高密度测点转接测试治具及转接方法技术

本发明专利技术涉及高密度测点转接测试治具，包括底板，所述底板的顶端连接有按钮，且按钮的后侧安装有显示屏，所述显示屏的一侧固定连接有支板，且支板的顶端安装有顶板，所述底板的表面连接有测试机构，所述测试机构的内部包括有绝缘层，且绝缘层的表面等距间隔安装有导电层。本发明专利技术通过设置了测试机构，通过绝缘层与导电层组成的导电胶条，在利用导电胶条的垂直导电原理的作用下，与其上下面接触的导电测点，通过导电胶条实现上测点与对应位置的下测点连通，没有测点的位置保持绝缘独立，从而实现探针转接的对等功能，并且通过导电胶条自身的密度导通、绝缘特性，可以实现探针因间距问题而不能实现的高密度产品测点的转接。题而不能实现的高密度产品测点的转接。

【技术实现步骤摘要】
高密度测点转接测试治具及转接方法


[0001]本专利技术涉及高密度测点转接测试治具，属于非标自动


技术介绍

[0002]在非标自动化行业，经常会有测试PCBA的导通，短路，转接外部设备测试PCBA的产品性能要求。通常采用探针扎PCBA的相关测试点或者连接器管脚，再把信号转接至其外部测试辅助设备及仪器，配合相关软件测试PCBA的合格情况。
[0003]现有的测点转接测试治具，探针由于受到体积和间距的限制，对于密度较高，间距小于0.2mm的产品测点无法满足要求，并且不具备对待测物进行固定的机构，而且不具备对压板进行可调节的机构，从而那使测试治具对加工工艺要求极高，组装容易造成设备不良和测试失效率高，稳定性差,以及维护困难，为此我们提出高密度测点转接测试治具及转接方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术要解决的技术问题克服现有的缺陷，提供高密度测点转接测试治具及转接方法，本专利技术结构简单，使用方便，可以完成高密度测点的产品测试,达到更好的测试效果，且稳定性好，方便维护，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术提供了如下的技术方案：高密度测点转接测试治具及转接方法，包括底板，所述底板的顶端连接有按钮，且按钮的后侧安装有显示屏，所述显示屏的一侧固定连接有支板，且支板的顶端安装有顶板，所述底板的表面连接有测试机构，所述测试机构的内部包括有绝缘层，且绝缘层的表面等距间隔安装有导电层，所述导电层的底部连接有FPC触点，且FPC触点的底部安装有PCB金手指，所述FPC触点的顶部连接有FPC板，且FPC板的后端面固定安装有测试板，所述底板的顶部安装有缓冲机构，且缓冲机构的后端面连接有调节机构，所述底板的表面安装有限位机构。
[0006]进一步而言，所述FPC触点关于导电层的横轴线等距设置有两组，且FPC触点的中轴线与PCB金手指的中轴线相重合。
[0007]进一步而言，所述缓冲机构的内部包括有连接块，且连接块的底端固定安装有连接杆，所述连接杆的外壁套设有弹簧，且连接杆的底端固定安装有第一滑块，所述第一滑块底部滑动连接有第一滑槽，且第一滑槽的外壁安装有连接管，所述连接管的底端固定连接有压板，且压板的顶部安装有安装杆，所述安装杆的顶端连接有操作杆，且操作杆的后端面安装有背板。
[0008]进一步而言，所述连接杆通过第一滑块、第一滑槽与连接管构成滑动结构，且连接管通过弹簧与连接块构成弹性结构。
[0009]进一步而言，所述调节机构的内部包括有贯穿槽，且贯穿槽的内壁活动插接有插杆，所述插杆的外壁螺纹连接有螺纹块。
[0010]进一步而言，所述插杆通过贯穿槽、螺纹块与顶板构成固定结构，且顶板的中轴线
与贯穿槽的中轴线相重合。
[0011]进一步而言，所述限位机构的内部包括有第二滑槽，且第二滑槽的内壁滑动连接有第二滑块，所述第二滑块的顶端固定连接有压杆。
[0012]进一步而言，所述压杆通过第二滑槽、第二滑块与底板构成滑动结构，且压杆的中轴线与FPC板的中轴线相重合。
[0013]高密度测点转接测试治具及转接方法，主要包括4个步骤：步骤1：将待测物在测试板表面放置、步骤2：由绝缘层、导电层组成的导电胶条对待测物起上下连通电气的作用、步骤3：操作操作杆，使压板给予待测物一定压力，使导电胶条上下面完全接触，形成上下通路、步骤4：通过PCB金手指把待测物的测点逐一转接至外部测试仪表。
[0014]所述步骤1的详细内容如下：将待测物在测试板表面放置，并根据待测物的大小通过第二滑槽、第二滑块移动压杆对待测物进行固定；所述步骤2的详细内容如下：由绝缘层、导电层组成的导电胶条对待测物起上下连通电气的作用，并通过PCB金手指模拟待测物的测点位置和大小；所述步骤3的详细内容如下：操作操作杆，使压板给予待测物一定压力，使导电胶条通过绝缘层、导电层上下面完全接触，形成上下通路；所述步骤4的详细内容如下：通过PCB金手指把待测物的测点逐一转接至外部测试仪表，从而使信号转接至其外部测试辅助设备及仪器，配合相关软件测试PCBA的合格情况。
[0015]本专利技术的技术效果和优点：1、本专利技术通过设置了测试机构，通过绝缘层与导电层组成的导电胶条，在利用导电胶条的垂直导电原理的作用下，与其上下面接触的导电测点，通过导电胶条实现上测点与对应位置的下测点连通，没有测点的位置保持绝缘独立，从而实现探针转接的对等功能，并且通过导电胶条自身的密度导通、绝缘特性，可以实现探针因间距问题而不能实现的高密度产品测点的转接，通过采用导电胶条代替探针，可以完成高密度0.05mm测点的产品测试，在非标准测试行业测试PCBA，伴随着产品的越来越集成化，高密度小体积化，此测试应用方案可应用于来料FPC测试，PCBA接口测试，PCBA外挂转接测试等，会体现出相比探针测试更多更优秀的实用价值。
[0016]2、本专利技术通过设置了缓冲机构，通过操作操作杆，在安装杆的作用下，则使安装杆带动压板对待测物进行施加压力，在弹簧的弹性作用下，则使压板受力活动，从而使在第一滑块、第一滑槽的滑动作用下，则使连接杆在连接管内部滑动，通过这样的设置，可以使弹簧对压板与待测物的压力进行缓冲，避免压板对待测物抵压过紧，有效的防止的待测物损坏，确保测试的精准度。
[0017]3、本专利技术通过设置了调节机构，通过背板与插杆的固定连接，则使背板可以通过插杆、贯穿槽在顶板任意位置进行固定，从而使用户可以根据不同大小、类型的待测物进行调节，通过这样的设置，可以使测试治具的使用范围更广，提高了测试治具的灵活性，并且结构简单、操作方便。
[0018]4、本专利技术通过设置了限位机构，将待测物在测试板表面放置，根据不同大小的待测物，通过第二滑槽、第二滑块滑动压杆，则使压杆在一侧对待测物进行固定，通过这样的的设置，可以使待测物在测试板表面保持稳定，并且压杆可以更加实际需要进行调节，同时不影响测试治具的正常使用。
附图说明
[0019]附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。
[0020]图1是本专利技术的主视图；图2是本专利技术的测试机构结构示意图；图3是本专利技术的缓冲机构结构示意图；图4是本专利技术的调节机构结构示意图；图5是本专利技术的限位机构结构示意图。
[0021]图中标号：1、底板；2、按钮；3、显示屏；4、支板；5、顶板；6、测试机构；601、绝缘层；602、导电层；603、FPC触点；604、PCB金手指；605、FPC板；606、测试板；7、缓冲机构；701、连接块；702、连接杆；703、弹簧；704、第一滑块；705、第一滑槽；706、连接管；707、压板；708、安装杆；709、操作杆；710、背板；8、调节机构；801、贯穿槽；802、插杆；803、螺纹块；9、限位机构；901、第二滑槽；902、第二滑块；903、压杆。
具体实施方式
[0022]以下结合附图对本专利技术的优选实施例进行说明，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.高密度测点转接测试治具，包括底板（1），其特征在于：所述底板（1）的顶端连接有按钮（2），且按钮（2）的后侧安装有显示屏（3），所述显示屏（3）的一侧固定连接有支板（4），且支板（4）的顶端安装有顶板（5），所述底板（1）的表面连接有测试机构（6），所述测试机构（6）的内部包括有绝缘层（601），且绝缘层（601）的表面等距间隔安装有导电层（602），所述导电层（602）的底部连接有FPC触点（603），且FPC触点（603）的底部安装有PCB金手指（604），所述FPC触点（603）的顶部连接有FPC板（605），且FPC板（605）的后端面固定安装有测试板（606），所述底板（1）的顶部安装有缓冲机构（7），且缓冲机构（7）的后端面连接有调节机构（8），所述底板（1）的表面安装有限位机构（9）。2.根据权利要求1所述的高密度测点转接测试治具，其特征在于：所述FPC触点（603）关于导电层（602）的横轴线等距设置有两组，且FPC触点（603）的中轴线与PCB金手指（604）的中轴线相重合。3.根据权利要求1所述的高密度测点转接测试治具，其特征在于：所述缓冲机构（7）的内部包括有连接块（701），且连接块（701）的底端固定安装有连接杆（702），所述连接杆（702）的外壁套设有弹簧（703），且连接杆（702）的底端固定安装有第一滑块（704），所述第一滑块（704）底部滑动连接有第一滑槽（705），且第一滑槽（705）的外壁安装有连接管（706），所述连接管（706）的底端固定连接有压板（707），且压板（707）的顶部安装有安装杆（708），所述安装杆（708）的顶端连接有操作杆（709），且操作杆（709）的后端面安装有背板（710）。4.根据权利要求3所述的高密度测点转接测试治具，其特征在于：所述连接杆（702）通过第一滑块（704）、第一滑槽（705）与连接管（706）构成滑动结构，且连接管（706）通过弹簧（703）与连接块（701）构成弹性结构。5.根据权利要求1所述的高密度测点转接测试治具，其特征在于：所述调节机构（8）的内部包括有贯穿槽（801），且贯穿槽（801）的内壁活动插接有插杆（802），所述插杆（802）的外壁螺纹连接有螺纹块（803）。6.根据权利要求5所述的高密度...

【专利技术属性】
技术研发人员：程波，王雄，廖谨波，
申请(专利权)人：苏州市方普电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：