一种触控显示基板及其测试方法、制造方法技术

本发明专利技术实施例是关于一种触控显示基板及其测试方法、制造方法。该触控显示基板包括衬底基板和设置于所述衬底基板上的触控电极层，其中，所述触控电极层包括：多条触摸驱动电极，每一条所述触摸驱动电极的两端均引出一第一电极走线，各所述第一电极走线分别连接至所述触摸显示基板的绑定区；多条触摸感应电极，与所述多条触摸驱动电极交叉绝缘设置，每一条所述触摸感应电极的一端引出一第二电极走线并连接至所述触摸显示基板的绑定区，每一条所述触摸感应电极的另一端引出一第三电极走线并与测试块相连，所述测试块用于测试开路。本发明专利技术实施例既能测试触摸感应电极通道的短路，又能测试触摸感应电极通道的开路，进而提高了触控显示基板的制作良率。控显示基板的制作良率。控显示基板的制作良率。

【技术实现步骤摘要】
一种触控显示基板及其测试方法、制造方法


[0001]本专利技术实施例涉及显示面板
，尤其涉及一种触控显示基板及其测试方法、制造方法。

技术介绍

[0002]有触摸功能的OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)显示器主要包括In cell结构和On cell结构。In cell结构是指将触控显示基板放在显示面板的上基板之下，而On cell结构则是将触控显示基板放在显示面板的上基板之上。
[0003]相关技术中，由于对OLED显示器的On Cell结构有窄边框的设计要求，触控显示基板一般采用Tx(触摸驱动电极)双通道，Rx(触摸感应电极)单通道的设计方案。关于上述技术方案，专利技术人发现至少存在如下一些技术问题：例如，双通道的Tx一般可以通过探针来测试Tx通道的开路和短路，而单通道的Rx则只可以用探针来测试短路，不可以测试Rx通道的开路，导致Rx通道的开路在制程中无法监测，存在出现批量性功能不良的风险。因此，有必要改善上述相关技术方案中存在的一个或者多个问题。
[0004]需要注意的是，本部分旨在为权利要求书中陈述的本专利技术的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例的目的在于提供一种触控显示基板及其测试方法、制造方法，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的一个或者多个问题。
[0006]根据本专利技术实施例的第一方面，提供一种触控显示基板，包括衬底基板和设置于所述衬底基板上的触控电极层，其中，所述触控电极层包括：
[0007]多条触摸驱动电极，每一条所述触摸驱动电极的两端均引出一第一电极走线，各所述第一电极走线分别连接至所述触摸显示基板的绑定区；
[0008]多条触摸感应电极，与所述多条触摸驱动电极交叉绝缘设置，每一条所述触摸感应电极的一端引出一第二电极走线并连接至所述触摸显示基板的绑定区，每一条所述触摸感应电极的另一端引出一第三电极走线并与测试块相连，所述测试块用于测试开路。
[0009]本专利技术的一实施例中，所有的所述测试块均位于所述多条触摸感应电极的同一侧。
[0010]本专利技术的一实施例中，所述第三电极走线延伸至所述第一电极走线外侧。
[0011]本专利技术的一实施例中，所述第一电极走线位于所述第三电极走线上方。
[0012]本专利技术的一实施例中，所述第一电极走线位于所述第三电极走线下方。
[0013]本专利技术的一实施例中，所述第一电极走线和所述第三电极走线之间设有绝缘层。
[0014]本专利技术的一实施例中，所述绝缘层为有机绝缘层或无机绝缘层。
[0015]本专利技术的一实施例中，所述第一电极走线、所述第二电极走线以及所述第三电极走线均为金属材质，且第一电极走线和第三电极走线的金属材质不相同。
[0016]根据本专利技术实施例的第二方面，提供一种触控显示基板的测试方法，适用于上述任一项所述的触控显示基板，该方法包括：
[0017]移动测试设备的测试探针分别接触所述触控显示基板的绑定区内每条触摸感应电极的第二电极走线端子，以及对应的测试块；
[0018]测试设备给测试探针施加电信号，以测试每条触摸感应电极的开路和短路。
[0019]根据本专利技术实施例的第三方面，提供一种触控显示基板的制造方法，该方法包括：
[0020]提供一触控显示基板，所述触控显示基板包括多条触摸驱动电极，以及与所述多条触摸驱动电极交叉绝缘设置的多条触摸感应电极；其中，每一条所述触摸感应电极的一端引出一第二电极走线并连接至所述触摸显示基板的绑定区；
[0021]在所述触控显示基板上每一条所述触摸感应电极的另一端形成导电连接的第三电极走线与测试块；
[0022]在所述触控显示基板通过所述测试块完成开路和短路测试后，对所述触控显示基板与显示面板进行模组制程，并在模组制程中切掉所述测试块。
[0023]本专利技术的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：
[0024]本专利技术的实施例中，通过上述触控显示基板，每一条触摸感应电极的两端均要引出电极走线，其中一端引出一第二电极走线并连接至触摸显示基板的绑定区，另一端引出一第三电极走线并与测试块相连，该测试块用于测试开路。这样，测试设备的两个测试探针可以分别接触到同一条触摸感应电极的第二电极走线端和对应的测试块端，从而实现既能测试触摸感应电极通道的短路，又能测试触摸感应电极通道的开路，进而提高了触控显示基板的制作良率。
[0025]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
[0026]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0027]图1示出本专利技术示例性实施例中触控电极层结构示意图。
具体实施方式
[0028]现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本专利技术将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。
[0029]此外，附图仅为本专利技术实施例的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。附图中所示的一些方框图是功能实体，不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。
[0030]本示例实施方式中首先提供了一种触控显示基板，该触控显示基板包括衬底基板
和设置于衬底基板上的触控电极层。参考图1中所示，该触控电极层可以包括多条触摸驱动电极200和多条触摸感应电极100，多条触摸驱动电极200和多条触摸感应电极100之间相互交叉绝缘设置。其中，每一条触摸驱动电极200的两端均引出一第一电极走线210，各第一电极走线210分别连接至触摸显示基板的绑定区400。每一条触摸感应电极100的一端引出一第二电极走线110并连接至触摸显示基板的绑定区400，每一条触摸感应电极100的另一端引出一第三电极走线120并与测试块300相连，该测试块300用于测试开路。
[0031]通过上述触控显示基板，每一条触摸感应电极100的两端均要引出电极走线，其中一端引出一第二电极走线110并连接至触摸显示基板的绑定区400，另一端引出一第三电极走线120并与测试块300相连，该测试块300用于测试开路。这样，测试开短路设备的两个测试探针可以分别接触到同一条触摸感应电极100的第二电极走线110端和对应的测试块300端，从而实现既能测试触摸感应电极通道的短路，又能测试触摸感应电极通道的开路，在触控显示基板的制本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种触控显示基板，其特征在于，包括衬底基板和设置于所述衬底基板上的触控电极层，其中，所述触控电极层包括：多条触摸驱动电极，每一条所述触摸驱动电极的两端均引出一第一电极走线，各所述第一电极走线分别连接至所述触摸显示基板的绑定区；多条触摸感应电极，与所述多条触摸驱动电极交叉绝缘设置，每一条所述触摸感应电极的一端引出一第二电极走线并连接至所述触摸显示基板的绑定区，每一条所述触摸感应电极的另一端引出一第三电极走线并与测试块相连，所述测试块用于测试开路。2.根据权利要求1所述触控显示基板，其特征在于，所有的所述测试块均位于所述多条触摸感应电极的同一侧。3.根据权利要求1所述触控显示基板，其特征在于，所述第三电极走线延伸至所述第一电极走线外侧。4.根据权利要求3所述触控显示基板，其特征在于，所述第一电极走线位于所述第三电极走线上方。5.根据权利要求3所述触控显示基板，其特征在于，所述第一电极走线位于所述第三电极走线下方。6.根据权利要求4或5所述触控显示基板，其特征在于，所述第一电极走线和所述第三电极走线之间设有绝缘层。7.根据权利要求6所述触控显示基板，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：史文杰，施文杰，甘舟，
申请(专利权)人：陕西坤同半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：