光纤几何尺寸测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及光纤几何尺寸测试技术领域，尤其涉及一种光纤几何尺寸测试装置，包括旋转支架、与旋转支架相连接的驱动件和安装在旋转支架上的多个物镜，驱动件驱动旋转支架绕自身轴线转动，多个物镜分布在以旋转支架的轴线为中心的圆周上并具有不同的放大倍数。可根据被测光纤的几何尺寸大小选择旋转支架上多个物镜其中一个合适的作为测试物镜，由驱动件驱动旋转支架转动使选择的测试物镜到达与被测光纤相对的测试位置处进行测试；当被测光纤的几何尺寸大小发生变化时，可以切换测试物镜，从而能够实现较大直径范围内不同直径光纤的几何尺寸测试，物镜的切换过程便捷，且减小了人工干预的误差，能够有效加快测试速度并保证测试精度。

【技术实现步骤摘要】
光纤几何尺寸测试装置
本技术涉及光纤几何尺寸测试
，尤其涉及一种光纤几何尺寸测试装置。
技术介绍
随着网络的普及以及干线光缆网传输能力的不断提高，光纤接入网已成为光通信发展的重点之一。随着光纤技术的进步，光纤也向着特殊化、多样化发展，对光纤的质量检测也日益重要，而光纤的几何尺寸测试是光纤质量检测的重要测试内容之一。现有的光纤几何尺寸测试仪器多数使用单一物镜进行光纤几何尺寸测试，一台仪器只能对直径在特定范围内的光纤进行测试，无法测试大直径的光纤或者直径较小的特种光纤。少数仪器采用更换镜头的方法测试大直径光纤的几何尺寸，这种方法需要将原有物镜拆卸后再安装上小倍数的物镜，在更换物镜的过程中需要将机箱外壳打开更换物镜，在打开的过程中容易造成光学系统出现位移导致测试准确性下降，而且这种方法更换的镜头有限，光纤在摄像头上成像过小会导致测试结果产生偏差。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题是提供一种光纤几何尺寸测试装置及一种光纤几何尺寸测试方法，能够实现不同直径光纤的几何尺寸测试并保证测试精度，以克服现有技术的上述缺陷。为了解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案：一种光纤几何尺寸测试装置，包括旋转支架、与旋转支架相连接的驱动件和安装在旋转支架上的多个物镜，驱动件驱动旋转支架绕自身轴线转动，多个物镜分布在以旋转支架的轴线为中心的圆周上并具有不同的放大倍数。优选地，还包括置于旋转支架外周侧的定位光耦和安装在旋转支架上的光耦挡片，光耦挡片随旋转支架转动至定位光耦处时遮挡定位光耦。优选地，还包括控制器，驱动件和定位光耦均与控制器相连接。优选地，还包括支撑驱动件的测试底座，测试底座上设有光耦支架，定位光耦安装在光耦支架上。优选地，多个物镜在以旋转支架的轴线为中心的圆周上均匀分布。优选地，驱动件为步进电机。优选地，还包括摄像头、用于夹持被测光纤的光纤夹具、用于放置光纤夹具的夹具底座、设于夹具底座一端的反射板以及设于反射板远离夹具底座的一侧的背景光源灯，反射板设有供光纤穿过的通孔，旋转支架与反射板间隔相对地设置并可转动使多个物镜其中的一个位于与通孔相对的测试位置处，摄像头用于拍摄位于测试位置处的物镜的成像图像。一种光纤几何尺寸测试方法，采用如上所述的光纤几何尺寸测试装置，根据被测光纤的几何尺寸大小选择旋转支架上多个物镜其中的一个作为测试物镜，通过驱动件驱动旋转支架转动使测试物镜到达与被测光纤相对的测试位置处，由测试物镜对被测光纤的几何尺寸进行测试。优选地，在旋转支架的外周侧设置定位光耦，在旋转支架上安装光耦挡片，旋转支架位于初始位置时，光耦挡片位于定位光耦处并遮挡定位光耦；在切换测试物镜时，先由驱动件驱动旋转支架转动至初始位置，再由驱动件驱动旋转支架反向转动至指定测试物镜到达与被测光纤相对的测试位置处。与现有技术相比，本技术具有显著的进步：本技术的光纤几何尺寸测试装置以及采用该光纤几何尺寸测试装置的光纤几何尺寸测试方法，可以根据被测光纤的几何尺寸大小选择旋转支架上多个物镜其中一个合适的作为测试物镜，由驱动件驱动旋转支架转动使选择的测试物镜到达与被测光纤相对的测试位置处，通过该测试物镜能够对被测光纤的几何尺寸进行测试；当被测光纤的几何尺寸大小发生变化时，可以通过驱动件驱动旋转支架转动切换不同放大倍数的物镜作为测试物镜对被测光纤的几何尺寸进行测试，从而能够实现较大直径范围内不同直径光纤的几何尺寸测试，且测试重复性与现有光纤几何尺寸测试仪器一样。本技术使得物镜的切换过程更为便捷，且减小了人工干预的误差，能够有效加快测试速度并保证测试精度。附图说明图1是本技术实施例的光纤几何尺寸测试装置的主视示意图。图2是本技术实施例的光纤几何尺寸测试装置的工作示意图。其中，附图标记说明如下：1、旋转支架2、驱动件3、物镜4、定位光耦5、光耦挡片6、测试底座7、光耦支架8、摄像头9、光纤夹具10、夹具底座11、反射板12、背景光源灯a、被测光纤具体实施方式下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步详细说明。这些实施方式仅用于说明本技术，而并非对本技术的限制。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。此外，在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。如图1和图2所示，本技术实施例提供一种光纤几何尺寸测试装置，本实施例的光纤几何尺寸测试装置用于测试被测光纤a的几何尺寸。参见图1，本实施例的光纤几何尺寸测试装置包括旋转支架1、驱动件2和物镜3。其中，旋转支架1可绕其自身轴线转动，优选地，旋转支架1可以为圆盘状。驱动件2与旋转支架1相连接，驱动件2驱动旋转支架1绕自身轴线转动，优选地，驱动件2可以为步进电机，通过步进电机驱动旋转支架1转动，能够精确控制旋转支架1的转动角度。物镜3设有多个，多个物镜3均安装在旋转支架1上，并且，多个物镜3分布在以旋转支架1的轴线为中心的圆周上，即多个物镜3所在圆周的轴线与旋转支架1的轴线相重合。优选地，多个物镜3在以旋转支架1的轴线为中心的圆周上均匀分布。多个物镜3具有不同的放大倍数，即各物镜3的放大倍数不相同。物镜3的数量以及各物镜3的放大倍数均不局限，可以根据实际被测光纤a的几何尺寸的大小进行设计。例如，本实施例中，物镜3可以设有六个，分别为2倍物镜、4倍物镜、10倍物镜、20倍物镜、40倍物镜和60倍物镜，这六个物镜在同一圆周上依次等间隔地排列。采用本实施例的光纤几何尺寸测试装置，可以根据被测光纤a的几何尺寸大小选择旋转支架1上多个物镜3其中一个合适的作为测试物镜，由驱动件2驱动旋转支架1转动使选择的测试物镜到达与被测光纤a相对的测试位置处，通过该测试物镜能够对被测光纤a的几何尺寸进行测试；当被测光纤a的几何尺寸大小发生变化时，可以通过驱动件2驱动旋转支架1转动切换不同放大倍数的物镜3作为测试物镜对被测光纤a的几何尺寸进行测试，从而能够实现较大直径范围(如20μm-1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光纤几何尺寸测试装置，其特征在于，包括旋转支架(1)、与所述旋转支架(1)相连接的驱动件(2)和安装在所述旋转支架(1)上的多个物镜(3)，所述驱动件(2)驱动所述旋转支架(1)绕自身轴线转动，所述多个物镜(3)分布在以所述旋转支架(1)的轴线为中心的圆周上并具有不同的放大倍数。/n

【技术特征摘要】
1.一种光纤几何尺寸测试装置，其特征在于，包括旋转支架(1)、与所述旋转支架(1)相连接的驱动件(2)和安装在所述旋转支架(1)上的多个物镜(3)，所述驱动件(2)驱动所述旋转支架(1)绕自身轴线转动，所述多个物镜(3)分布在以所述旋转支架(1)的轴线为中心的圆周上并具有不同的放大倍数。


2.根据权利要求1所述的光纤几何尺寸测试装置，其特征在于，还包括置于所述旋转支架(1)外周侧的定位光耦(4)和安装在所述旋转支架(1)上的光耦挡片(5)，所述光耦挡片(5)随所述旋转支架(1)转动至所述定位光耦(4)处时遮挡所述定位光耦(4)。


3.根据权利要求2所述的光纤几何尺寸测试装置，其特征在于，还包括控制器，所述驱动件(2)和所述定位光耦(4)均与所述控制器相连接。


4.根据权利要求2所述的光纤几何尺寸测试装置，其特征在于，还包括支撑所述驱动件(2)的测试底座(6)，所述测试底座(6)上设有光...

【专利技术属性】
技术研发人员：张成，夏于生，刘杰，及少勇，陈程，
申请(专利权)人：上海电缆研究所有限公司，上海赛克力光电缆有限责任公司，
类型：新型
国别省市：上海;31