全息多重记录方法技术

一种使全息多重记录时的各记录区域内的残留动态范围更均匀的全息多重记录方法。该全息多重记录方法将记录光点ＲＳ沿Ｘ轴方向不重叠地排列而形成第一段记录光点行ＲＸ↓［１］，然后在Ｙ轴方向的移位多重记录的位置上记录同样由沿Ｘ轴方向不重叠的记录光点ＲＳ构成的下一第二段记录光点行ＲＸ↓［２］，并将其反复进行，对沿Ｘ轴方向不进行移位多重记录也可记录的区域全部进行记录，从而形成Ｙ轴方向第一多重记录光点矩阵ＴＹＸ↓［１］，然后在相对最初记录的第一段记录光点行ＲＸ↓［１］在Ｘ轴方向的移位多重化的位置上，形成Ｙ轴方向第二多重记录光点矩阵ＴＹＸ↓［２］，以下同样而将Ｘ轴方向的移位多重记录进行到Ｙ轴方向最终多重记录光点矩阵ＴＹＸ↓［ｎ］为止，并完成记录。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
有一种，该方法为当照射物体光和参照光而在全息记录介质内的记录层上形成干涉条纹的记录光点时，每照射一次就将作为该物体光和参照光的重复照射区域的光束点沿上述记录层的面错位一点点，从而形成沿X轴方向以及Y轴方向每次错位一点点而重叠的记录光点(请参照文献10 May 1996/Vol.35，No.14/APPLIED OPTICS P2403-2417)。这时，如图9所示，记录光点1A、1B、1C、1D、1E、1F，是沿图9中的X轴方向每次错位位移量Δ来形成的。这时，例如在图9中，在全息记录进行到记录光点1F的状态下的记录层上的残留动态范围(DR)，如图9下半部所示那样具有不均匀性，因此，所形成的光栅(干涉条纹)强度变得不均匀，而成为再现图像的畸变和比特误码率增大的原因。对此，利用附图说明图10～图13进行更详细的说明。图10表示在典型的球面移位多重记录中所重叠的全息图的几何配置。为了便于说明，定义如下的坐标系。即，将记录光学系统的入射面(包括参照光、物体光的双方光轴的平面)和记录层表面的交线作为X轴，并将在上述记录层平面上与X轴垂直的方向作为Y轴。根据所记录光栅的几何形状，全息图的布拉格(Bragg)选择性，在X方向最高(相对于移动量的布拉格偏移(Bragg-mismatch)、即，若从衍射效率最大值的位置仅移动该距离，则衍射效率大致变为零的移动量)，在X轴方向为几μm，而在Y轴方向为100～几百μm(参照上述文献)。如果实际的移位量(图中的ΔX以及ΔY)大于最小位移量，则可进行移位多重记录，但若使其太大，则记录密度会降低。下面表示沿X轴方向每次移动ΔX同时进行移位多重记录、而结束在X轴方向的多重化之后进行Y方向的移位多重记录的例子。理所当然地，也可以颠倒X轴方向和Y轴方向的多重化顺序。即使在任意的情况下，若将记录区域设定为半径是R的圆形，则在记录层的各点上会平均重叠Np＝πR2/ΔXΔY张的全息图。若将记录材料的有效折射率调制度设为n1，则只要在使每全息图的折射率调制度为Δn＝n1/Np的条件下进行记录，则不需要进行特别的调度。如上所述，由于不需要考虑(在角度多重等所使用的)记录的调度，所以球面移位多重记录是对高速记录有利的全息图记录方法。顺便说一下，所谓调度，是指根据向记录材料的记录履历或残留动态范围(RemainingDynamic Range)来控制记录的曝光量的技术。在角度多重记录和相位编码多重记录中，为了对记录材料的同一区域实现多个全息图的多重化，因此随着多重化的进程，有必要阶段性地增加记录的曝光量。虽然不需要进行记录调度，但是在要重新记录的记录区域内，其残留动态范围和感光灵敏度不均匀，从而所记录光栅发生了对比度分布，因此存在发生再现图像的畸变和强度不均匀的问题。图12、13表示将记录区域的半径R标准化为1，并将向X以及Y轴方向的移位量分别设为ΔX＝0.01、ΔY＝0.1时的残留动态范围。由于图12、13为计算值，所以表示出了|X|、|Y|≤1的全体区域，但是实际上有意义的仅仅是记录区域内部(X2+Y2≤R2)的区域。残留动态范围和记录灵敏度的关系，由于根据材料种类和记录光的参数而不同，所以不能一概而论，但通常是残留动态范围越少则记录灵敏度越低的趋势。因此，若发生如曲线所示的动态范围的不均匀，则所形成的光栅强度变得不均匀，而成为导致再现图像的畸变和比特误码率增大的原因。专利技术的公开本专利技术的课题为抑制多重记录时的、由记录层内的动态范围的不均匀性导致的光栅强度的不均匀，从而解决再现图像的畸变。本专利技术人努力研究而发现通过以全息多重记录时使记录层上的动态范围均匀的方式进行记录调度，能够解决上述问题。即，根据以下的本专利技术，能够达成上述目的。(1)一种，当照射物体光和参照光而在全息记录介质内的记录层上形成干涉条纹时，将作为该物体光和参照光的重复照射区域的记录光点以沿X轴方向以及Y轴方向每次错位一点点而重叠的方式形成，其特征在于，具有形成第一段多重记录光点矩阵的X轴方向第一多重记录工序；反复进行与上述X轴方向第一多重记录工序同样的X轴方向第二至最终多重记录工序，而形成第二段至最终段多重记录光点矩阵的工序，该X轴方向第一多重记录工序包括将由沿X轴方向以一定间距并且不重叠地排列的记录光点构成的记录光点行，沿Y轴方向以一定间距并且不重叠地排列形成，从而形成第一记录光点矩阵的工序；将由相对上述第一记录光点矩阵而沿X轴方向错位一点点相位、且沿Y轴方向同相、同间距的记录光点构成的记录光点行，沿Y轴方向以一定间距并且不重叠地排列形成，从而形成第二记录光点矩阵的工序；反复进行如下步骤，即，将由相对前一个记录光点矩阵中的记录光点行而沿X轴方向错位一点点相位、且沿Y轴方向同相、同间距的记录光点构成的记录光点行，沿Y轴方向以一定间距并且不重叠地排列形成，直到从第一记录光点矩阵开始到最终记录光点矩阵的X轴方向的相位的错位总和就要等于上述记录光点行之间的X轴方向的间距为止，从而形成从第三记录光点矩阵开始到最终记录光点矩阵的工序，设定从上述第一记录光点矩阵开始到最终记录光点矩阵的X轴方向的相位的错位总和就要等于上述记录光点行之间的X轴方向的间距，上述X轴方向第二至最终多重记录工序是，相对上述X轴方向第一多重记录工序中的各记录光点行而沿Y轴方向按照顺序每次错位一点点相位，并且，直到X轴方向最终多重记录工序为止的Y轴方向的相位的错位总和就要等于上述记录光点行之间的Y轴方向的间距为止。(2)一种，当照射物体光和参照光而在全息记录介质内的记录层上形成干涉条纹时，将作为该物体光和参照光的重复照射区域的记录光点以沿X轴方向以及Y轴方向每次错位一点点而重叠的方式形成，其特征在于，具有将由沿X轴方向以一定间距并且不重叠地排列的记录光点构成的第一段记录光点行，沿Y轴方向按照顺序每次错位一点点相位而排列，从而形成Y轴方向第一多重记录光点矩阵的Y轴方向第一多重记录工序；由以相对上述第一段记录光点行沿X轴方向错位了一点点相位的位置为基准、而沿X轴方向以一定间距并且不重叠地排列的记录光点构成的第二段记录光点行，沿Y轴方向按照顺序每次错位一点点相位而排列，从而形成Y轴方向第二多重记录光点矩阵的Y轴方向第二多重记录工序；以下同样反复进行，直到从Y轴方向第一多重记录光点矩阵开始到Y轴方向最终多重记录光点矩阵的X轴方向的相位的错位总和就要等于上述记录光点行之间的X轴方向的间距为止，从而形成从Y轴方向第三多重记录光点矩阵开始到Y轴方向最终多重记录光点矩阵的工序。(3)一种，当照射物体光和参照光而在全息记录介质内的记录层上形成干涉条纹时，将作为该物体光和参照光的重复照射区域的记录光点以沿X轴方向以及Y轴方向每次错位一点点而重叠的方式形成，其特征在于，具有形成X轴方向第一段多重记录光点矩阵的第一段X轴方向多重记录工序；反复进行与上述第一段X轴方向多重记录工序同样的第二段X轴方向多重记录工序至最终段X轴方向多重记录工序，而形成X轴方向第二段至最终段多重记录光点矩阵的工序，该第一段X轴方向多重记录工序包括沿X轴方向按照顺序每次错位一点点相位而排列记录光点，从而形成X轴方向第一多重记录光点行的X轴方向第一多重记录工序；在相对上述X轴方本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种全息多重记录方法，当照射物体光和参照光而在全息记录介质内的记录层上形成干涉条纹时，将作为该物体光和参照光的重复照射区域的记录光点以沿Ｘ轴方向以及Ｙ轴方向每次错位一点点而重叠的方式形成，其特征在于，具有：形成第一段多重记录光点矩阵的Ｘ轴方向第一多重记录工序；反复进行与上述Ｘ轴方向第一多重记录工序同样的Ｘ轴方向第二至最终多重记录工序，而形成第二段至最终段多重记录光点矩阵的工序，该Ｘ轴方向第一多重记录工序包括：将由沿Ｘ轴方向以一定间距并且不重叠地排列的记录光点构 成的记录光点行，沿Ｙ轴方向以一定间距并且不重叠地排列形成，从而形成第一记录光点矩阵的工序；将由相对上述第一记录光点矩阵而沿Ｘ轴方向错位一点点相位、且沿Ｙ轴方向同相、同间距的记录光点构成的记录光点行，沿Ｙ轴方向以一定间距并且不重叠地排 列形成，从而形成第二记录光点矩阵的工序；反复进行如下步骤，即，将由相对前一个记录光点矩阵中的记录光点行而沿Ｘ轴方向错位一点点相位、且沿Ｙ轴方向同相、同间距的记录光点构成的记录光点行，沿Ｙ轴方向以一定间距并且不重叠地排列形成，直到从第 一记录光点矩阵开始到最终记录光点矩阵的Ｘ轴方向的相位的错位总和就要等于上述记录光点行之间的Ｘ轴方向的间距为止，从而形成从第三记录光点矩阵开始到最终记录光点矩阵的工序，设定从上述第一记录光点矩阵开始到最终记录光点矩阵的Ｘ轴方向的相位的 错位总和就要等于上述记录光点行之间的Ｘ轴方向的间距，上述Ｘ轴方向第二至最终多重记录工序是，相对上述Ｘ轴方向第一多重记录工序中的各记录光点行而沿Ｙ轴方向按照顺序每次错位一点点相位，并且，直到Ｘ轴方向最终多重记录工序为止的Ｙ轴方向的相位 的错位总和就要等于上述记录光点行之间的Ｙ轴方向的间距为止。...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：塚越拓哉，吉成次郎，三浦荣明，水岛哲郎，
申请(专利权)人：TDK股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]