数字千分尺制造技术

提供了一种数字千分尺，其适合于测量作为强磁体的待测对象物。该数字千分尺包括主体框架、测微螺杆、套管部和检测测微螺杆的移位的移位检测器。主体框架包括U字型框架部和测微螺杆保持部，测微螺杆保持部设置于U字型框架部的一端侧以便在远离砧座的方向上具有长度。测微螺杆由测微螺杆保持部保持，被设置成能够相对于砧座在轴向上进退，并且测微螺杆在一个端面上包括接触子。主体框架和测微螺杆由非磁性材料形成。性材料形成。性材料形成。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】数字千分尺


[0001]本专利技术涉及数字千分尺。

技术介绍

[0002]近来，对混合动力车辆和电动车辆的需求已经增加，并且永磁同步马达被大量研发和制造。强磁体对于高性能永磁同步马达必不可少。因此，要结合在永磁同步马达中的磁体的加工精度很重要。
[0003]通常，诸如千分尺或卡尺等的小型测量装置是方便的并且适于测量小型零件的加工精度，但是小型测量装置的诸如框架等的主要部分是铁(铸铁)产品。因此，当作为强磁体的待测对象物靠近小型测量装置时，两者彼此强力粘住。于是，无法进行测量，并且难以将它们分开。因此，如果小型零件是强磁体，则需要使用诸如坐标测量机等的大型测量机来测量小型零件。这极大地影响了制造效率和成本。
[0004]已经提出了适于在磁场中使用的多种小型测量装置。然而，目前还没有在实际使用中耐用的数字型装置。
[0005]现有技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1：日本实开昭51-82480
[0008]专利文献2：日本特开昭60-236001
[0009]专利文献3：日本实开昭50-50053
[0010]专利文献4：日本特开2009-243883
[0011]专利文献5：日本特许4072282
[0012]专利文献6：日本技术注册第3184265
[0013]专利文献7：日本特开昭58-115301

技术实现思路

[0014]专利技术要解决的问题
[0015]为了使小型测量装置适合在磁场中使用，小型测量装置的组成部分可以由非磁性材料形成。然而，具有强度的非磁性材料是难以切割的材料。例如，在千分尺中，需要高精度地在测微螺杆(spindle)上形成外螺纹并在主体框架上攻丝内螺纹，但是难以在非磁性材料上进行这种加工。因此，期望能够测量作为强磁体的待测对象物的实用的精确数字千分尺。
[0016]本专利技术的目的是提供一种数字千分尺，其适于测量作为强磁体的待测对象物。
[0017]用于解决问题的方案
[0018]根据本专利技术的数字千分尺包括：
[0019]主体框架，其包括U字型框架部和测微螺杆保持部，所述U字型框架部包括设置于U字型框架的一端的内侧的砧座，所述测微螺杆保持部设置于所述U字型框架部的另一端侧
并且具有在远离所述砧座的方向上的长度；
[0020]测微螺杆，其由所述测微螺杆保持部保持，所述测微螺杆能够相对于所述砧座在轴向上进退，并且所述测微螺杆在一个端面上包括接触子；
[0021]套管部，其将旋转操作转换为所述测微螺杆的直线运动；和
[0022]移位检测器，其检测所述测微螺杆的移位，其中，
[0023]所述主体框架和所述测微螺杆由非磁性材料形成，
[0024]所述套管部和所述移位检测器布置于所述测微螺杆保持部的另一端侧，并且
[0025]所述测微螺杆保持部的长度为预定值以上。
[0026]在本专利技术的实施方式中，优选的是，
[0027]所述测微螺杆保持部的长度为测量范围d以上，
[0028]其中，所述测量范围d是当所述测微螺杆最远离所述砧座时所述砧座与所述接触子之间的距离。
[0029]在本专利技术的实施方式中，优选的是，所述测微螺杆保持部的长度为200mm以上。
[0030]在本专利技术的实施方式中，优选的是，
[0031]所述套管部包括：
[0032]内套筒，其具有沿着轴线延伸的狭缝并固定地设置于所述主体框架的另一端侧；和
[0033]外套筒，其外套于所述内套筒并能够在周向上旋转，并且所述外套筒在内周面上具有螺旋槽，
[0034]所述测微螺杆包括接合销，
[0035]所述接合销固定地设置到所述测微螺杆并穿过所述狭缝与所述螺旋槽接合，并且
[0036]所述套管部设置于所述测微螺杆保持部的另一端。
[0037]在本专利技术的实施方式中，优选的是，所述移位检测器设置于所述套管部的另一端。
[0038]在本专利技术的实施方式中，优选的是，
[0039]所述移位检测器包括：
[0040]接触子，其从所述套管部的另一端插入所述套管部内部以与所述测微螺杆的另一端一体地移动；和
[0041]编码器，其包括：刻度尺，其与所述接触子一体地移动；以及检测头，其检测相对于所述刻度尺的相对位置或相对移位量。
[0042]在本专利技术的实施方式中，数字千分尺优选地包括第一保护构件，所述第一保护构件由非磁性材料形成并且围绕所述套管部布置在与所述套管部分开预定距离的位置处。
[0043]在本专利技术的实施方式中，数字千分尺优选地包括第二保护构件，所述第二保护构件由非磁性材料形成并且围绕所述移位检测器布置在与所述移位检测器分开预定距离的位置处。
[0044]根据本专利技术的数字千分尺包括：
[0045]主体框架，其为U字型并且包括设置于所述U字型的一端的内侧的砧座；
[0046]测微螺杆，其设置于所述主体框架的另一端侧，以能够相对于所述砧座沿轴向进退，并且所述测微螺杆在一端面上包括接触子；
[0047]套管部，其设置于所述主体框架的另一端侧，并且所述套管部被构造成接收所述
测微螺杆的另一端并将旋转操作转换成所述测微螺杆的直线运动；和
[0048]编码器，其包括：主刻度尺，其与所述测微螺杆一体地移动；以及检测头，其布置于所述主体框架并检测相对于所述主刻度尺的相对位置或相对移位量，其中，
[0049]所述主体框架和所述测微螺杆由非磁性材料形成，
[0050]所述套管部包括：
[0051]内套筒，其具有沿着轴线延伸的狭缝并固定地设置于所述主体框架的另一端侧；和
[0052]外套筒，其外套于所述内套筒并能够在周向上旋转，并且所述外套筒在内周面上具有螺旋槽，
[0053]所述测微螺杆包括接合销，并且
[0054]所述接合销固定地设置到所述测微螺杆并穿过所述狭缝与所述螺旋槽接合。
[0055]在本专利技术的实施方式中，优选的是，
[0056]所述主体框架由奥氏体不锈钢、纯铝或非磁性铝合金形成，并且
[0057]所述测微螺杆由奥氏体不锈钢形成。
[0058]在本专利技术的实施方式中，优选的是，所述砧座和所述接触子由陶瓷形成。
[0059]在本专利技术的实施方式中，数字千分尺优选地包括引导衬套，其设置于所述主体框架的另一端侧，在靠近所述砧座的位置支撑所述测微螺杆，其中，
[0060]所述引导衬套由黄铜形成。
[0061]在本专利技术的实施方式中，优选的是，所述内套筒由黄铜、纯铝、非磁性铝合金或奥氏体不锈钢形成。
[0062]在本专利技术的实施方式中，优选的是，所述编码器是电容编码器、光电编码器、电磁感应编码器或磁性编码器。
[0063]在本专利技术的实施方式中，优选的是，
[0064]所述主体框架由奥氏体不锈钢形成，
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种数字千分尺，其包括：主体框架，其包括U字型框架部和测微螺杆保持部，所述U字型框架部包括设置于U字型框架的一端的内侧的砧座，所述测微螺杆保持部设置于所述U字型框架部的另一端侧并且具有在远离所述砧座的方向上的长度；测微螺杆，其由所述测微螺杆保持部保持，所述测微螺杆被设置成能够相对于所述砧座在轴向上进退，并且所述测微螺杆在一个端面上包括接触子；套管部，其被构造成将旋转操作转换为所述测微螺杆的直线运动；和移位检测器，其被构造成检测所述测微螺杆的移位，其中，所述主体框架和所述测微螺杆由非磁性材料形成，所述套管部和所述移位检测器布置于所述测微螺杆保持部的另一端侧，并且所述测微螺杆保持部的长度为预定值以上。2.根据权利要求1所述的数字千分尺，其特征在于，所述测微螺杆保持部的长度为测量范围d以上，其中，所述测量范围d是当所述测微螺杆最远离所述砧座时所述砧座与所述接触子之间的距离。3.根据权利要求1或2所述的数字千分尺，其特征在于，所述测微螺杆保持部的长度为200mm以上。4.根据权利要求1至3中任一项所述的数字千分尺，其特征在于，所述套管部包括：内套筒，其具有沿着轴线延伸的狭缝并固定地设置于所述主体框架的另一端侧；和外套筒，其外套于所述内套筒并能够在周向上旋转，并且所述外套筒在内周面上具有螺旋槽，所述测微螺杆包括接合销，所述接合销固定地设置到所述测微螺杆并穿过所述狭缝与所述螺旋槽接合，并且所述套管部设置于所述测微螺杆保持部的另一端。5.根据权利要求4所述的数字千分尺，其特征在于，所述移位检测器设置于所述套管部的另一端。6.根据权利要求5所述的数字千分尺，其特征在于，所述移位检测器包括：接触子，其从所述套管部的另一端插入所述套管部内部以与所述测微螺杆的另一端一体地移动；和编码器，其包括：刻度尺，其被构造为与所述接触子一体地移动；以及检测头，其被构造为检测相对于所述刻度尺的相对位置或相对移位量。7.根据权利要求1至6中任一项所述的数字千分尺，其特征在于，所述数字千分尺还包括第一保护构件，所述第一保护构件由非磁性材料形成并且围绕所述套管部布置在与所述套管部分开预定距离的位置处。8.根据权利要求1至7中任一项所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：松本光司，藤川勇二，谷中慎一郎，斋藤修，
申请(专利权)人：株式会社三丰，
类型：发明
国别省市：