一种厚转接板结构及其制造方法技术

本发明专利技术公开一种厚转接板结构，包括第一硅片层，其上设置有第一通孔，第一通孔表面形成有第一金属层；第一重布线层，电连接至第一金属层，其上设置有第一外接焊盘；第二硅片层，其上设置有第二通孔，第二通孔表面形成有第二金属层，第二金属层点连接至第一金属层；第二重布线层，电连接至第二金属层，第一钝化层，覆盖第二重布线层表面及间隙；第三重布线层，电连接至第二重布线层，其上设置有第二外接焊盘；以及设置于第一硅片层与第二硅片层之间的二氧化硅层。

【技术实现步骤摘要】
一种厚转接板结构及其制造方法
本专利技术设计微电子封装技术，特别涉及一种后转接板结构及其制造方法。
技术介绍
在微电子封装
，三维集成系统级封装由于能够解决同样面积内集成更多的晶体管的问题，已成为发展方向。通过转接板做载板或者盖板实现系统级封装的结构既能在架构上将芯片由平面布局改为堆叠式布局，又能集成无源器件或分立元件等系统构建，使得精度、密度增加，性能大大提高，代表着未来射频集成电路技术的发展趋势，在多方面存在极大的优势特性。厚度超过200um的转接板称为厚转接板，相较于传统的薄转接板而言，其厚度更大，因而提高了可靠性。目前，厚转接板的制作主要包括：首先在反面刻深度较深，例如300um左右深度的大孔，然后对大孔孔内进行金属化，在其表面做重布线层RDL和焊盘PAD；随后在正面的对应位置刻深度20um左右的小孔，使其到达大孔的金属层，对小孔孔内进行金属化实现与大孔的互连，再在其表面做RDL布线层和PAD，从而实现正面芯片与反面PCB板的互连。这种方法通过大孔套小孔的方法，解决了直接在厚基板上制作硅深孔TSV所造成的孔径较大的问题，以及孔内金属化时材料消耗大和时间长的问题，降低了成本，但是，这种方法形成的大孔的均匀性较差，使得无缝隙填充困难；而且需要使用焊球实现有源和无源器件与转接板互连，互连可靠度低，并增加了互联后的厚度。
技术实现思路
针对现有技术中的部分或全部问题，本专利技术一方面提供一种厚转接板结构，包括：第一硅片层，包括：至少一个第一通孔，所述第一通孔表面设置有第一金属层；以及第一重布线层，其布置于所述第一硅片层的表面，包括第一外接焊盘，所述第一重布线层电连接至所述第一金属层；第二硅片层，包括：至少一个第二通孔，所述第二通孔位置与所述第一通孔相对应，所述第二通孔表面设置有第二金属层，所述第二金属层与所述第一金属层电连接；第二重布线层，其设置于所述第二硅片层的表面，所述第二重布线层电连接至所述第二金属层；第一钝化层，其设置于所述第二重布线层的表面及间隙；以及第三重布线层，包括第二外接焊盘，所述第三重布线层设置于所述第一钝化层表面，且电连接与至述第二重布线层；以及二氧化硅层，其位于所述第一硅片层及所述第二硅片层的中间。进一步地，所述厚转接板的厚度大于200um，且所述第一硅片层的厚度大于所述第二硅片层。进一步地，所述第一通孔的孔径与所述第一硅片层的厚度成正比，以及所述第二通孔与所述第二硅片层的厚度成正比，比例均为1:10。进一步地，所述第一金属层和/或所述第二金属层和/或第一重布线层和/或第二重布线层和/或第三重布线层的材料为铜、铝、钨或其合金。进一步地，所述第一钝化层的材料为树脂、PI、氧化硅或氮化硅。进一步地，所述厚转接板还包括射频器件和/或功率器件，其布置于所述第二硅片层，电连接至所述第三重布线层。本专利技术另一方面提供一种厚转接板结构的制作方法，包括：在第一硅片层上形成第一通孔，所述第一通孔贯穿所述第一硅片层，停止在所述二氧化硅层上；在所述第一通孔内壁形成第一金属层；在第一硅片层表面形成第一重布线层及第一外接焊盘；在所述第一重布线层表面键合临时转载台；在第二硅片层上与所述第一通孔相对应的位置上，形成第二通孔，所述第二通孔贯穿所述第二硅片层以及所述二氧化硅层上；在所述第二通孔内壁形成第二金属层；在第二硅片层表面形成第二重布线层、第一钝化层以及第三重布线层及第二外接焊盘；以及去除临时转载台。进一步地，所述制作方法还包括，在所述第二硅片层开槽，并在槽内埋入射频器件和/或功率器件，所述射频器件和/或功率器件电连接至所述第三重布线层和/或第二外接焊盘。本专利技术提供的一种厚转接板结构及其制作方法采用了中间具有硅的热氧化层的基板，使得在通孔刻蚀工艺过程中，硅的刻蚀进度能够自动停在二氧化硅氧化层，使得第一硅片层上大孔的刻蚀均匀性能够得到很好的控制。此外，所述第二硅片层的厚度可根据需要定制，当其厚度足够时，可在所述第二硅片层上开槽，槽的深度可控，因此，可在槽内埋入射频器件或者功率器件，而无需使用焊球进行互连，不仅可以提高布线密度，而且降低了互连后的厚度以及多层转接板堆叠后的厚度，同时由于避免使用焊球进行互连，从而可以提高其互连的可靠性。附图说明为进一步阐明本专利技术的各实施例的以上和其它优点和特征，将参考附图来呈现本专利技术的各实施例的更具体的描述。可以理解，这些附图只描绘本专利技术的典型实施例，因此将不被认为是对其范围的限制。在附图中，为了清楚明了，相同或相应的部件将用相同或类似的标记表示。图1示出本专利技术一个实施例的一种厚转接板结构示意图；图2示出本专利技术一个实施例的一种厚转接板结构的制作方法流程示意图；以及图3a-3h示出根据本专利技术的一个实施例形成一种厚转接板结构的过程剖面示意图。具体实施方式以下的描述中，参考各实施例对本专利技术进行描述。然而，本领域的技术人员将认识到可在没有一个或多个特定细节的情况下或者与其它替换和/或附加方法、材料或组件一起实施各实施例。在其它情形中，未示出或未详细描述公知的结构、材料或操作以免模糊本专利技术的专利技术点。类似地，为了解释的目的，阐述了特定数量、材料和配置，以便提供对本专利技术的实施例的全面理解。然而，本专利技术并不限于这些特定细节。此外，应理解附图中示出的各实施例是说明性表示且不一定按正确比例绘制。在本说明书中，对“一个实施例”或“该实施例”的引用意味着结合该实施例描述的特定特征、结构或特性被包括在本专利技术的至少一个实施例中。在本说明书各处中出现的短语“在一个实施例中”并不一定全部指代同一实施例。需要说明的是，本专利技术的实施例以特定顺序对工艺步骤进行描述，然而这只是为了阐述该具体实施例，而不是限定各步骤的先后顺序。相反，在本专利技术的不同实施例中，可根据工艺的调节来调整各步骤的先后顺序。本专利技术提供的一种厚转接板结构及其制作方法采用了中间具有硅的热氧化层的硅板作为基板，这基于专利技术人的以下洞察：硅的干法刻蚀工艺中常使用六氟化硫SF6和四氟化碳CF4作为刻蚀气体，其使得硅和二氧化硅之间的刻蚀选择比非常高，为1:100，因此，选用中间夹有二氧化硅层的硅片作为基板制作厚转接板，可以使得基板的正反面刻蚀工艺过程中，硅的刻蚀进程自动停在其中间的二氧化硅氧化层，使得反面大孔的刻蚀均匀性能够得到很好地控制。下面结合实施例附图对本专利技术的方案做进一步描述。图1示出本专利技术一个实施例的一种厚转接板结构示意图。如图1所示，一种厚转接板结构，包括第一硅片层101、第一通孔111、第一金属层112、第一重布线层113、第一外接焊盘114、第二硅片层102、第二通孔121、第二金属层122、第二重布线层123、第一钝化层124、第三重布线层125、第二外接焊盘126以及二氧化硅层103。在本专利技术的实施例中，所述厚转接板结构的厚度大于200um，优选为200-400um。其中，所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种厚转接板结构，其特征在于，包括：/n第一硅片层，包括：/n至少一个第一通孔，所述第一通孔表面设置有第一金属层；以及/n第一重布线层，其布置于所述第一硅片层的表面，包括第一外接焊盘，所述第一重布线层电连接至所述第一金属层；/n第二硅片层，包括：/n至少一个第二通孔，所述第二通孔位置与所述第一通孔相对应，所述第二通孔表面设置有第二金属层，所述第二金属层与所述第一金属层电连接；/n第二重布线层，其设置于所述第二硅片层的表面，所述第二重布线层电连接至所述第二金属层；/n第一钝化层，其设置于所述第二重布线层的表面及间隙；以及/n第三重布线层，包括第二外接焊盘，所述第三重布线层设置于所述第一钝化层表面，且电连接与至述第二重布线层；以及/n二氧化硅层，其位于所述第一硅片层及所述第二硅片层质中间。/n

【技术特征摘要】
1.一种厚转接板结构，其特征在于，包括：
第一硅片层，包括：
至少一个第一通孔，所述第一通孔表面设置有第一金属层；以及
第一重布线层，其布置于所述第一硅片层的表面，包括第一外接焊盘，所述第一重布线层电连接至所述第一金属层；
第二硅片层，包括：
至少一个第二通孔，所述第二通孔位置与所述第一通孔相对应，所述第二通孔表面设置有第二金属层，所述第二金属层与所述第一金属层电连接；
第二重布线层，其设置于所述第二硅片层的表面，所述第二重布线层电连接至所述第二金属层；
第一钝化层，其设置于所述第二重布线层的表面及间隙；以及
第三重布线层，包括第二外接焊盘，所述第三重布线层设置于所述第一钝化层表面，且电连接与至述第二重布线层；以及
二氧化硅层，其位于所述第一硅片层及所述第二硅片层质中间。


2.如权利要求1所述的厚转接板结构，其特征在于，所述第一硅片层的厚度大于所述第二硅片层。


3.如权利要求1所述的厚转接板结构，其特征在于，所述第二通孔的孔径小于所述第一通孔。


4.如权利要求1所述的厚转接板结构，其特征在于，所述第一金属层和/或所述第二金属层和/或第一重布线层和/或第二重布线层和/...

【专利技术属性】
技术研发人员：王启东，曹立强，王鑫，杨海博，
申请(专利权)人：华进半导体封装先导技术研发中心有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32