【技术实现步骤摘要】
能够在I线高产酸的磺酰亚胺类光产酸剂
[0001]本专利技术属于有机化学
,涉及用作光产酸剂的化合物,具体涉及一种能够在I线高产酸的磺酰亚胺类光产酸剂及其应用。
技术介绍
[0002]作为光刻工序中使用的抗蚀剂材料,典型示例之一是含有树脂和光产酸剂的树脂组合物,其中的树脂例如可以是羧酸的叔丁基酯或苯酚的叔丁基醚、甲硅烷基醚等。当照射紫外线等活性能量射线时,光产酸剂分解产生强酸【任选地,曝光后可进一步进行加热(PEB)】,在强酸作用下,羧酸衍生物或苯酚衍生物脱保护生成羧酸或苯酚。经过这种化学变化,曝光部分的树脂在碱性显影液中变得易溶,接下来将其与碱性显影液作用,能够促使图案的形成。
[0003]作为波长365nm的I线光刻用抗蚀剂,通常使用重氮萘醌(DNQ)抗蚀剂,但是化学增幅型抗蚀剂能够具有DNQ抗蚀剂不能达到的高灵敏度,并且有利于制作厚膜抗蚀剂,因此使用化学增幅型的I线光刻受到关注。目前,用于I线的化学增幅型抗蚀剂中所用的光产酸剂已知有多种类型,如萘基硫酰亚胺衍生物、杂蒽酮衍生物、香豆素衍生物、酰基氧化磷衍生 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种能够在I线高产酸的磺酰亚胺类光产酸剂,具有通式(A)所示结构:其中,R1为C
1-C
20
的直链或支链的烷基或氟代烷基、C
6-C
18
的取代或未取代的芳基、或樟脑基;L为C
4-C
18
的含N、S或O的杂环基,任选地,L上的至少一个氢原子可以被R2所取代;其中,R2选自下列基团:卤素;C
1-C
20
的直链或支链的(卤)烷基,任选地,其中的-CH
2-可以被-O-或-S-所取代;苯基,任选地,其中的至少一个氢原子可以被C
1-C4的烷基所取代;C
7-C
10
的苯基烷基,任选地,其中的-CH
2-可以被-O-所取代;R1’-
CO-,其中R1’
表示C
1-C6的烷基、苯基,且任选地,苯基中的至少一个氢原子可以被C
1-C4的烷基或烷氧基所取代;R2’-
CO-O-R3’-
,其中R2’
表示C
1-C8的烷基、苯基,R3’
表示空或C
3-C4的炔基,并且所述烷基中的-CH
2-可任选地被-O-所取代,所述苯基中的至少一个氢原子可任选地被C
1-C4的烷基所取代;C
2-C6的直链或支链的烯基,任选地,其中的-CH
2-可以被-O-所取代;以C
6-C
10
的芳基为封端的C
2-C4的烯基;C
2-C6的直链或支链的炔基;以C
6-C
10
的芳基为封端的...
【专利技术属性】
技术研发人员:钱晓春,胡春青,龚艳,刘葛,
申请(专利权)人:常州强力电子新材料股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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