【技术实现步骤摘要】
一种晶圆检测用输送装置
[0001]本技术涉及晶圆检测
,具体为一种晶圆检测用输送装置。
技术介绍
[0002]晶圆是指制作硅半导体积体电路所用的硅晶片,其原始材料是硅,高纯度的多晶硅溶解后掺入硅晶体晶种,然后慢慢拉出,形成圆柱形的单晶硅,硅晶棒再经过研磨、抛光、切片后,形成硅晶圆片,也就是晶圆,晶圆表面光洁光滑,不合格的晶圆将无法投入生产,这就需要对晶圆进行检测。
[0003]在对晶圆进行检测时,需要对晶圆进行位置移动,但是移动晶圆的过程并不是检测晶圆的过程,二者无法合二为一,且手工将晶圆从输送带上取下,再将检测完成的晶圆放回到输送带上,对晶圆产品容易造成较大的损伤,为此,我们提出一种晶圆检测用输送装置。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种晶圆检测用输送装置,以解决上述
技术介绍
中提出的手工将晶圆从输送带上取下,再将检测完成的晶圆放回到输送带上,对晶圆产品容易造成较大的损伤的问题。
[0005]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种晶圆检测用输送装置,包括滑板和晶圆卡板 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种晶圆检测用输送装置,包括滑板(1)和晶圆卡板(8),其特征在于:所述滑板(1)的下表面两侧均固定有轮槽(2),且轮槽(2)的内侧均安置有滚轮(3),所述滑板(1)的上表面中部设置有放置槽(4),且放置槽(4)的两侧槽壁均开设有安装槽(5),所述放置槽(4)的内侧安装有转轴(6),且转轴(6)的两端分别卡入安装槽(5)中,所述转轴(6)的外壁固定有套筒(7),所述晶圆卡板(8)固定在套筒(7)的外壁,所述滑板(1)的后侧焊接有托板(10),且托板(10)的上方安置有电机(11),所述电机(11)的输出端均分别与转轴(6)的轴端相连接。2.根据权利要求1所述的一种晶圆检测用输送装置,其特征在于:所述轮槽(2)之间关于滑板(1)的竖直中心线对称,且滚轮(3...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴龙军,
申请(专利权)人:徐州领测半导体科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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