干涉仪精确确定光学系统聚焦面的装置制造方法及图纸

一种采用干涉仪精确确定光学系统聚焦面的装置，包括一台激光干涉仪，在该激光干涉仪的出射光路上同光轴地设有一具有基准面的调整架、一块平面反射镜和一块与待测光学系统相匹配的标准反射镜，所述的平面反射镜置于所述的调整架的基准面上，所述的平面反射镜的反射面垂直于所述的光轴。本实用新型专利技术可以实现照相物镜、显微镜、投影仪物镜、幻灯机物镜、电影放映物镜等光学系统的精密装调和检测，精确确定其聚焦面。可以显著提高装调和检测的精度，而且易于实施，易于调整，有效地解决了确定光学系统聚焦面的盲目性。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种采用激光干涉仪精确确定光学系统聚焦面的装置，其特征在于包括一台激光干涉仪（１），在该激光干涉仪（１）的出射光路上同光轴地设有一具有基准面（６）的调整架（５）、一块平面反射镜（４）和一块与待测光学系统（２）相匹配的标准反射镜（３），所述的平面反射镜（４）置于所述的调整架（５）的基准面（６）上，所述的平面反射镜（４）的反射面垂直于所述的光轴。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曹晓君，朱健强，林强，杨毓，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]