带检查系统、带检查方法和带检查程序的存储介质技术方案

本发明专利技术提供一种带检查系统、带检查方法和带检查程序的存储介质。该带检查系统根据拍摄图像形成装置的中间转印带得到的第一带图像，检测作为所述中间转印带的异常部位的带缺陷，包括缺陷候补检测部，所述缺陷候补检测部进行所述第一带图像的预处理，并从进行了所述预处理的第二带图像检测所述带缺陷的候补，其中，所述预处理包括去除所述中间转印带的至少由拍摄引起的噪声的噪声去除处理，所述噪声去除处理针对由所述拍摄引起的噪声，根据所述带缺陷的标准尺寸从所述第一带图像去除预定尺寸的噪声。

【技术实现步骤摘要】
带检查系统、带检查方法和带检查程序的存储介质
本专利技术涉及用于检测图像形成装置的中间转印带的异常部位(以下称为“带缺陷”)的带检查系统、带检查方法和带检查程序的存储介质。
技术介绍
作为以往的带检查系统，已知一种如下的带检查系统：其利用摄像装置以光学方式读取中间转印带的表面，并根据读取结果自动地检测带缺陷。但是，在以往的带检查系统中，存在不能高精度地检测带缺陷的问题。例如，以往的带检查系统存在如下问题：在摄像装置相对于中间转印带的宽度方向未严格地平行设置的情况下，由于摄像装置拍摄的图像上的中间转印带剪切变形，所以在根据图像上的中间转印带的部分中的带缺陷的坐标位置来确定实物的中间转印带中的带缺陷的位置时，容易产生误差，在检查员比较图像上的中间转印带和实物的中间转印带时，成为难以确定带缺陷的重要原因。此外，在摄像装置相对于中间转印带的宽度方向未严格平行设置的情况下，一般来说会从倾斜方向拍摄，得到所谓的投影变换的影像，但是在本专利技术中，由于大致看到将长方形的长边的一侧保持为与对边平行而变形的状态亦即剪切变形的状态，因此视为本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种带检查系统，根据拍摄图像形成装置的中间转印带得到的第一带图像，检测作为所述中间转印带的异常部位的带缺陷，其特征在于，/n包括缺陷候补检测部，所述缺陷候补检测部进行所述第一带图像的预处理，并且从进行了所述预处理的第二带图像检测所述带缺陷的候补，/n所述预处理包括去除所述中间转印带的至少由拍摄引起的噪声的噪声去除处理，所述噪声去除处理包括针对由所述拍摄引起的噪声，根据所述带缺陷的标准尺寸从所述第一带图像去除预定尺寸的噪声的处理。/n

【技术特征摘要】
20190628 JP 2019-120851;20190628 JP 2019-1208521.一种带检查系统，根据拍摄图像形成装置的中间转印带得到的第一带图像，检测作为所述中间转印带的异常部位的带缺陷，其特征在于，
包括缺陷候补检测部，所述缺陷候补检测部进行所述第一带图像的预处理，并且从进行了所述预处理的第二带图像检测所述带缺陷的候补，
所述预处理包括去除所述中间转印带的至少由拍摄引起的噪声的噪声去除处理，所述噪声去除处理包括针对由所述拍摄引起的噪声，根据所述带缺陷的标准尺寸从所述第一带图像去除预定尺寸的噪声的处理。


2.根据权利要求1所述的带检查系统，其特征在于，所述预定尺寸是比所述带缺陷的所述标准尺寸小的第一尺寸和比所述带缺陷的所述标准尺寸大的第二尺寸，所述噪声去除处理去除所述第一尺寸以下的噪声和所述第二尺寸以上的噪声。


3.根据权利要求1所述的带检查系统，其特征在于，所述噪声去除处理还包括去除由所述中间转印带的生成工序引起的沿着所述中间转印带的宽度方向延伸的噪声的处理。


4.根据权利要求3所述的带检查系统，其特征在于，所述噪声去除处理从所述第一带图像得到与以正视状态拍摄所述中间转印带得到的带图像等同的带图像，并从所述等同的图像去除沿着所述中间转印带的所述宽度方向延伸的带状或者条状的噪...

【专利技术属性】
技术研发人员：西泽辉，
申请(专利权)人：京瓷办公信息系统株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP