一种用于LED灯珠不良品标记的高精度激光打标方法技术

技术编号:26777411 阅读:17 留言:0更新日期:2020-12-22 16:48
本发明专利技术公开一种用于LED灯珠不良品标记的高精度激光打标方法;包括以下步骤:S1、待标记的LED元件编号转换成图像坐标;S2、在LED灯板上进行对位点(mark点)校正;S3、激光打标坐标转换;S4、激光打标;S5、机器出板;本发明专利技术采用了同轴相机和激光,利用相机和激光的特定坐标关系的标定方式,确定激光坐标,能够高精度的对不良品LED元件进行激光标记,这种激光标记不良品的方式能够不受LED元件的排版间距的限制,在一定范围内实现快速高精度标记。

【技术实现步骤摘要】
一种用于LED灯珠不良品标记的高精度激光打标方法
本专利技术涉及LED灯的检测标记方法,特别涉及一种用于LED灯珠不良品标记的高精度激光打标方法。
技术介绍
当前激光蚀刻技术得到广泛使用。例如在半导体工业中通常使用激光来对产品的表面进行蚀刻标记等,以在表面上生成人或机器可读的标记,例如产品ID号、类型号、条形码或二维码等。而这些编号或号码对于产品来说非常重要,因此需要保证这些标记持久清晰可读。然而激光标记在LED元件的不良品标记中却没有涉及。目前,通常采用视觉系统来检测LED元件的质量,然后通过机械手搬运的方式将不合格的LED元件从LED灯板中去除,这种方式不仅效率低,而且机械手的设定精准度较为困难;由于LED元件之间的间距非常小,机械手搬运排除的方式相当有限,而且对LED元件的排版间距也有一定的限制。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有技术的上述缺陷,提供一种用于LED灯珠不良品标记的高精度激光打标方法。该激光打标方法能够解决上述传统机械手搬运排除的弊端,能够不受LED元件的排版间距的限制,这种激光打标标记方式的效率更高、更精确。为解决现有技术的上述缺陷,本专利技术提供的技术方案是:一种用于LED灯珠不良品标记的高精度激光打标方法,包括以下步骤:S1、待标记的LED元件编号转换成图像坐标;通过输送装置将已经检测完成的LED灯板按顺序进入图像坐标转换位置,利用LED灯板程序将待标记的LED元件编号转换成标准的图像坐标;S2、在LED灯板上进行对位点(mark点)校正,或者在此基础上进一步做LED元件自定位。LED灯板进入到相机拍照取样处,相机对LED灯板整体进行一次拍照;获取图片之后,通过对位点(mark点)校正,可以将元件的标准位置转换到实际图像位置,也可以在对位点(mark点)校正之后,元件再进行自定位,得到元件的实际图像位置。S3、激光打标坐标转换;根据相机和激光坐标关系,将LED元件的实际图像位置转换成激光打标坐标;相机的视场需要覆盖激光的打标范围,激光与相机同轴、且中心重合;S4、激光打标;激光根据激光打标坐标位置对相应的LED元件位置处的不良品LED元件进行标记;激光打标和相机拍照的过程中均是固定不动的;S5、机器出板;通过输送装置将已经激光标记的LED灯板送出。作为本专利技术用于LED灯珠不良品标记的高精度激光打标方法的一种改进,步骤S4中的所述相机和激光坐标关系的标定方式如下:(1)、激光与相机同轴,相机的视场覆盖激光打标范围,并且中心重合;(2)、把激光的打标范围进行分区;(3)、每个区域进行多点标定;激光在每个区域上打标多个点(至少3个点,一般是9个点,而且在视场范围内均匀分布),记录每个点的激光坐标和图像坐标,然后拟合坐标转换公式的参数;(4)、保存每个区域的多点标定的参数系数。作为本专利技术用于LED灯珠不良品标记的高精度激光打标方法的一种改进,步骤(2)中的多点标定关系如下:设激光坐标是(Xmm,Ymm),相机坐标是(X,Y);上述方程组中A、B、C、D、E、F是待确定系数。作为本专利技术用于LED灯珠不良品标记的高精度激光打标方法的一种改进,步骤S1中的所述LED灯板程序的制定方式具有如下三种:利用LED灯板的CAD图纸导入制作程序、利用LED灯板的排版参数制作程序、逐个LED灯制作程序。与现有技术相比,本专利技术的优点是:本专利技术采用了同轴相机和激光,利用相机和激光的特定坐标关系的标定方式,确定激光坐标,能够高精度的对不良品LED元件进行激光标记,这种激光标记不良品的方式能够不受LED元件的排版间距的限制,这种激光打标标记方式的效率更高、更精确。本专利技术通过多点标定关系的方式能够将激光的打标精度精确到0.1mm~1mm。附图说明下面就根据附图和具体实施方式对本专利技术及其有益的技术效果作进一步详细的描述,其中:图1是本专利技术流程示意图。图2是本发相机和激光坐标关系标定流程图。具体实施方式下面就根据附图和具体实施例对本专利技术作进一步描述,但本专利技术的实施方式不局限于此。如图1所示,一种用于LED灯珠不良品标记的高精度激光打标方法,包括以下步骤:S1、待标记的LED元件编号转换成图像坐标;通过输送装置将已经检测完成的LED灯板按顺序进入图像坐标转换位置,利用LED灯板程序将待标记的LED元件编号转换成标准的图像坐标;LED灯板程序的制定方式具有如下三种:利用LED灯板的CAD图纸导入制作程序、利用LED灯板的排版参数制作程序、逐个LED灯制作程序。S2、在LED灯板上进行对位点(mark点)校正,或者在此基础上进一步做LED元件自定位。LED灯板进入到相机拍照取样处,相机对LED灯板整体进行一次拍照;获取图片之后,通过对位点(mark点)校正,可以将元件的标准位置转换到实际图像位置,也可以在对位点(mark点)校正之后,元件再进行自定位,得到元件的实际图像位置。S3、激光打标坐标转换;根据相机和激光坐标关系,将LED元件的实际图像位置转换成激光打标坐标;相机的视场需要覆盖激光的打标范围,激光与相机同轴、且中心重合;S4、激光打标;激光根据激光打标坐标位置对相应的LED元件位置处的不良品LED元件进行激光烧断电路的标记;激光打标和相机拍照的过程中均是固定不动的;S5、机器出板;通过输送装置将已经激光标记的LED灯板送出。步骤S4中的所述相机和激光坐标关系的标定方式如下(如图2所示):(1)、激光与相机同轴,相机的视场覆盖激光打标范围,并且中心重合;(2)、把激光的打标范围进行分区;(3)、每个区域进行多点标定;激光在每个区域上打标多个点(至少3个点,一般是9个点,而且在视场范围内均匀分布),记录每个点的激光坐标和图像坐标,然后拟合坐标转换公式的参数;多点标定关系如下:设激光坐标是(Xmm,Ymm),相机坐标是(X,Y);上述方程组中A、B、C、D、E、F是待确定系数。例如当相机坐标的X=2,Y=3,A=2、B=3、C=4、D=5、E=6、F=7时;则激光坐标为:Xmm=2*2+3*3+4=17mmYmm=5*2+6*3+7=35mm,激光的打标坐标为Xmm=17mm,Ymm=35mm;(4)、保存每个区域的多点标定的参数系数。尽管已经示出和描述了本专利技术的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本专利技术的原理和结构的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本专利技术的范围由所附权利要求及其等同范围限定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于LED灯珠不良品标记的高精度激光打标方法,其特征在于,包括以下步骤:/nS1、待标记的LED元件编号转换成图像坐标;通过输送装置将已经检测完成的LED灯板按顺序进入图像坐标转换位置,利用LED灯板程序将待标记的LED元件编号转换成标准的图像坐标;/nS2、在LED灯板上进行对位点(mark点)校正,或者在此基础上进一步做LED元件自定位。LED灯板进入到相机拍照取样处,相机对LED灯板整体进行一次拍照;获取图片之后,通过对位点(mark点)校正,可以将元件的标准位置转换到实际图像位置,也可以在对位点(mark点)校正之后,元件再进行自定位,得到元件的实际图像位置。/nS3、激光打标坐标转换;根据相机和激光坐标关系,将LED元件的实际图像位置转换成激光打标坐标;相机的视场需要覆盖激光的打标范围,激光与相机同轴、且中心重合;/nS4、激光打标;激光根据激光打标坐标位置对相应的LED元件位置处的不良品LED元件进行标记;激光打标和相机拍照的过程中均是固定不动的;/nS5、机器出板;通过输送装置将已经激光标记的LED灯板送出。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于LED灯珠不良品标记的高精度激光打标方法,其特征在于,包括以下步骤:
S1、待标记的LED元件编号转换成图像坐标;通过输送装置将已经检测完成的LED灯板按顺序进入图像坐标转换位置,利用LED灯板程序将待标记的LED元件编号转换成标准的图像坐标;
S2、在LED灯板上进行对位点(mark点)校正,或者在此基础上进一步做LED元件自定位。LED灯板进入到相机拍照取样处,相机对LED灯板整体进行一次拍照;获取图片之后,通过对位点(mark点)校正,可以将元件的标准位置转换到实际图像位置,也可以在对位点(mark点)校正之后,元件再进行自定位,得到元件的实际图像位置。
S3、激光打标坐标转换;根据相机和激光坐标关系,将LED元件的实际图像位置转换成激光打标坐标;相机的视场需要覆盖激光的打标范围,激光与相机同轴、且中心重合;
S4、激光打标;激光根据激光打标坐标位置对相应的LED元件位置处的不良品LED元件进行标记;激光打标和相机拍照的过程中均是固定不动的;
S5、机器出板;通过输送装置将已经激光标记的LED灯板送出。


2.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:赖理易群生朱伟东伏燕军方利华刘金生
申请(专利权)人:广东吉洋视觉技术有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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