本发明专利技术涉及一种用于维修检查触点装置(10)的方法，其中在抓取触点阶段中借助于抓取工具(23)借助于钎焊材料(16)将在错误定位的情况下设置在检查触点载体(12)上的检查触点(21)在体边缘(30)处抓取，在所述抓取触点阶段期间，给在所述抓取工具(23)的外表面(32)上构成的吸收面(33)借助激光辐射进行加载，并且在存在所述钎焊材料(16)的软化温度时，进行所述抓取工具(23)的至少单轴的运动，使得借助于所述运动执行对所述错误定位的校正，以将所述检查触点(21)转移到期望定位中。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】维修检查触点装置的方法和设备
本专利技术涉及一种用于维修检查触点装置的方法，所述检查触点装置具有多个在检查触点载体的接触面上借助于钎焊连接部来接触的检查触点，其中，在抓取触点阶段中借助于抓取工具将在错误定位的情况下设置在检查触点载体上的检查触点在体边缘处抓取，使得至少一个构成为传热面的抓取面在导热接触中贴靠在检查触点的表面上，在抓取触点阶段期间，给在抓取工具的外表面上构成的吸收面加载激光辐射，在加载辐射期间对在钎焊连接部的钎焊材料中所达到的温度进行温度测量，并且在存在钎焊材料的软化温度时，进行抓取工具的至少单轴的运动，使得借助于所述运动执行对错误定位的校正，以将检查触点转移到期望定位中。本专利技术还涉及一种用于执行所述方法的设备。
技术介绍
在不同的实施方式中已知用于制造检查触点装置的方法和设备。因此，WO2017/026802A1示出一种方法以及一种设备，其中，为了接触检查触点载体上的检查触点，各个检查触点被抓取工具抓取，并且为了润湿设置用于与触点载体的接触面进行接触的下边缘利用所述下边缘浸入钎焊材料浴中。接着，借助于抓取工具将检查触点利用下边缘定位在检查触点载体的接触面上，并且给钎焊材料加载激光辐射以建立在检查触点和检查触点载体之间的钎焊连接。从DE102008051853A1中已知用于制造检查触点装置的方法以及设备，其中，检查触点借助于抓取工具利用其设置用于与检查触点载体的接触面进行接触的下边缘放置到已经涂覆到检查触点载体的接触面上的钎焊材料上，并且为了熔化钎焊材料或建立在检查触点载体和检查触点之间的钎焊连接，通过在抓取工具中构成的辐照通道给检查触点加载激光辐射。这两种已知的方法和用于其的设备实现检查触点装置的制造，其中为了保证实现无摩擦地使用检查触点装置的质量，检查接触装置接下来经受适合的质量控制并且在确定相对于允许的公差的偏差时将相应的检查触点装置宣布为废品。在质量检查时，尤其借助于光学辅助机构检查在检查触点的上边缘处构成的触点尖端是否具有所需的节距并且是否设置在共同的接触平面中，在使用检查触点装置时所述触点尖端用于与晶片的接触面进行接触。
技术实现思路
本专利技术基于如下目的，提出一种方法或设备，所述方法和设备在检查触点在检查触点载体上的错误定位的情况下实现定位校正，以便避免将检查触点装置宣布为废品。为了实现该目的，根据本专利技术的方法具有权利要求1的特征，并且根据本专利技术的设备具有权利要求3的特征。在根据本专利技术的方法中，在抓取触点阶段中借助于抓取工具将在错误定位的情况下设置在检查触点载体上的检查触点在体边缘处抓取，使得至少一个构成为传热面的抓取面在导热接触中贴靠在检查触点的表面上，其中在抓取触点阶段期间，给在抓取工具的外表面上构成的吸收面加载激光辐射，在加载辐射期间对在钎焊连接的钎焊材料中所达到的温度进行温度测量，并且在存在钎焊材料的软化温度时，进行抓取工具的至少单轴的运动，使得借助于所述运动执行错误定位的校正，以将检查触点转移到期望定位中。根据本专利技术的方法实现，尽管检查触点彼此间的间距小，仍借助于抓取单个检查触点来校正检查触点的错误定位，所述小的间距由于所需的节距产生并且除此之外由于检查触点的错位而进一步减小。为此必须相应紧凑地构成的设备尤其通过如下方式实现：对于软化钎焊材料连接部所需的对钎焊材料的温度加载间接地经由与检查触点的表面形成导热接触的在抓取工具的外表面上构成的吸收面进行。由于经由抓取接触对钎焊材料进行温度加载，就像不需要将激光辐射聚焦到钎焊连接部的钎焊材料上那样，也不需要在抓取工具中构成辐射通道，所述聚焦通常实现对辐射的所限定的入射角的设定，所述入射角是由于错误定位的检查触点与相邻的检查触点的小的间距通常是无法实现的。根据所述方法的一个优选的变型形式，为了限定错误定位，借助于照相机装置对检查触点装置进行成像，并且借助于图像处理装置从所述成像中确定检查触点的体边缘的体边缘坐标，其中接下来根据体边缘坐标对抓取工具进行抓取定位，使得抓取工具的抓取边缘向着检查触点的体边缘定位，并且然后为了校正错误定位，将抓取工具利用抓取边缘转移到借助于图像处理从所述成像中计算出的期望位置中。通过选择在错误定位中所设置的检查触点的体边缘，确定检查触点的仅两个表面坐标就足以限定检查触点在空间中的方位。这些表面坐标能够有利地用作为用于定位抓取工具的抓取边缘的地点坐标，使得对于将抓取工具定位在如下位置中而言没有力从抓取工具被传递到检查触点上，从所述位置起能够对检查触点进行抓取，所述力导致对检查触点装置的机械负荷。更确切地说，抓取工具的优选构成为内边缘的抓取边缘贴靠在检查触点的优选构成为外边缘的体边缘上，使得在抓取工具定位在抓取位置中时，首先没有明显的力被传递，并且在将检查触点转移到期望位置中时才进行力传递。对于维修检查触点装置特别有利的设备包括：抓取工具，所述抓取工具具有至少一个导热的抓取面，所述抓取面用于抵靠检查触点的表面；在抓取工具的外表面上构成的吸收面，所述吸收面用于吸收激光辐射，其中吸收面在与抓取面的导热接触中设置；激光装置，所述激光装置用其光轴线对准吸收面；和用于测量钎焊材料的辐射温度的温度测量装置。优选地，抓取工具具有构成为内边缘的抓取边缘，所述抓取边缘用于向着检查触点的构成为外边缘的体边缘定位。如果吸收面在抓取工具的具有抓取面的抓取元件的在外表面上构成的材料凸起上构成，那么不会像在彼此贴靠的不同材料之间的过渡部中构成传热阻力那样在吸收面和抓取面之间的传热路径内构成传热阻力。特别优选地，材料凸起构成为具有吸收连接片，所述吸收连接片具有相对于表面成钝角设置的吸收侧沿，使得关于检查触点的竖轴线来设定激光辐射的锐角的入射角是可行的。附图说明在下文中，以在此使用的设备的一个优选的实施方式为例根据附图详细阐述所述方法的一个优选的变型形式。附图示出：图1示出定位在检查触点装置上方的维修设备；图2在侧视图中示出在图1中示出的检查触点装置；图3示出在校正检查触点装置的检查触点的错误定位期间在图1中示出的维修装置。具体实施方式图1示出了检查触点装置10，其具有多个检查触点11，所述检查触点设置在检查触点载体12上。如从图1与图2的概览中变得清楚的那样，检查触点11利用下边缘13在检查触点载体12的接触面14上接触，其中，为了在下边缘13和接触表面14之间建立能导电的和机械的接触，设有钎焊连接部15，所述钎焊连接部具有钎焊材料16，所述钎焊材料在当前情况下构成为金属钎焊。如此外从图1和图2的概览中变得清楚的那样，检查触点11分别具触点尖端17，所述触点尖端在触点悬臂18的自由端上构成，所述触点悬臂在其悬臂基底19处与检查触点基底20连接，所述检查触点基底与如已经在上文中所阐述的那样经由其下边缘13与检查触点载体12连接。为了常规地使用检查触点装置10，需要将各个检查触点11的触点尖端17设置在共同的触点平面KE中和设置在共同的触点轴线KA上。如在图1中示例性示出的那样，本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于维修检查触点装置(10)的方法，所述检查触点装置具有多个检查触点(11、21)，所述检查触点(11、21)借助于钎焊连接部(15)在检查触点载体(12)的接触面(14)上被接触，其中在抓取触点阶段中借助于抓取工具(23)将在错误定位的情况下设置在所述检查触点载体(12)上的检查触点(21)在体边缘(30)处抓取，使得至少一个构成为传热面的抓取面(38)在导热接触中贴靠在所述检查触点(21)的表面(39)上，在所述抓取触点阶段期间，给在所述抓取工具(23)的外表面(32)上构成的吸收面(33)借助激光辐射进行加载，在加载辐射期间对在所述钎焊连接部(15)的钎焊材料(16)中所达到的钎焊温度进行温度测量，并且在存在所述钎焊材料(16)的软化温度时，进行所述抓取工具(23)的至少单轴的运动，使得借助于所述运动执行对所述错误定位的校正，以将所述检查触点(21)转移到期望定位中。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180807 DE 102018119137.51.一种用于维修检查触点装置(10)的方法，所述检查触点装置具有多个检查触点(11、21)，所述检查触点(11、21)借助于钎焊连接部(15)在检查触点载体(12)的接触面(14)上被接触，其中在抓取触点阶段中借助于抓取工具(23)将在错误定位的情况下设置在所述检查触点载体(12)上的检查触点(21)在体边缘(30)处抓取，使得至少一个构成为传热面的抓取面(38)在导热接触中贴靠在所述检查触点(21)的表面(39)上，在所述抓取触点阶段期间，给在所述抓取工具(23)的外表面(32)上构成的吸收面(33)借助激光辐射进行加载，在加载辐射期间对在所述钎焊连接部(15)的钎焊材料(16)中所达到的钎焊温度进行温度测量，并且在存在所述钎焊材料(16)的软化温度时，进行所述抓取工具(23)的至少单轴的运动，使得借助于所述运动执行对所述错误定位的校正，以将所述检查触点(21)转移到期望定位中。
2.根据权利要求1所述的方法，
其特征在于，
为了限定所述错误定位，借助于照相机装置(36)来对所述检查触点装置(10)进行成像，并且借助于图像处理装置从所述成像中确定所述检查触点(21)的体边缘(30)的体边缘坐标(K1，K2)，其中接下来根据所述体边缘坐标(K1，K2)对所述抓取工具(23)进行抓取定位，使得所述抓取工具(23)的抓取边缘(29)向着所述检查触点(21)的所述体边缘(30)定位，并且接着为了校正所述错误定位将所述抓取工具(23)...
【专利技术属性】
技术研发人员：托尔斯滕·克劳斯，
申请(专利权)人：派克泰克封装技术有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE
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