用于估计姿态的方法和装置制造方法及图纸

公开了一种姿态估计方法和装置。该姿态估计方法包括：从图像传感器获取几何校正之前的原始图像；确定原始图像中的特征点；以及，基于特征点估计姿态。特征点估计姿态。特征点估计姿态。

【技术实现步骤摘要】
用于估计姿态的方法和装置
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求2019年9月26日在韩国知识产权局提交的韩国专利申请号10-2019-0118690的权益，其全部公开内容通过引用并入本文以用于所有目的。


[0003]以下描述涉及用于估计姿态的方法和装置。

技术介绍

[0004]相机的姿态估计在于确定动态改变的相机视点的平移和旋转信息。姿态估计的应用正在增加，并且被应用在许多领域中，例如，同时定位和地图构建(SLAM)、混合现实、增强现实、机器人导航、以及三维(3D)场景重建等。

技术实现思路

[0005]提供本
技术实现思路
以用简化形式介绍在下文的具体实施方式中进一步描述的构思的选择。本
技术实现思路
不旨在确定所请求保护的主题的关键特征或基本特征，也不旨在帮助确定所请求保护的主题的范围。
[0006]在一个总体方面，提供一种估计姿态的方法，该方法包括：通过图像传感器获取几何校正之前的原始图像；确定原始图像中的特征点；以及，基于特征点估计姿态。
[0007]原始图像可以包括图像传感器的镜头的几何失真未被校正的图像。
[0008]估计姿态可以包括：基于由于图像传感器的镜头的几何失真而发生的特征点改变来估计姿态。
[0009]几何失真可以包括图像传感器的镜头的桶形失真和枕形失真之
[0010]获取原始图像可以包括：在处理在图像传感器中捕获的图像的图像信号处理器(ISP)去除几何失真之前，获取原始图像。
[0011]该方法可以包括：获取对原始图像的几何校正之后的经校正的图像；以及，确定经校正的图像中的特征点，其中，估计姿态可包括：基于原始图像的特征点和经校正的图像的特征点之间的改变来估计姿态。
[0012]图像传感器可以是双像素或更多像素传感器，双像素或更多像素中的每个像素包括光电二极管。
[0013]该方法可以包括：基于从双像素或更多像素中的每个像素中的光电二极管中选择的两个光电二极管获取的相差来确定朝向焦平面的向量，其中，估计姿态可以包括基于该向量估计姿态。
[0014]估计姿态可包括：基于该向量确定焦平面和捕获的对象之间的角度，并且基于该角度的改变估计姿态。
[0015]相差可以包括基于焦平面和被捕获对象之间的相对距离的光强度差。
[0016]估计姿态可以包括：通过将图像传感器的与光学变焦有关的参数应用于向量来估
计姿态。
[0017]该方法可以包括：基于特征点检测原始图像中的平面。
[0018]估计姿态可以包括：估计图像传感器或包括图像传感器的移动终端的姿态。
[0019]在另一个总体方面，提供了一种估计姿态的方法，该方法包括：基于从选自双像素或更多像素传感器的像素中的每个像素中的光电二极管之中的两个光电二极管获取的相差，确定对应像素的朝向焦平面的向量；以及，通过基于该向量确定双像素或更多像素传感器相对于焦平面的相对移动改变来估计姿态。
[0020]相差可以包括基于焦平面和被捕获对象之间的相对距离的光强度差。
[0021]估计姿态可包括：通过基于向量确定焦平面和被捕获对象之间的角度并且基于该角度的改变确定相对移动改变来估计姿态。
[0022]双像素或更多像素传感器可以包括均包括光电二极管的像素。
[0023]在另一个总体方面，提供了一种用于估计姿态的装置，该装置包括：处理器，被配置为通过图像传感器获取几何校正之前的原始图像；确定原始图像中的特征点；以及，基于特征点估计姿态。
[0024]处理器可以被配置为，基于由于图像传感器的镜头的几何失真而发生的特征点改变来估计姿态。
[0025]在另一个总体方面，提供了一种用于估计姿态的装置，该装置包括：图像传感器，被配置为获得原始图像；以及，处理器，被配置为：从原始图像选择第一特征点，通过校正原始图像中的图像传感器的镜头的几何失真来获得经校正的图像，从经校正的图像选择第二特征点，该第二特征点与第一特征点相对应，以及基于第一特征点和第二特征点之间的改变来估计姿态。
[0026]在原始图像中可以不对图像传感器的镜头的几何失真进行校正。
[0027]其他特征和方面通过以下详细描述、附图和权利要求将变得清楚。
附图说明
[0028]图1示出在姿态估计装置中执行的过程的示例。
[0029]图2示出对传感器中捕获的图像进行处理的示例。
[0030]图3和图4示出基于由几何失真引起的特征点改变来估计姿态的示例。
[0031]图5示出姿态估计和/或平面检测操作的示例。
[0032]图6至图8示出使用从选自像素中的多个光电二极管之中的两个光电二极管获取的相差来估计姿态的示例。
[0033]图9示出平面检测和跟踪操作的示例。
[0034]图10示出姿态估计过程的示例。
[0035]图11示出使用传感器来估计姿态的过程的示例。
[0036]图12和图13示出姿态估计方法的示例。
[0037]图14示出姿态估计装置的示例。
[0038]在整个附图和详细描述中，除非另外描述或提供，否则相同的附图标记应被理解为指代相同的元素、特征和结构。附图可以不按比例绘制，并且为了清楚、说明和方便，可以扩大附图中的元素的相对尺寸、比例和描绘。
具体实施方式
[0039]提供以下详细描述以帮助读者获得对本文描述的方法、装置和/或系统的全面理解。然而，在理解了本申请的公开内容之后，本文中描述的方法、装置和/或系统的各种改变、修改和等同物将是显而易见的。例如，将清楚的是，本文中描述的操作的顺序仅仅是示例，并且不限于在本文中阐述的那些操作的顺序，而是可以在理解本申请的公开内容之后进行改变，除了必须以一定顺序出现的操作之外。此外，为了更加清楚和简洁，可以省略对本领域已知的特征的描述。
[0040]本文描述的特征可以以不同形式来实施，并且不被解释为限于本文描述的示例。相反，提供本文中描述的示例仅仅是为了说明实现本文中描述的方法、装置和/或系统的许多可行方式中的一些方式，在理解本申请的公开内容之后这些方式将显而易见。
[0041]虽然本文中可以使用诸如“第一”、“第二”、“第三”之类的术语来描述各构件、组件、区域、层或部分，但是这些构件、组件、区域、层或部分不应被这些术语限制。相反，这些术语仅用于将一个构件、组件、区域、层或部分与另一构件、组件、区域、层或部分加以区分。因此，在不脱离示例的教导的情况下，本文中描述的示例中提及的第一构件、组件、区域、层或部分也可以被称为第二构件、组件、区域、层或部分。
[0042]贯穿说明书，当诸如层、区域或基板之类的元素被描述为在另一元素“上”、“连接到”或“耦接到”另一元素时，它可以直接在该另一元素“上”、“连接到”或“耦接到”该另一元素，或者可以存在介于其间的一个或多个其他元素。相反，当元素被描述为“直接在另一元素上”、“直接连接到”或“直接耦接到”另一元素时，可以不存在介于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种估计姿态的方法，所述方法包括：通过图像传感器获取几何校正之前的原始图像；确定所述原始图像中的特征点；以及基于所述特征点估计姿态。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述原始图像包括所述图像传感器的镜头的几何失真未被校正的图像。3.根据权利要求1所述的方法，其中，估计所述姿态包括：基于由于所述图像传感器的镜头的几何失真而发生的所述特征点的改变来估计所述姿态。4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述几何失真包括所述图像传感器的镜头的桶形失真和枕形失真之一。5.根据权利要求1所述的方法，其中，获取所述原始图像包括：在处理由所述图像传感器捕获的图像的图像信号处理器ISP去除几何失真之前，获取原始图像。6.根据权利要求1所述的方法，还包括：获取对所述原始图像进行几何校正之后的经校正的图像；以及确定所述经校正的图像中的特征点；其中，估计所述姿态包括：基于所述原始图像的特征点和所述经校正的图像的特征点之间的改变来估计所述姿态。7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述图像传感器是双像素或更多像素传感器，所述双像素或更多像素中的每个像素包括光电二极管。8.根据权利要求7所述的方法，还包括：基于从选自所述双像素或更多像素中的每个像素中的光电二极管之中的两个光电二极管获取的相差，确定朝向焦平面的向量，其中，估计所述姿态包括：基于所述向量估计所述姿态。9.根据权利要求8所述的方法，其中，估计所述姿态包括：基于所述向量确定所述焦平面和被捕获对象之间的角度，并且基于所述角度的改变估计所述姿态。10.根据权利要求8所述的方法，其中，所述相差包括基于所述焦平面和被捕获对象之间的相对距离的光强度差。11.根据权利要求8所述的方法，其中，估计所述姿态包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：李炯旭，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：