【技术实现步骤摘要】
用于测试模数转换器的系统和方法
本公开的实施例涉及模数转换器（ADC），并且更具体地涉及用于测试模数转换器的系统和方法。
技术介绍
在高精度ADC芯片的制造流程中，对ADC的测试发挥了重要作用，并且具有较高的成本，甚至占据ADC制造成本中的很大一部分。因此，如何对高精度ADC进行精确和高效的测试成为研究的热点。目前，通用测试系统的精度通常在16位以内，难以满足高精度ADC的测试要求。如果在通用测试系统上增加测试电路，则导致成本上升，测试误差增加，并且与通用测试系统的配合困难，难以达到最佳效果。
技术实现思路
根据本公开的实施例，提供了一种用于测试ADC的系统、方法，能够有效保证测试ADC的准确性。在第一方面，提供了一种用于测试模数转换器的系统。所述系统包括：信号发生器，用于产生具有第一预设值的第一测试信号，所述第一测试信号为直流信号；测量单元，用于测量所述第一测试信号，以获得第一测量值；以及计算设备，与所述信号发生器和测量单元连接，所述计算设备包括：至少一个处理单元和至少一个存储器，所述至少一个存...
【技术保护点】
1.一种用于测试模数转换器的系统，包括：/n信号发生器，用于产生具有第一预设值的第一测试信号，所述第一测试信号为直流信号；/n测量单元，用于测量所述第一测试信号，以获得第一测量值；以及/n计算设备，与所述信号发生器和所述测量单元连接，所述计算设备包括：至少一个处理单元和至少一个存储器，所述至少一个存储器被耦合到所述至少一个处理单元并且存储用于由所述至少一个处理单元执行的指令，所述指令当由所述至少一个处理单元执行时使得所述计算设备用于：/n确定所述第一测量值与所述第一预设值是否匹配；/n响应于确定所述第一测量值与所述第一预设值不匹配，通过所述信号发生器来产生具有第二预设值的第...
【技术特征摘要】
1.一种用于测试模数转换器的系统，包括：
信号发生器，用于产生具有第一预设值的第一测试信号，所述第一测试信号为直流信号；
测量单元，用于测量所述第一测试信号，以获得第一测量值；以及
计算设备，与所述信号发生器和所述测量单元连接，所述计算设备包括：至少一个处理单元和至少一个存储器，所述至少一个存储器被耦合到所述至少一个处理单元并且存储用于由所述至少一个处理单元执行的指令，所述指令当由所述至少一个处理单元执行时使得所述计算设备用于：
确定所述第一测量值与所述第一预设值是否匹配；
响应于确定所述第一测量值与所述第一预设值不匹配，通过所述信号发生器来产生具有第二预设值的第二测试信号，所述第二预设值不同于所述第一预设值；
响应于确定所述第一测量值与所述第一预设值匹配，获取来自所述模数转换器的测试结果，所述测试结果包括由所述模数转换器转换所述第一测试信号而产生的第一数字信号；以及
基于所述第一测试信号和所述第一数字信号来确定所述模数转换器的测试参数。
2.根据权利要求1所述的系统，其中所述信号发生器还用于产生第二测试信号，所述第二测试信号为交流信号；
所述测量单元还用于测量所述第二测试信号，以获得多个第二测量值；
其中所述测试结果还包括由所述模数转换器转换所述第二测试信号而产生的第二数字信号，并且所述计算设备还用于：
基于所述第二测试信号、针对所述第二测试信号的传递函数以及所述第二数字信号来确定所述模数转换器的测试参数，其中针对所述第二测试信号的传递函数是基于由所述信号发生器产生的第三测试信号和由所述测量单元测量所述第三测试信号而获得的多个第三测量值来确定的。
3.根据权利要求1或2所述的系统，还包括：
系统控制器，与所述计算设备连接并且包括FPGA设备和存储器，所述FPGA设备包括用于并行测试多个模数转换器的多个并行处理单元，每一个并行处理单元用于测试所述多个模数转换器中的一个模数转换器，所述存储器用于存储来自所述多个模数转换器的测试结果。
4.根据权利要求1或2所述的系统，其中所述模数转换器被集成在数模混合型SOC中，所述系统还包括：
外部存储器，位于所述数模混合型SOC之外、与所述数模混合型SOC连接，用于存储所述模数转换器的多个测试项目的参数配置列表，所述参数配置列表包括用于修改所述数模混合型SOC中的寄存器的值的参数。
5.根据权利要求1或2所述的系统，其中所述信号发生器具有14-16位分辨率，并且所述测量单元为至少6位半数字万用表。
6.根据权利要求1或2所述的系统，其中所述模数转换器为24位精度模数转换器。
7.根据权利要求1或2所...
【专利技术属性】
技术研发人员：纪效礼，罗伟绍，
申请(专利权)人：杭州晶华微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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