部向内收缩形成插孔台14,测试插孔12设置在插孔台14上;护盖9对应插孔台14的位置处设置有第一孔16,第一孔16内滑动连接有连接柱18,连接柱18背离插孔台14的一端设置有卡头17,测试主机6的背面对应连接柱18的位置设置有卡孔19,在护盖9翻盖至测试主机6的背侧时,连接柱18能够插设在卡孔19中,从而能够将护盖9临时固定在了测试主机6的背侧,卡孔19的边沿内侧突出设置有卡凸20,卡头17与卡孔19卡扣连接或插接。进一步的,如图1至图3所示,护盖9对应插孔台14的位置处设置有至少两个卡爪10,卡爪10上卡设有触控笔11,触控笔11便于工作人员操作触控屏8;触控笔11设置在护盖9上便于工作人员的拿取,也无需另外携带或在测试主机6的外壳上设置触控笔11的放置结构。尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换,凡在本技术的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.轨道电路综合测试仪,包括护盖和具有触控屏以及若干测试插孔的测试主机,其特征在于:所述测试主机上部的左右两侧设置有边槽,所述边槽前后贯通所述测试主机且顶部开放,所述边槽的中部转动连接有短臂,所述护盖左右两侧的上部一体连接有短轴,所述短臂的另一端与所述短轴转动连接,所述护盖能够完全遮盖所述触控屏和测试插孔,所述护盖上对应所述测试插孔设置有防尘塞,所述防尘塞在所述护盖盖设在触控屏上时插设在所述测试插孔中。/n

【技术特征摘要】
1.轨道电路综合测试仪,包括护盖和具有触控屏以及若干测试插孔的测试主机,其特征在于:所述测试主机上部的左右两侧设置有边槽,所述边槽前后贯通所述测试主机且顶部开放,所述边槽的中部转动连接有短臂,所述护盖左右两侧的上部一体连接有短轴,所述短臂的另一端与所述短轴转动连接,所述护盖能够完全遮盖所述触控屏和测试插孔,所述护盖上对应所述测试插孔设置有防尘塞,所述防尘塞在所述护盖盖设在触控屏上时插设在所述测试插孔中。


2.根据权利要求1所述的轨道电路综合测试仪,其特征在于:所述护盖的内壁上设置有柔性的手带,在所述护盖盖设在触控屏上时,所述手带与触控屏贴合。


3.根据权利要求1所述的轨道电路综合测试仪,其特征在于:所述防尘塞的中部设置有外径大于所述防尘塞...

【专利技术属性】
技术研发人员:张兴杰
申请(专利权)人:郑州麦科信电子技术有限公司
类型:新型
国别省市:河南;41

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