一种提高同分异构体化合物鉴别能力的方法技术

本发明专利技术涉及一种提高同分异构体化合物鉴别能力的方法，所述方法包括如下步骤：S1.利用离子源将同分异构体化合物离子化产生同分异构体离子；S2.调节碰撞池的入口与出口之间的电势差为30～45V，使S1.所得离子通过碰撞池；S3.同分异构体化合物离子从碰撞池进入离子淌度谱中分离，质量分析器检测并获得质谱图。本发明专利技术提高碰撞池入口和出口的电势差，降低同分异构体离子的共存构象数，提高其在离子淌度谱中的分离度，本发明专利技术的方法可以提高同分异构体的离子淌度谱峰分辨率2～3倍，增强了对同分异构体的鉴别能力。本发明专利技术未对现有仪器进行改造，具有普适性和广泛的应用前景，可“百搭”于市面上商品化的离子淌度

【技术实现步骤摘要】
一种提高同分异构体化合物鉴别能力的方法


[0001]本专利技术涉及同分异构体化合物样品分离分析
，更具体地，涉及一种提高同分异构体化合物鉴别能力的方法。

技术介绍

[0002]同分异构体化合物普遍存在于生命体中，且由于结构上的细微差异可能导致完全不同的生物活性和功效，因此如何对它们实现快速、准确地结构鉴别和表征是目前分析的难点和重点。质谱技术具有高灵敏度、高通量、低检出限和理论上没有质量检测上限等优点，是应用最为广泛的分析技术之一，然而其在同分异构体化合物分析中常常因为它们质荷比(m/z)相同而无法很好地进行分辨。近年来，离子淌度结合质谱技术也逐渐兴起，成为同分异构体分析中的利器，但由于离子淌度谱的分离能力有限，针对一些结构相似且碰撞截面接近的同分异构体则无能为力，因此如何进一步提高离子淌度-质谱技术在同分异构体的鉴别能力至关重要。
[0003]现有技术CN201510451405公开了一种用于27种甲氧基化多溴联苯醚的全二维分离分析方法,采用超高压液相色谱与离子淌度质谱联用技术，构建采用大气压光电电离源的超高压液相色谱-离子淌度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提高同分异构体化合物鉴别能力的方法，其特征在于，采用离子淌度-质谱仪进行，所述离子淌度-质谱仪包括离子源、碰撞池、离子淌度谱和质量分析器；具体包括如下步骤：S1.利用离子源将同分异构体化合物样品离子化产生同分异构体离子；S2.调节碰撞池的入口与出口之间的电势差为30～45V，并使S1.所得同分异构体化合物离子通过碰撞池；S3.同分异构体化合物离子从碰撞池进入离子淌度谱中分离，质量分析器检测并获得质谱图。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S1.中，当所述同分异构体化合物样品为液体样品时，将其溶液装入纳喷针，采用电喷雾电离的方式进行离子化产生离子。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述纳喷针曲率直径为100nm～10μm。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，S1.中，当所述同分异构体化合物样品为固体样品时，采用固体采样离...

【专利技术属性】
技术研发人员：伍欣宙，殷志斌，徐汉虹，黎萍，
申请(专利权)人：华南农业大学，
类型：发明
国别省市：