电路板测试装置制造方法及图纸

技术编号:27155574 阅读:31 留言:0更新日期:2021-01-27 23:50
本实用新型专利技术公开了一种电路板测试装置,包括安装部、测试部、驱动部及定位部,第一驱动组件与安装部连接,并能够驱动安装部移动,第二驱动组件与测试部连接,并能够驱动测试部移动,视觉定位元件能够检测待测元件及测试元件的位置,并向所述驱动部发送信号,以使第一驱动部对安装部进行位置调整和/或第二驱动部对测试部进行位置调整。本实施例中的电路板测试设备通过视觉定位元件对测试元件及待测元件进行位置检测,测试元件与待测元件具有较高的定位精度,保证了测试装置针对待测元件测试结果的可靠度;另外,驱动部能够根据视觉定位元件的检测数据对待测元件及测试元件的位置进行实时调整,实现自动化定位,提高电路板测试装置的测试效率。装置的测试效率。装置的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
电路板测试装置


[0001]本技术涉及测试设备及电路板制备
,尤其是涉及一种电路板测试装置。

技术介绍

[0002]电路板的应用避免了人工接线易出差错的问题,并且能够实现电子元器件的自动贴装、焊接,具有较高的生产效率,并已广泛应用于通讯设备、计算机、汽车行业等领域中,为保证电路板的使用性能,在出厂之前需对电路板的各项性能进行测试。
[0003]电路板测试时需设置与待测电路板进行电导通的测试元件,传统测试装置一般采用机械定位的方式,利用安装部件的自身结构特点将测试元件与待测电路板进行对接,定位精度较低,无法保证测试元件与待测电路板的每一引脚连接,导致测试结果出现误差,严重影响电路板的测试效率及测试结果的可靠性。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本技术提出一种电路板测试装置,能够提高定位精度及测试结果的可靠性。
[0005]本技术的一个实施例提供了一种电路板测试装置,包括:
[0006]安装部,包括用于放置待测元件的第一治具;
[0007]测试部,包括用于与待测元件连接的测试元件;
[0008]驱动部,包括第一驱动组件及第二驱动组件,所述第一驱动组件与所述安装部连接,并能够驱动所述安装部移动,所述第二驱动组件与所述测试部连接,并能够驱动所述测试部移动;
[0009]定位部,包括视觉定位元件,所述视觉定位元件能够检测所述待测元件及所述测试元件的位置,并向所述驱动部发送信号,以使所述第一驱动组件对所述安装部进行位置调整和/或所述第二驱动组件对所述测试部进行位置调整。
[0010]本技术实施例中的电路板测试装置至少具有如下有益效果:
[0011]本实施例中的电路板测试设备通过视觉定位元件对测试元件及待测元件进行位置检测,不依赖于测试元件及待测元件的安装结构,测试元件与待测元件具有较高的定位精度,保证了测试装置针对待测元件测试结果的可靠度;另外,驱动部能够根据视觉定位元件的检测数据对待测元件及测试元件的位置进行实时调整,实现自动化定位,提高电路板测试装置的测试效率。
[0012]根据本技术的另一些实施例的电路板测试装置,所述测试元件包括第二治具及多个探针,所述探针呈竖直状态固定于所述第二治具上。
[0013]根据本技术的另一些实施例的电路板测试装置,所述探针在所述第二治具上交错排列。
[0014]根据本技术的另一些实施例的电路板测试装置,所述第二治具上设有不少于
两列的所述探针。
[0015]根据本技术的另一些实施例的电路板测试装置,所述第一驱动组件包括沿X轴方向延伸的第一导轨及滑动连接于所述第一导轨上的第一滑块,所述第一治具能够跟随所述第一滑块移动。
[0016]根据本技术的另一些实施例的电路板测试装置,所述第一驱动组件包括沿Y轴方向延伸的第二导轨及滑动连接于所述第二导轨上的第二滑块,所述第一导轨安装于所述第二滑块上。
[0017]根据本技术的另一些实施例的电路板测试装置,所述第一驱动组件还包括转盘,所述转盘能够基于Z轴转动,所述第一治具安装于所述转盘上。
[0018]根据本技术的另一些实施例的电路板测试装置,所述第一治具设有吸附孔及用于容纳所述待测元件的安装槽,所述吸附孔与所述安装槽连通。
[0019]根据本技术的另一些实施例的电路板测试装置,所述第二驱动组件包括沿Z轴方向延伸的第三导轨及滑动连接于所述第三导轨上的第三滑块,所述测试元件能够跟随所述第三滑块移动。
[0020]根据本技术的另一些实施例的电路板测试装置,所述第二驱动组件还包括沿X轴延伸的第四导轨及滑动连接于所述第四导轨上的第四滑块,所述第三导轨安装于所述第四滑块上。
附图说明
[0021]图1是电路板测试装置一个实施例的结构示意图;
[0022]图2是图1中第一驱动组件的结构示意图;
[0023]图3是图1中第二驱动组件的结构示意图;
[0024]图4是待测元件一个实施例的结构示意图;
[0025]图5是测试元件一个实施例的结构示意图;
[0026]图6是待测元件测试状态的结构示意图;
[0027]图7是图6中待测元件测试状态的剖视图。
具体实施方式
[0028]以下将结合实施例对本技术的构思及产生的技术效果进行清楚、完整地描述,以充分地理解本技术的目的、特征和效果。显然,所描述的实施例只是本技术的一部分实施例,而不是全部实施例,基于本技术的实施例,本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例,均属于本技术保护的范围。
[0029]在本技术实施例的描述中,如果涉及到方位描述,例如“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。
[0030]在本技术实施例的描述中,如果某一特征被称为“设置”、“固定”、“连接”、“安装”在另一个特征,它可以直接设置、固定、连接在另一个特征上,也可以间接地设置、固定、连接、安装在另一个特征上。在本技术实施例的描述中,如果涉及到“若干”,其含义是
一个以上,如果涉及到“多个”,其含义是两个以上,如果涉及到“大于”、“小于”、“超过”,均应理解为不包括本数,如果涉及到“以上”、“以下”、“以内”,均应理解为包括本数。如果涉及到“第一”、“第二”,应当理解为用于区分技术特征,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0031]图1、图2、图3依次示出了电路板测试装置、第一驱动组件310及第二驱动组件320的结构示意图,参照图1至图3,本实施例中的电路板测试装置包括安装部100、测试部200、驱动部300及定位部400;安装部100包括第一治具110,第一治具110用于安装待测元件101,测试部200包括用于与待测元件101连接的测试元件210,测试元件210与待测元件101连接后形成电导通,进而可对待测元件101进行测试;驱动部300包括第一驱动组件310及第二驱动组件320,第一治具110与第一驱动组件310连接,并能够在第一驱动组件310的带动下移动,测试元件210与第二驱动组件320连接,并在第二驱动组件320的带动下移动,第一治具110与测试元件210的移动过程中实现测试元件210与待测元件101之间的相互靠近或远离,待测元件101靠近测试元件210时可与测试元件210连接并进行测试,待测元件101远离测试元件210时,可对待测元件101进行拆卸或替换;定位部400包括视觉定位元件410,视觉定位元件410能够对待测元件101及测试元件210的位置进行检测,并向驱动部300本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路板测试装置,其特征在于,包括:安装部,包括用于放置待测元件的第一治具;测试部,包括用于与待测元件连接的测试元件;驱动部,包括第一驱动组件及第二驱动组件,所述第一驱动组件与所述安装部连接,并能够驱动所述安装部移动,所述第二驱动组件与所述测试部连接,并能够驱动所述测试部移动;定位部,包括视觉定位元件,所述视觉定位元件能够检测所述待测元件及所述测试元件的位置,并向所述驱动部发送信号,以使所述第一驱动组件对所述安装部进行位置调整和/或所述第二驱动组件对所述测试部进行位置调整。2.根据权利要求1所述的电路板测试装置,其特征在于,所述测试元件包括第二治具及多个探针,所述探针呈竖直状态固定于所述第二治具上。3.根据权利要求2所述的电路板测试装置,其特征在于,所述探针在所述第二治具上交错排列。4.根据权利要求2所述的电路板测试装置,其特征在于,所述第二治具上设有不少于两列的所述探针。5.根据权利要求1所述的电路板测试装置,其特征在于,所述第一驱动组件包括沿X轴方向延伸的...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄亮邵勇锋刘龑黄龙
申请(专利权)人:深圳橙子自动化有限公司
类型:新型
国别省市:

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