确定性星体内建自测制造技术

用于测试电路的系统，包括：扫描链、被配置为基于子测试向量信息来生成比特位反转信号的控制器、以及比特反转电路，所述比特反转电路被耦合至该控制器并被配置为在移位操作期间基于该比特位反转信号来反转与多个移位时钟周期相关联的父测试向量的比特位以生成子测试向量。这里，用于比特位反转的所述多个移位时钟周期在每m个移位时钟周期发生一次，并且所述子测试向量信息包括m的信息和移位操作中所述多个移位时钟周期的位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】确定性星体内建自测相关申请本申请要求于2018年3月22日提交的、名称为“确定性星体内建自测”、以YingdiLiu等人作为专利技术人、编号为62/646,494的美国临时专利申请的权益，该申请通过引用整体并入本文。
当前公开的技术涉及电路测试。所公开技术的各种实施方式对于系统内测试可以是特别有用的。
技术介绍
高级驾驶员辅助系统(ADAS)和自主驾驶汽车快速发展的背后是对传感器生成的数据的大量处理。反过来，这种趋势推动了其中越来越多的先进技术节点正被加速引入的蓬勃发展中的汽车电子市场。随着复杂的安全关键部件的数量迅速增长，该领域的集成电路(ICs)必须遵守由功能安全标准(例如ISO26262及其汽车安全完整性D级(ASILD)目标)驱动的最严格的高质量和长期可靠性要求。除了高质量的制造测试外，用于汽车IC的ASILD合规性还需要先进的和互补的测试方案，以解决汽车零件带来的挑战并支持以下测试要求中的一项或多项：(1)在功能性操作期间运行系统内测试的能力，(2)由于对钥匙开启(key-on)、钥匙关闭(key-off)的严格限制所导致的短测试应用时间，并且尤其是为定期在线测试而部署的空闲时间，(3)低测试功率，(4)低硅面积，(5)处理IC制造时未知的缺陷敏感性的能力，以及(6)容易地扩大规模(scaleup)的潜力。逻辑内建自测(LBIST)越来越多地与片上测试压缩一起使用，以跟上寻求可行的系统内测试替代的新技术的需求。LBIST通常采用扫描作为其操作基准，以运行高质量的实速功率感知测试(at-speedpower-awaretest)，并使用简单的外部装置来提供功率和时钟信号。利用大众市场驾驶安全关键系统，结合LBIST和测试数据压缩的概念已允许多种测试方案能够与传统制造测试技术相匹敌。在非常短的时间段内可达到高测试覆盖率(包括系统级和现场测试过程)，对于打算要长期部署的装置的高效和可靠的操作已经变得至关重要。然而，新的更复杂的缺陷和可靠性风险不可避免地提出这样的问题：当前测试方案的可持续性如何，以及不久可能需要什么测试设计方法。在给定可行的向量计数的情况下，一些传统的LBIST方案使用加权随机向量来处理不可接受的低故障覆盖率数。可替代地，可以通过扰动伪随机向量来获得期望的刺激。比特位翻转及其应用在这里可以用作示例。不幸的是，这些方案严重依赖于目标测试集，并且每次测试向量(testpattern)由于逻辑工程改变顺序(ECO)而改变时，方案必须被实质性地重新合成。LBIST功能的其他方面也需要被解决。例如，LBIST方案应当较少受到未知状态的影响，或者应当以可编程方式产生低功率测试向量。然而，相关的常规方案仍然主要处理伪随机测试数据。利用这些测试向量，当针对高级故障模型时，实现期望的测试质量变得越来越困难。此外，随机向量抗性故障(randompatternresistantfailure)例行地需要测试点的插入以提高测试覆盖率。如前所述，混合BIST方案能够克服测试数据带宽的瓶颈。在混合BIST方案中，确定性填充向量(deterministictop-uppattern)(用于检测随机抗性故障)以压缩形式存储在测试器上，然后可以使用现有的BIST基础结构来执行矢量解压缩。底层编码方案通常利用测试立方(testcube)的低填充率的优势。该类中的方案包括线性反馈移位寄存器(linear-feedbackshiftregister)LFSR编码、静态和动态LFSR重播。基于干扰伪随机测试向量的技术可以用包括确定性父向量及其随机或确定性派生量的向量群集来代替。例如，可以选择性地翻转由ATPG生成的父测试向量的比特位。一种常规方案需要复杂的测试逻辑，其利用扫描顺序、相邻扫描单元之间的极性、在它们之间插入的控制点、以及波形发生器。利用这些特征，扫描链表现得像能够编码若干确定性测试向量的ROM。在另一方案中，完全确定性测试压缩同时使用基于EDT的压缩和解压缩的测试向量的确定性反演二者。尽管在该方案中用于父向量的存储大小较低，但实现某些测试覆盖率所需要的子向量的数量相当地高。非常需要一种使用不太复杂的逻辑并在测试应用时间和父测试数据量之间提供灵活权衡的新方法。
技术实现思路
所公开技术的各个方面涉及确定性星体内建自测(StellarBuilt-InSelf-Test)技术。在一个方面中，存在用于测试电路的系统，该系统包括：扫描链，其包括扫描单元，所述扫描链在测试模式下被配置为移入测试向量，将测试向量应用至所述电路，捕获所述电路的测试响应，以及移出所述测试响应；控制器，其包括存储电路(storagecircuitry)，所述控制器被配置为基于存储在所述存储电路中的子测试向量信息来生成比特位反转信号；和比特位反转电路(bit-invertingcircuitry)，其耦合至控制器，所述比特位反转电路被配置为在移位操作期间基于所述比特位反转信号来反转与多个移位时钟周期相关联的父测试向量的比特位以生成子测试向量，其中用于比特位反转的所述多个移位时钟周期在每m个移位时钟周期发生一次，并且所述子测试向量信息包括m的信息和所述移位操作中的所述多个移位时钟周期的位置。对于测试集的所有父测试向量的所有子向量，m可以是相同的。所述父测试向量和所述移位操作中的所述多个移位时钟周期的位置可以由测试向量生成软件工具确定，并且所述测试向量生成软件工具执行向量生成过程(process)，包括：首先执行电路结构分析以识别超级门，使用所述超级门来运行自动测试向量生成(ATPG)过程以确定父测试向量，并为父测试向量生成子测试向量。所述向量生成过程还可以包括：执行向量重新排序，并保存有效的子测试向量。该系统可以进一步包括：测试向量解压缩电路(testpatterndecompressingcircuitry)，该测试向量解压缩电路被配置为将压缩的父测试向量解压缩为父测试向量。可以在所述测试向量解压缩电路中执行反转比特位。测试向量解压缩电路可以包括铃流发生器(ringgenerator)和移相器。可以由插入在所述铃流发生器和所述移相器之间的XOR门来执行反转比特位。存储电路可以包括用于存储m的信息的第一寄存器和用于存储在所述移位操作中的所述多个移位时钟周期的位置的信息的第二寄存器。所述控制器还可以包括递减计数器，所述递减计数器耦合到所述第二寄存器的输出，并且可以基于将所述递减计数器的输出和所述第一寄存器的输出进行组合来生成所述比特位反转信号。在另一方面中，存在一个或多个非暂时性计算机可读介质，其存储用于使一个或多个处理器执行方法的计算机可执行指令，该方法包括：在电路设计中创建上述系统，以用于测试根据所述电路设计所制造的电路。在所附的独立和从属权利要求中阐述了某些专利技术方面。来自从属权利要求的特征可以适当地与独立权利要求的特征以及其他从属权利要求的特征相组合，而不仅是如权利要求中明确阐述的那样。以上在本文中已经描述了各个专利技术方面的某些目的和优点。当然，应该理解，根据所公开的技术的任何特定实施例，不是必本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测试电路的系统，包括：/n扫描链，其包括扫描单元，所述扫描链被配置为：在测试模式下移入测试向量，将所述测试向量应用至所述电路，捕获所述电路的测试响应，以及移出所述测试响应；/n控制器，其包括存储电路，所述控制器被配置为基于存储在所述存储电路中的子测试向量信息来生成比特位反转信号；和/n比特位反转电路，其耦合至所述控制器，所述比特位反转电路被配置为在移位操作期间基于所述比特位反转信号来反转与多个移位时钟周期相关联的父测试向量的比特位，以生成子测试向量，其中用于比特位反转的所述多个移位时钟周期在每m个移位时钟周期发生一次，并且所述子测试向量信息包括m的信息和所述移位操作中的所述多个移位时钟周期的位置。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180322 US 62/646,4941.一种用于测试电路的系统，包括：
扫描链，其包括扫描单元，所述扫描链被配置为：在测试模式下移入测试向量，将所述测试向量应用至所述电路，捕获所述电路的测试响应，以及移出所述测试响应；
控制器，其包括存储电路，所述控制器被配置为基于存储在所述存储电路中的子测试向量信息来生成比特位反转信号；和
比特位反转电路，其耦合至所述控制器，所述比特位反转电路被配置为在移位操作期间基于所述比特位反转信号来反转与多个移位时钟周期相关联的父测试向量的比特位，以生成子测试向量，其中用于比特位反转的所述多个移位时钟周期在每m个移位时钟周期发生一次，并且所述子测试向量信息包括m的信息和所述移位操作中的所述多个移位时钟周期的位置。


2.根据权利要求1所述的系统，其中，对于测试集的所有父测试向量的所有子向量，m是相同的。


3.根据权利要求1所述的系统，其中，所述父测试向量和所述移位操作中的所述多个移位时钟周期的位置由测试向量生成软件工具来确定，所述测试向量生成软件工具执行向量生成过程，所述向量生成过程包括：首先执行电路结构分析以识别超级门，使用所述超级门运行自动测试向量生成(ATPG)过程以确定父测试向量，并生成所述父测试向量的子测试向量。


4.根据权利要求3所述的系统，其中，所述向量生成过程还包括：执行向量重新排序，并保存有效的子测试向量。


5.根据权利要求1所述的系统，还包括：
测试向量解压缩电路，所述测试向量解压缩电路被配置为将压缩的父测试向量解压缩为所述父测试向量。


6.根据权利要求5所述的系统，其中，在所述测试向量解压缩电路中执行所述反转比特位。


7.根据权利要求5所述的系统，其中，所述测试向量解压缩电路包括铃流发生器和移相器。


8.根据权利要求7所述的系统，其中，由插入在所述铃流发生器和所述移相器之间的XOR门来执行所述反转比特位。


9.根据权利要求1的所述系统，其中，所述存储电路包括用于存储m的信息的第一寄存器和用于存储在所述移位操作中的所述多个移位时钟周期的位置的信息的第二寄存器。


10.根据权利要求9所述的系统，其中，所述控制器还包括递减计数器，所述递减计数器耦合到所述第二寄存器的输出，并且基于将所述递减计数器的输出和所述第一寄存器的输出进行组合来生成所述比特位反转信号。


11.一个或多个计算机可读介质，其存储用于使计算机执行方法的计算机可执行指令，所述方法包括：
在电路设计中创建系统，以...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘颖迪，尼兰简·穆克赫杰，贾纳兹·拉杰斯基，杰吉·泰泽尔，
申请(专利权)人：明导公司，
类型：发明
国别省市：美国;US