一种控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置制造方法及图纸

技术编号:2743152 阅读:194 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置。它包括PSD探测器、格兰-泰勒棱镜、四分之一波长波片、介质反射镜、聚焦透镜、音圈马达、贴有印版的滚筒,介质反射镜对进行曝光工作激光反射,对进行聚焦探测激光透射,探测激光经格兰-泰勒棱镜、四分之一波长波片、介质反射镜照射到贴有印版的滚筒上,音圈马达上设有聚焦透镜,格兰-泰勒棱镜上反射光反射到PSD探测器上。本发明专利技术的控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置可以使计算机直接制版的外鼓式热敏版设备自动适应不同型号、不同厚度的印版,并且对由于环境温度变化而导致印版热胀冷缩产生的焦距误差进行自动补偿,以保证不同印版、不同环境及不同机器曝光成像精确一致。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于计算机直接制版印刷领域,涉及一种控制CTP系统曝光成像质 量的自动调焦装置。
技术介绍
当前,随着印刷科技的快速发展,计算机直接制版技术(CTP)已得到广泛的 应用,由于CTP技术省去了输出胶片等中间环节,与传统制版工艺相比,CTP 技术具有印刷质量好,生产周期短,劳动力成本低,可以进行远程传版,实现 按需印刷,符合环保要求,具有绿色制版印刷等特点,可以说是未来印刷发展 的一个方向。对于CTP技术来说,所使用的调焦技术和版材质量是影响最终制 版印刷效果的关键所在。CTP版材类型主要分为热敏、紫激光及银盐型三种,其中热敏CTP版材以 其独有的特点,受到印刷界广泛的青睐,被认为是当今最有发展前景的技术之 一。据统计,热敏CTP版材在近年来内已占全球总销量的38n/。,而以往占主流 地位的银盐扩散版下降到39%,其他技术只占23%。热敏CTP是利用热成像技 术进行成像,热敏版的感光范围一般在830nm 1064nm,甚至更宽。由于它是 利用热成像技术,因此可以在黄光或滤除紫外线的日光下处理,并且热敏版可 以还原2001pi、 1% 99%的网点,可以克服光敏成像极易出现模糊,曝光不彻 底,网目调网点晕光等缺点,具有成像质量好,以及耐印力高等优点。不仅如 此,热敏版材只对热敏感,如果没有达到曝光所需的热量,就不会曝光。如果 能量超过了要求,也不会影响质量,更能保证数字信息的完整性。热敏成像也 是有望实现免化学处理的印版技术,是一种纯绿色印版技术,完全符合当前对 国内外对印刷行业提出的高环保要求。目前热敏成像技术已成为商业印刷领域发展的主流技术,而现有的CTP系 统调焦装置不能使印刷设备自动适应不同型号、不同厚度的印版,在环境温度 变化情况下,曝光成像质量较差。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有CTP系统的不足,提供一种控制CTP系统曝光成 像质量的自动调焦装置。控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置包括PSD探测器、格兰一泰勒 棱镜、四分之一波长波片、介质反射镜、聚焦透镜、音圈马达、贴有印版的滚 筒,介质反射镜对进行曝光工作激光反射,对进行聚焦探测激光透射,探测激 光经格兰一泰勒棱镜、四分之一波长波片、介质反射镜照射到贴有印版的滚筒 上,音圈马达上设有聚焦透镜,格兰一泰勒棱镜上反射光反射到PSD探测器上。所述的介质反射镜为对830nm波长激光反射,对630nm波长激光透射。PSD探测器为二维位置敏感传感器。聚焦透镜与贴有印版的滚筒的距离为4.5mm时, 对于830nrn波长激光聚焦,对630nm波长激光光点成像。本专利技术根据光学三角法测距原理,在PSD探测器上激光光点的位移变化反 映印版相对于透镜的相对位置。微处理使用PSD的输出作为参考信号,控制音 圈马达,调节透镜位置,达到自动调节透镜焦距功能。本专利技术的可以使计算机直接制版的外鼓式热敏版设备自动适应不同型号、 不同厚度的印版,并且对由于环境温度变化而导致印版热胀冷縮产生的焦距误 差进行自动补偿,以保证不同印版、不同环境及不同机器曝光成像精确一致。 附图说明附图是控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置结构示意图;图中PSD 探测器1、格兰一泰勒棱镜2、四分之一波长波片3、介质反射镜4、聚焦透镜5、 音圈马达6、滚筒7。 具体实施例方式附图所示,控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置包括PSD探测器1、 格兰一泰勒棱镜2、四分之一波长波片3、介质反射镜4、聚焦透镜5、音圈马 达6、贴有印版的滚筒7,介质反射镜4对进行曝光工作激光反射,对进行聚焦 探测激光透射,探测激光经格兰一泰勒棱镜2、四分之一波长波片3、介质反射 镜4照射到贴有印版的滚筒7上,音圈马达6上设有聚焦透镜5,格兰一泰勒棱 镜2上反射光反射到PSD探测器1上。所述的介质反射镜4为对830nm波长激光反射,对630nm波长激光透射。 PSD探测器为二维位置敏感传感器。聚焦透镜与贴有印版的滚筒的距离为 4.5mm时,对于830nm波长激光聚焦,对630nm波长激光光点成像。本专利技术的工作过程如下1) 介质反射镜对进行曝光工作的830nm激光反射,对进行调焦探测的 650nm激光透射,把调焦探测激光耦合到CTP工作光路中。2) 650nm激光经格兰一泰勒棱镜、四分之一波长波片、照射到到印版上, 反射后再返回透镜、四分之一波长波片;到达格兰一泰勒棱镜时偏振方向改变 九十度照射到PSD上。此时印版上调焦探测激光所形成的光点,成像到PSD探 测器上。3) 根据光学三角法测距原理,通过PSD探测650nm激光光点的位移变化 确定印版相对于透镜的相对位置,PSD探测器探测信号经A/D转换到达微处理, 微处理使用PSD输出作为参考信号,控制音圈马达,利用音圈马达超快动态响 应,来调节透镜位置,达到自动调节透镜焦距功能。传感距离检测精度小于5微米,频响带宽大于2KHz,执行机构频响带宽大 于500Hz。权利要求1.一种控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置,其特征在于包括PSD探测器(1)、格兰—泰勒棱镜(2)、四分之一波长波片(3)、介质反射镜(4)、聚焦透镜(5)、音圈马达(6)、贴有印版的滚筒(7),介质反射镜(4)对进行曝光工作激光反射,对进行聚焦探测激光透射,探测激光经格兰—泰勒棱镜(2、四分之一波长波片(3)、介质反射镜(4)照射到贴有印版的滚筒(7)上,音圈马达(6)上设有聚焦透镜(5),格兰—泰勒棱镜(2)上反射光反射到PSD探测器(1)上。2. 根据权利要求1所述的一种控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置, 其特征在于,所述的介质反射镜(4)为对830nm波长激光反射,对630nm波 长激光透射。3. 根据权利要求1所述的一种控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置, 其特征在于,所述的PSD探测器(1)为二维位置敏感传感器。4. 根据权利要求1所述的一种控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置, 其特征在于,所述的聚焦透镜(5)与贴有印版的滚筒(7)的距离为4.5mm时, 对于830nm波长激光聚焦,对630nm波长激光光点成像。全文摘要本专利技术公开了一种控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置。它包括PSD探测器、格兰—泰勒棱镜、四分之一波长波片、介质反射镜、聚焦透镜、音圈马达、贴有印版的滚筒,介质反射镜对进行曝光工作激光反射,对进行聚焦探测激光透射,探测激光经格兰—泰勒棱镜、四分之一波长波片、介质反射镜照射到贴有印版的滚筒上,音圈马达上设有聚焦透镜,格兰—泰勒棱镜上反射光反射到PSD探测器上。本专利技术的控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置可以使计算机直接制版的外鼓式热敏版设备自动适应不同型号、不同厚度的印版,并且对由于环境温度变化而导致印版热胀冷缩产生的焦距误差进行自动补偿,以保证不同印版、不同环境及不同机器曝光成像精确一致。文档编号G03F7/20GK101364054SQ200810120800公开日2009年2月11日 申请日期2008年9月5日 优先权日2008年9月5日专利技术者晖 唐, 李九生, 李向军 申请人:中国计量学院本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种控制CTP系统曝光成像质量的自动调焦装置,其特征在于包括PSD探测器(1)、格兰-泰勒棱镜(2)、四分之一波长波片(3)、介质反射镜(4)、聚焦透镜(5)、音圈马达(6)、贴有印版的滚筒(7),介质反射镜(4)对进行曝光工作激光反射,对进行聚焦探测激光透射,探测激光经格兰-泰勒棱镜(2、四分之一波长波片(3)、介质反射镜(4)照射到贴有印版的滚筒(7)上,音圈马达(6)上设有聚焦透镜(5),格兰-泰勒棱镜(2)上反射光反射到PSD探测器(1)上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李九生李向军唐晖
申请(专利权)人:中国计量学院
类型:发明
国别省市:86[中国|杭州]

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