一种超小瑕疵检测方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种超小瑕疵检测方法及系统，包括如下步骤：S1用于获取产品表面图像的步骤；S2用于在产品表面图像中确定出可疑区域的步骤；S3用于对可疑区域进行排序的步骤；S4用于对可疑区域进行瑕疵识别的步骤。本发明专利技术所提供的超小瑕疵检测方法及系统，大大提高了对超小瑕疵的检测效率和准确度；该方法可以在超高分辨率的图片上检测到细微的瑕疵，而对整体检测速度没有很大的影响，使得更精细的产品等级划分变为可能；同时，用户可以非常方便的通过设置参数实现不同精细程度的检测，从而平衡检测效果和检测速度。

【技术实现步骤摘要】
一种超小瑕疵检测方法及系统
本专利技术涉及工业视觉检测
，尤其涉及一种超小瑕疵检测方法。
技术介绍
工业视觉检测主要是指在工业制造过程中，用计算机视觉技术来替代人眼，实现目标定位，质量检测，缺陷定位等工作。超小瑕疵是指在工业品外表面，由于生产过程中磕碰、划伤等造成的表面细微损伤，这种超小瑕疵由于不明显，常常在后续工序完成后才能发现，这样就造成了人工和物料上的浪费。例如保温杯在生产过程中受到磕碰、划伤，会在外表面形成超小瑕疵。由于保温杯的外表面会进行拉丝处理，而拉丝表面和超小瑕疵很难区分，这就给超小瑕疵的检测造成了一定的难度。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种超小瑕疵检测方法及系统。本专利技术所述的超小瑕疵检测方法，包括如下步骤：S1用于获取产品表面图像的步骤；S2用于在产品表面图像中确定出可疑区域的步骤；S3用于对可疑区域进行排序的步骤；S4用于对可疑区域进行瑕疵识别的步骤。所述S2用于在产品表面图像中确定出可疑区域的步骤，包括：S21用于将产品表面图像划分为网格状，形成复数个区域的步骤；S22用于对每本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种超小瑕疵检测方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS1用于获取产品表面图像的步骤；/nS2用于在产品表面图像中确定出可疑区域的步骤；/nS3用于对可疑区域进行排序的步骤；/nS4用于对可疑区域进行瑕疵识别的步骤。/n

【技术特征摘要】
1.一种超小瑕疵检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1用于获取产品表面图像的步骤；
S2用于在产品表面图像中确定出可疑区域的步骤；
S3用于对可疑区域进行排序的步骤；
S4用于对可疑区域进行瑕疵识别的步骤。


2.如权利要求1所述的超小瑕疵检测方法，其特征在于，所述S2用于在产品表面图像中确定出可疑区域的步骤，包括：
S21用于将产品表面图像划分为网格状，形成复数个区域的步骤；
S22用于对每个区域进行扫描识别从而确定出可能具有瑕疵的可疑区域的步骤。


3.如权利要求2所述的超小瑕疵检测方法，其特征在于，所述S22用于对每个区域进行扫描识别从而确定出可能具有瑕疵的可疑区域的步骤中，包括第一次扫描识别和第二次扫描识别；所述第一次扫描识别和第二次扫描识别具有不同或相同的识别策略。


4.如权利要求3所述的超小瑕疵检测方法，其特征在于，所述S22用于对每个区域进行扫描识别从而确定出可能具有瑕疵的可疑区域的步骤中，还包括第三次扫描识别，所述第一次扫描识别、第二次扫描识别和第三次扫描识别均具有不同的识别策略。


5.如权利要求4所述的超小瑕疵检测方法，其特征在于，所述S2用于在产品表面图像中确定出可疑区域的步骤，还包括：
S23用于将连续的可疑区域进行合并的步骤。


6.如权利要求5所述的超小瑕疵检测方法，其特征在于，还包括：
S51设定检测次数阈值的步骤；
S52当对可疑区域进行瑕疵识别的结果为具有瑕疵时，判断扫描识别的次数是否大于或者等于检测次数阈值；如是，则结束识别；如否则启动再次扫描识别。


7.如权利要求6所述的超小瑕疵检测方法，其特征在于，还包括：所述S3用于对可疑区域进行排序的步骤中，根据可疑区域内的设定特征进行排序。


8.如权利要求7所述的超小瑕疵检测方法，其特征在于，所述特定特征为该区域内所有像素的方差值或该区域内所有像素的平均值。
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【专利技术属性】
技术研发人员：孔泉，
申请(专利权)人：妙微永康科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33