狭缝X射线照相装置制造方法及图纸

技术编号:2735334 阅读:177 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术包括适于用平面扇形射束,通过狭缝隔板对被辐照物体进行扫描的X射线源.狭缝隔板被分成同可控X射线衰减装置相联系的部分,控制衰减装置的控制电路包括探测通过物体的辐射的探测装置.探测装置分成与狭缝隔板各部分对应的部分.对狭缝隔板各部分控制电路都包括比较电路,它比较探测装置输出和参考信号.其输出端同激励电路耦合.激励电路控制衰减装置,使探测装置相应部分的输出和参考信号之差持续趋向零值.(*该技术在2005年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
狭缝X射线照相装置,它包括一种X射线源,该X射线源适于用在工作过程中进行扫描运动的平面扇形射束来照射被物体,该狭缝隔板被分成多个并列部分;探测装置,用于在工作过程中产生电输出信号,并且同设置在物体后面的X射线探测器相配合,该探测装置被分成相应于狭缝隔板各部分的部分;同探测装置相连的狭缝控制装置,用于控制同各个狭缝部分相配合的X射线衰减部件,其特征在于狭缝控制装置对于狭缝和探测装置的每对相对应的部分,都包含有激励电路,在这种激励电路的作用下,至少一个同特定的狭缝部分相配合的衰减部件的位置会发生变化,而且这种激励电路包括在控制电路中,该控制电路由通过这个狭缝部分、贯穿物体并照射到探测装置的相应部分上的辐射而闭合起来,这种控制电路还包括比较电路,该比较电路的输出端同激励电路耦合,它的一个输入端加有来自探测装置部分的电信号,另一个输入端加有预置的参考信号,激励电路受到了适当的控制,从而使比较电路的输入信号之差持续地趋向零值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:西蒙达英克哈哥夫拉斯布洛姆
申请(专利权)人:老代尔夫特光学工业有限公司
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]

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