质谱分析方法技术

技术编号:27421649 阅读:64 留言:0更新日期:2021-02-21 14:40
本发明专利技术提供了质谱分析方法,包括信噪比的获得,信噪比的获得包括步骤:(A1)待测样品被离子化,送质谱仪分析;(A2)对当次及之前获得的第一组质谱图中特征峰的强度排序,强度排序中的第二组质谱图中的特征峰的强度具有最大值;根据第一组质谱图获得信噪比最优时间段;(A3)当第二组质谱图中的特征峰强度超过第一阈值的质谱图的数量超过第二阈值时,且当次获得的质谱图对应的时间不在信噪比最优时间段内,则停止离子化;(A4)在第二组质谱图中取不低于排序的各质谱图;(A5)获得质谱图中特征峰处的信噪比,并排序;(A6)在信噪比排序中,取不低于排序的各信噪比的平均值,作为待测样品的信噪比。本发明专利技术具有运行成本低等优点。本发明专利技术具有运行成本低等优点。本发明专利技术具有运行成本低等优点。

【技术实现步骤摘要】
质谱分析方法


[0001]本专利技术涉及质谱,特别涉及质谱分析方法。

技术介绍

[0002]质谱仪以离子源、质量分析器和离子检测器为核心。离子源是使试样分子在高真空条件下离子化的装置。电离后的分子因接受了过多的能量会进一步碎裂成较小质量的多种碎片离子和中性粒子。它们在加速电场作用下获取具有相同能量的平均动能而进入质量分析器。质量分析器是将同时进入其中的不同质量的离子,按质荷比m/e大小分离的装置。分离后的离子依次进入离子检测器,采集放大离子信号,经计算机处理,绘制成质谱图。离子源、质量分析器和离子检测器都各有多种类型。质谱仪按应用范围分为同位素质谱仪、无机质谱仪和有机质谱仪;按分辨本领分为高分辨、中分辨和低分辨质谱仪;按工作原理分为静态仪器和动态仪器。
[0003]常见质谱检测方法为:手动开启高压,离子源离子化待测物质,离子进入质谱进样口,进行检测,直到无信号后,手动关闭高压,人工选择总离子流的一个进样时间,获得对应质谱图。此类方法存在两个问题:1. 功耗高,高压、辅助气体、辅助激光、质谱硬件等各类条件都需打开,处于待命状态,功耗高。特别是气体消耗,浪费近50%的气体,从而带来成本的增加。
[0004]2. 无法获得最优化检测结果。人工选择总离子流的一个进样时间,获得对应质谱图,无法知晓是否为最优质谱图,仅从人工经验判断,既浪费时间,又没有充分利用质谱检测性能。

技术实现思路

[0005]为解决上述现有技术方案中的不足,本专利技术提供了一种灵敏度高、分辨率高的质谱分析方法。
[0006]本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的:质谱分析方法,所述质谱分析方法包括信噪比的获得,所述信噪比的获得包括以下步骤:(A1)待测样品被离子化,并送质谱仪分析;(A2)所述质谱仪非连续地输出质谱图,并对当次及之前获得的第一组质谱图中特征峰的强度排序,强度排序中的第二组质谱图中的特征峰的强度具有最大值;所述第一组质谱图中待测样品的特征峰的信噪比与输出该质谱图的时间存在映射关系,根据当次及之前获得的第一组质谱图的所述映射关系获得信噪比最优时间段;(A3)在所述强度排序中,当第二组质谱图中的特征峰强度超过第一阈值的质谱图的数量超过第二阈值时,且当次获得的质谱图对应的时间不在所述信噪比最优时间段内,则停止放电和气体供应;所述第一阈值,为系数,且,所述第二阈值
为大于10的整数;(A4)在所述第二组质谱图中,取不低于排序的各质谱图;(A5)获得各质谱图中特征峰处的信噪比,并排序;(A6)在信噪比排序中,取不低于排序的各信噪比的平均值,排序不低于排序,作为待测样品的信噪比。
[0007]与现有技术相比,本专利技术具有的有益效果为:1.检测灵敏度和分辨率高;构建了信噪比与时间的关系,结合大数据分析,获取了信噪比最优时间段,该时间段实时优化,作为高压等硬件的关闭条件之一,并且作为优选质谱图的条件之一,充分利用了数据携带的信息,提高了质谱检测的灵敏度与分辨率;2.运行成本低、分析效率高;本申请的质谱分析方法,结合大数据分析,在获取最优数据后,关闭高压等硬件,降低功耗约50%,极大的降低了运行成本;提出了一种大数据最优化质谱分析方法,优选了峰强与信噪比最优时间段,解决了质谱分析中人工经验带来的误差,减少了时间浪费,充分利用质谱检测性能。
附图说明
[0008]参照附图,本专利技术的公开内容将变得更易理解。本领域技术人员容易理解的是:这些附图仅仅用于举例说明本专利技术的技术方案,而并非意在对本专利技术的保护范围构成限制。图中:图1是根据本专利技术实施例的质谱分析方法的流程图。
具体实施方式
[0009]图1和以下说明描述了本专利技术的可选实施方式以教导本领域技术人员如何实施和再现本专利技术。为了解释本专利技术技术方案,已简化或省略了一些常规方面。本领域技术人员应该理解源自这些实施方式的变型或替换将在本专利技术的范围内。本领域技术人员应该理解下述特征能够以各种方式组合以形成本专利技术的多个变型。由此,本专利技术并不局限于下述可选实施方式,而仅由权利要求和它们的等同物限定。
[0010]实施例1:图1给出了本专利技术实施例的质谱分析方法的流程图,如图1所示,所述质谱分析方法包括信噪比的获得,所述信噪比的获得包括以下步骤:(A1)待测样品被离子化,并送质谱仪分析;(A2)所述质谱仪非连续地输出质谱图,并对当次及之前获得的第一组质谱图中特征峰的强度排序,强度排序中的第二组质谱图中的特征峰的强度具有最大值;所述第一组质谱图中待测样品的特征峰的信噪比与输出该质谱图的时间存在映射关系,根据当次及之前获得的第一组质谱图的所述映射关系获得信噪比最优时间段;(A3)在所述强度排序中,当第二组质谱图中的特征峰强度超过第一阈值的质谱图的数量超过第二阈值时,且当次获得的质谱图对应的时间不在所述信噪比最优时间段
内,则停止放电和气体供应;所述第一阈值,为系数,且,所述第二阈值为大于10的整数;(A4)在所述第二组质谱图中,取不低于排序的各质谱图;(A5)获得各质谱图中特征峰处的信噪比,并排序;(A6)在信噪比排序中,取不低于排序的各信噪比的平均值,排序不低于排序,作为待测样品的信噪比。
[0011]为了提高待测样品的信噪比的准确度,进一步地,随着质谱图的不断输出,与当次及之前的质谱图对应的信噪比最优时间段在更新。
[0012]为了提高待测样品的信噪比的准确度,进一步地,各质谱图中,若输出质谱图的时间不在信噪比最优时间段内,舍去该质谱图。
[0013]为了提高待测样品的信噪比的准确度,进一步地,在步骤(A5)中,信噪比的获得方式为:取各质谱图中特征峰左右若干个峰的平均值为噪声,获得各质谱图中特征峰处的信噪比。
[0014]为了提高信噪比最优时间段的准确度,进一步地,在步骤(A2)中,所述信噪比最优时间段的获得方式为:将当次及之前获得的质谱图的所述映射关系作为输入,进入大数据算法(大数据算法包括蚁群择优算法、聚类算法、机器学习算法、各类算法混合等),获得信噪比最优时间段。
[0015]为了提高信噪比最优时间段的准确度,进一步地,在步骤(A2)中,所述信噪比最优时间段的获得方式为:根据当次及之前获得的质谱图的所述映射关系,构建最优化模型,为质谱图的信噪比,为质谱图的输出时间,采用最优化算法获得信噪比最优时间段,所述最优化算法包括牛顿法、梯度下降法、共轭梯度法、拉格朗日乘数法和启发式优化方法中任一种。
[0016]为了提高离子化关闭时间的准确性,进一步地,在步骤(A2)中,强度排序的方式为:根据当次及之前获得的第一组质谱图,获得第一组质谱图中待测样品的特征峰的最大值;比较当次获得的质谱图中特征峰的强度和所述最大值;若当次获得的质谱图中特征峰的强度和所述最大值的比值小于第三阈值,则放弃该质谱图的排序。
[0017]为了科学地保留质谱图以排序,进一步地,所述第三阈值,且。
[0018]实施例2:根据本专利技术实施例1的质谱分析方法的应用例。
[0019]本实施例的质谱分析方法,所述质谱分析方法包括信噪比的获得,所述本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.质谱分析方法,所述质谱分析方法包括信噪比的获得,所述信噪比的获得包括以下步骤:(A1)待测样品被离子化,并送质谱仪分析;(A2)所述质谱仪非连续地输出质谱图,并对当次及之前获得的第一组质谱图中特征峰的强度排序,强度排序中的第二组质谱图中的特征峰的强度具有最大值;所述第一组质谱图中待测样品的特征峰的信噪比与输出该质谱图的时间存在映射关系,根据当次及之前获得的第一组质谱图的所述映射关系获得信噪比最优时间段;(A3)在所述强度排序中,当第二组质谱图中的特征峰强度超过第一阈值的质谱图的数量超过第二阈值时,且当次获得的质谱图对应的时间不在所述信噪比最优时间段内,则停止放电和气体供应;所述第一阈值,为系数,且,所述第二阈值为大于10的整数;(A4)在所述第二组质谱图中,取不低于排序的各质谱图;(A5)获得各质谱图中特征峰处的信噪比,并排序;(A6)在信噪比排序中,取不低于排序的各信噪比的平均值,排序不低于排序,作为待测样品的信噪比。2.根据权利要求1所述的质谱分析方法,其特征在于,随着质谱图的不断输出,与当次及之前的质谱图对应的信噪比最优时间段在更新。3.根据权利要求1所述的质谱分析方法,其特征在于,在步骤(A4)中,各质谱图中,若输出质谱图的时间不在信噪比最优时间段内,舍去该质谱图。4.根据权利要求1所述的质谱分析...

【专利技术属性】
技术研发人员:闻路红王继业姚伟宣曾发明刘云洪欢欢
申请(专利权)人:宁波华仪宁创智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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