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本发明公开了一种超小瑕疵检测方法及系统，包括如下步骤：S1用于获取产品表面图像的步骤；S2用于在产品表面图像中确定出可疑区域的步骤；S3用于对可疑区域进行排序的步骤；S4用于对可疑区域进行瑕疵识别的步骤。本发明所提供的超小瑕疵检测方法及系统...
该专利属于妙微(永康)科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过妙微(永康)科技有限公司授权不得商用。

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