探针行程自动检测系统技术方案

本发明专利技术旨在提供一种提升检测质量、能自行匹配行程的探针行程自动检测系统。本发明专利技术包括工控机、处理器以及测试模组，所述测试模组包括导通夹具、三轴移动机构、压力测试头以及视觉模块，所述三轴移动机构带动所述压力测试头和所述视觉模块在所述导通夹具上方运动，所述压力测试头包括依次连接的压力传感器、绝缘块、测试夹头和测试针，所述测试针通过电阻检测模块与所述导通夹具电性连接，所述工控机通过所述处理器控制所述测试模组动作，通过所述压力传感器检测反馈的压力数值实现精准定位高度基准面，并根据探针可活动行程计算所述测试针的行程终点高度，实现精准检测。本发明专利技术应用于探针测试的技术领域。

【技术实现步骤摘要】
探针行程自动检测系统
本专利技术应用于探针测试的
,特别涉及一种探针行程自动检测系统。
技术介绍
为了对电路板进行测试，通常需要通过带有探针结构的测试夹具进行电气性能的检测，小型电路板的测试夹具中测试探针的数量少，种类少，维护方便快捷，检修出错可能性低，能够通过人工进行快速的检修。然而针对于如电脑主板这类的大型电路板的测试夹具维护则较为困难，由于设置的探针数量多且密集，需要对每根探针进行单独的弹簧性能、电阻值以及导通性的测试，人工劳动强度高且效率低，错检漏检的几率大，无法保证检修质量。传统的检测设备通常采用下压机构带动压力传感器以及测试针下降并与探针接触，进行压力数据和电阻值的收集。不同种类的探针的长度尺寸以及行程并不相同，传统的检测设备无法匹配探针的型号进行对应测试，只能保持同一下压高度进行测试，无法提供准确检测结果，容易出现错检的情况。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种提升检测质量、能自行匹配行程的探针行程自动检测系统。本专利技术所采用的技术方案是：本专利技术包括工控机、处本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.探针行程自动检测系统，其特征在于，它包括工控机、处理器以及测试模组，所述测试模组包括导通夹具（1）、三轴移动机构（2）、压力测试头（3）以及视觉模块（4），所述三轴移动机构（2）带动所述压力测试头（3）和所述视觉模块（4）在所述导通夹具（1）上方运动，所述压力测试头（3）包括依次连接的压力传感器（31）、绝缘块（32）、测试夹头（33）和测试针（34），所述测试针（34）通过电阻检测模块与所述导通夹具（1）电性连接，所述工控机通过所述处理器控制所述测试模组动作，该自动检测系统按照以下步骤进行探针行程的自动检测：/nS1.待检修的测试夹具装载在所述导通夹具（1）上进行夹紧定位，待检修的测试夹...

【技术特征摘要】
1.探针行程自动检测系统，其特征在于，它包括工控机、处理器以及测试模组，所述测试模组包括导通夹具（1）、三轴移动机构（2）、压力测试头（3）以及视觉模块（4），所述三轴移动机构（2）带动所述压力测试头（3）和所述视觉模块（4）在所述导通夹具（1）上方运动，所述压力测试头（3）包括依次连接的压力传感器（31）、绝缘块（32）、测试夹头（33）和测试针（34），所述测试针（34）通过电阻检测模块与所述导通夹具（1）电性连接，所述工控机通过所述处理器控制所述测试模组动作，该自动检测系统按照以下步骤进行探针行程的自动检测：
S1.待检修的测试夹具装载在所述导通夹具（1）上进行夹紧定位，待检修的测试夹具上的探针下端与所述导通夹具（1）的连接座对接并导通；
S2.进入平面校准，所述三轴移动机构（2）带动所述压力测试头（3）移动至待检修的测试夹具上方，并在无探针的空旷区域下降，当所述测试针（34）与待检修的测试夹具的底板接触时，所述压力传感器（31）反馈压力数据至所述处理器，所述处理器控制所述三轴移动机构（2）带动所述压力测试头（3）缓慢上升，当所述压力传感器（31）反馈压力数值为零时所述三轴移动机构（2）停止动作，所述处理器将当前探针端部设定为基准高度；
S3.进行探针检测时通...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘志国，夏春磊，彭积才，肖高博，李磊，戴锦新，兰远航，徐桂强，卢京，
申请(专利权)人：珠海博杰电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44