本申请揭示了一种保护胶的固化状态判定方法、标准阻抗值确定方法及装置，固化状态判定方法包括测量获取所述基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数、判断所述绝缘阻抗参数是否大于标准阻抗值、判定所述保护胶是否完全固化；本发明专利技术保护胶的固化状态判定方法、标准阻抗值确定方法及装置，通过上述保护胶的固化状态判定方法不仅可以检测验证所述保护胶在所述元件上的安全性与可靠性，而且操作简单，实现成本低；通过上述标准阻抗值确定方法能够系统、快速且准确通过实验测量出标准阻抗值。速且准确通过实验测量出标准阻抗值。速且准确通过实验测量出标准阻抗值。
【技术实现步骤摘要】
保护胶的固化状态判定方法、标准阻抗值确定方法及装置
[0001]本专利技术涉及胶体检测方法，特别涉及一种保护胶的固化状态判定方法、标准阻抗值确定方法及装置。
技术介绍
[0002]随着科技的进步，的使用越来越广，同时，对电子元件的安全和可靠性要求也越来越严格，特别是在汽车、航空、船舶等应用中。
[0003]为增加电子元件在基板上的可靠性，通常使用保护胶涂覆于电子元件或电子元件的引脚。上述保护胶主要作用是粘接、披覆、防潮、防震、防水、以及绝缘等。保护胶涂覆后，采用相应的条件进行固化操作。(如使用紫外线光固化UV胶)固化后的保护胶可形成坚韧和柔性粘接，具有耐震动和冲击性高等特点。
[0004]如UV胶固化是采用紫外光进行，不同的厂商固化方式不一样，有的采用发散光源照射，有的采用垂直光源照射，同时涂覆在电子元件引脚上的UV胶，表面具有一定的不规则性。存在被紫外光照射强度高的区域UV胶能完全固化，而紫外光照射强度低的区域UV胶未能完全固化。当紫外光照结束以后，电子元件Pin角处可能存在未完全固化的区域。
[0005]然而目前没有系统寻找保护胶固化效果的方法，更加没有系统验证基板上保护胶固化状态的方法。
技术实现思路
[0006]本专利技术的主要目的为提供一种保护胶的固化状态判定方法、标准阻抗值确定方法及装置，旨在解决目前没有系统验证基板上保护胶固化状态的方法问题。
[0007]为了实现上述目的，本专利技术提供一种保护胶的固化状态判定方法，所述保护胶用于保护所述基板上的元件，所述固化状态判定方法包括：
[0008]测量获取所述基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数；
[0009]判断所述绝缘阻抗参数是否大于标准阻抗值，其中，所述标准阻抗值为通过实验获得的经验值；
[0010]若是，则判定所述保护胶完全固化。
[0011]一种测量基板上保护胶的固化状态的装置，所述装置用于实现上述固化状态判定方法。
[0012]本申请中的保护胶的固化状态判定方法，当所述绝缘阻抗参数大于标准阻抗值时，可判定所述保护胶完全固化；当所述绝缘阻抗参数小于标准阻抗值时，判定所述保护胶未完全固化；通过上述方法不仅可以检测验证所述保护胶在所述元件上的安全性与可靠性，而且操作简单，实现成本低。
[0013]一种保护胶的标准阻抗值确定方法，所述保护胶用于保护所述基板上的元件，所述标准阻抗值确定方法包括：
[0014]将基板以不同的固化条件进行固化，获得多块经固化处理基板，其中，所述不同的
固化条件包括使得所述保护胶完全固化以及部分固化的条件；
[0015]测量每块所述经固化处理基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势；
[0016]根据相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势，确定所述保护胶完全固化时的标准阻抗值。
[0017]进一步的，所述保护胶覆盖所述元件上不少于两个引脚，所述引脚之间无负载；所述测量每块所述经固化处理基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势的步骤包括：
[0018]通过所述保护胶下所述元件的所述引脚测量每块所述经固化处理基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势。
[0019]进一步的，所述保护胶覆盖所述元件上不少于两个引脚，所述引脚之间无负载；所述测量每块所述经固化处理基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势的步骤包括：
[0020]测量每块所述经固化处理基板的所述元件上被所述保护胶覆盖下相邻所述引脚之间的绝缘阻抗为局部绝缘阻抗，取所述保护胶上全部局部绝缘阻抗的平均值为所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势。
[0021]进一步的，所述保护胶覆盖所述元件少于两个引脚或所述引脚之间有负载；所述测量每块所述经固化处理基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势的步骤包括：
[0022]通过自所述保护胶内引出至少两根测试导线测量每块所述经固化处理基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势。
[0023]进一步的，所述测量每块所述经固化处理基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势的步骤之后包括：
[0024]获取所述保护胶上全部所述局部绝缘阻抗值的离散度；
[0025]将所述保护胶的所述离散度与标准离散度进行对比；
[0026]若所述保护胶的所述离散度大于所述标准离散度，则将所述保护胶对应的所述绝缘阻抗参数剔除于所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势。
[0027]进一步的，所述根据相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势，确定所述保护胶完全固化时的标准阻抗值的步骤之后包括：
[0028]获取所述经固化处理基板上所述保护胶的电子显微图片或光学显微图片；
[0029]通过所述电子显微图片或所述光学显微图片显示的相对灰度确认所述保护胶固化状态，从而验证所述标准阻抗值的准确性。
[0030]进一步的，所述将基板以不同的固化条件进行固化，获得多块经固化处理基板的步骤包括：
[0031]将所述基板以相同的固化强度、不同的固化时间进行固化，从而获得多块经固化处理基板。
[0032]进一步的，所述将基板以不同的固化条件进行固化，获得多块经固化处理基板的步骤包括：
[0033]将所述基板以相同的固化时间、不同的固化强度进行固化，获得多块经固化处理基板。
[0034]本申请中的标准阻抗值确定方法，将基板以不同的固化条件进行固化，获得多块经固化处理基板；测量每块所述经固化处理基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势；根据相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势，确定所述保护胶完全固化时的标准阻抗值；能够系统、快速且准确通过实验测量出标准阻抗值。
附图说明
[0035]图1是本专利技术一实施例的保护胶的固化状态判定方法的流程示意图；
[0036]图2是本专利技术一实施例的标准阻抗值确定方法的流程示意图。
[0037]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0038]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0039]本
技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”“上述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本专利技术的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件、单元、模块和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、单元、模本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种保护胶的固化状态判定方法，所述保护胶用于保护基板上的元件，其特征在于，所述固化状态判定方法包括：测量获取所述基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数；判断所述绝缘阻抗参数是否大于标准阻抗值，其中，所述标准阻抗值为通过实验获得的经验值；若是，则判定所述保护胶完全固化。2.一种保护胶的标准阻抗值确定方法，所述保护胶用于保护所述基板上的元件，其特征在于，所述标准阻抗值确定方法包括：将基板以不同的固化条件进行固化，获得多块经固化处理基板，其中，所述不同的固化条件包括使得所述保护胶完全固化以及部分固化的条件；测量每块所述经固化处理基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势；根据相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势，确定所述保护胶完全固化时的标准阻抗值。3.根据权利要求2所述的标准阻抗值确定方法，其特征在于，所述保护胶覆盖所述元件上不少于两个引脚，所述引脚之间无负载；所述测量每块所述经固化处理基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势的步骤包括：通过所述保护胶下所述元件的所述引脚测量每块所述经固化处理基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势。4.根据权利要求2所述的标准阻抗值确定方法，其特征在于，所述保护胶覆盖所述元件上不少于两个引脚，所述引脚之间无负载；所述测量每块所述经固化处理基板上所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势的步骤包括：测量每块所述经固化处理基板的所述元件上被所述保护胶覆盖下相邻所述引脚之间的绝缘阻抗为局部绝缘阻抗，取所述保护胶上全部局部绝缘阻抗的平均值为所述保护胶的绝缘阻抗参数，从而获得相应固化程度的所述保护胶的绝缘阻抗参数变化趋势。5.根据权利要求2所述的标准阻抗值确定方法，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：钟海斌，王欣，唐涛，廖志勇，刘宝强，
申请(专利权)人：欣旺达电动汽车电池有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。