一种基于细芯光纤马赫‑曾德干涉仪的材料应变测量方法技术

本发明专利技术提供了一种基于细芯光纤马赫‑曾德干涉仪的应变测量方法，所述方法包括以下步骤：a)搭建细芯光纤马赫‑曾德干涉仪，细芯光纤马赫‑曾德干涉仪依次连接泵浦源、一支波分复用器以及细芯光纤马赫‑曾德结构；细芯光纤马赫‑曾德结构包括一段细芯光纤、第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤，细芯光纤熔接在第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤之间；b)将细芯光纤马赫‑曾德结构与可控应变材料贴合；c)逐渐改变材料的应变大小，记录梳状谱移动的长度，绘制梳状谱移动长度与材料应变大小的变化曲线；d)通过所述梳状谱移动长度与材料应变带下的变化曲线对材料应变进行测量。

【技术实现步骤摘要】
专利的交叉引用本申请要求2015年10月13日提交的，申请号CN201510671672.X的中国专利技术专利申请的优选权。
本专利技术涉及光纤干涉仪领域，特别的涉及一种基于细芯光纤马赫-曾德干涉仪的材料应变测量方法。
技术介绍
通常，全光纤化的传感器具有结构紧凑、使用寿命长、对测试量敏感、传输信道多等优势广泛地应用于光纤传感、光纤通信、光学加工等领域。通过光纤端面微加工技术或搭建具有干涉结构的全光纤传感器，在泵浦源作用下，输出具有梳状谱图样的干涉谱曲线。现有技术中一种基于双芯光纤的马赫-曾德干涉仪，干涉条纹衬幅比约为10dBm，条纹间隔约为2nm。将两支3dB耦合器制成马赫-曾德干涉系统，结合双芯光纤，构成双级结构的马赫-曾德干涉仪，条纹衬幅比约为30dBm。细芯光纤马赫-曾德光纤传感器结构简单且易于实现，该结构由一段细芯光纤熔接在两段芯径相对较粗的掺杂稀土光纤光纤中，能够有效准确的获取梳状谱图样的干涉谱曲线，因此，需要借助一种基于细芯光纤马赫-曾德干涉仪对材料应变进行精确、高效的测量。
技术实现思路
根据本专利技术提供了一种基于细芯光纤马赫-曾德干涉仪的材料应变测量方法，所述测量方法本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于细芯光纤马赫‑曾德干涉仪的材料应变测量方法，其特征在于所述测量方法包括以下步骤：a)搭建所述细芯光纤马赫‑曾德干涉仪，所述细芯光纤马赫‑曾德干涉仪通过光栅光纤依次连接泵浦源、一支波分复用器以及细芯光纤马赫‑曾德结构；所述细芯光纤马赫‑曾德结构包括一段细芯光纤、第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤，所述细芯光纤熔接在第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤之间，所述第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤作为光纤激光器的增益介质；b)将所述细芯光纤马赫‑曾德结构与可控应变材料贴合；c)逐渐改变材料应变大小，记录梳状谱移动的长度，绘制梳状谱移动长度与材料应变大小的变化曲线；d)通过所述梳状谱移动长度与材...

【技术特征摘要】
2015.10.13 CN 201510671672X1.一种基于细芯光纤马赫-曾德干涉仪的材料应变测量方法，其特征在于所述测量方法包括以下步骤：a)搭建所述细芯光纤马赫-曾德干涉仪，所述细芯光纤马赫-曾德干涉仪通过光栅光纤依次连接泵浦源、一支波分复用器以及细芯光纤马赫-曾德结构；所述细芯光纤马赫-曾德结构包括一段细芯光纤、第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤，所述细芯光纤熔接在第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤之间，所述第一掺杂稀土光纤和第二掺杂稀土光纤作为光纤激光器的增益介质；b)将所述细芯光纤马赫-曾德结构与可控应变材料贴合；c)逐渐改变材料应变大小，记录梳状谱移动的长度，绘制梳状谱移动长度与材料应变大小的变化曲线；d)通过所述梳状谱移动长度与材料应变大小的变化曲线对材料应变进行测量。2.根据权利要求1所述的材料应变测量方法，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：祝连庆，何巍，董明利，骆飞，娄小平，张钰明，刘锋，
申请(专利权)人：北京信息科技大学，
类型：发明
国别省市：北京;11