【技术实现步骤摘要】
一种光栅周期的测量装置
本申请涉及光学
，特别涉及一种光栅周期的测量装置。
技术介绍
光栅是一种由大量等宽等间距的平行狭缝组成的光学器件，按照对光的调制分类可分为强度光栅和位相光栅。光栅主要通过光栅的衍射特性对不同波长的光进行色散，从而精确的测量光的波长。目前对光栅周期的测量主要有干涉测量法、莫尔条纹法、长程面型仪法以及衍射法等。但是，现有的光栅周期的测量装置大多采用激光器发出激光光束的方式获取干涉条纹，进而进行光栅周期的计算。这种结构光栅周期的测量装置由于引入了激光器，导致结构较为复杂，增大了其使用和日常维护难度。基于此，目前亟需一种光栅周期的测量装置，用于简化光栅周期的测量装置。
技术实现思路
本申请提供了一种光栅周期的测量装置，可用于解决现有技术中光栅周期的测量装置结构较为复杂，使用和日常维护难度较大的技术问题。本申请实施例提供一种光栅周期的测量装置，所述装置100包括底座101和位于所述底座101上的光源102；所述装置100还包括级联光栅103、安装座104、观测窗口1...
【技术保护点】
1.一种光栅周期的测量装置，其特征在于，所述装置(100)包括底座(101)和位于所述底座(101)上的光源(102)；所述装置(100)还包括级联光栅(103)、安装座(104)、观测窗口(105)和摄像头(106)；/n所述级联光栅(103)安装于所述光源(102)上方，所述光源(102)发出的光线从所述级联光栅(103)的底面射入，并从所述级联光栅(103)的顶面射出；所述级联光栅(103)是由多个扇形光栅进行级联后组成的；/n所述安装座(104)位于所述级联光栅(103)中相对的两侧边上，用于安装待测光栅(107)；所述待测光栅(107)安装后位于所述级联光栅(10...
【技术特征摘要】
1.一种光栅周期的测量装置，其特征在于，所述装置(100)包括底座(101)和位于所述底座(101)上的光源(102)；所述装置(100)还包括级联光栅(103)、安装座(104)、观测窗口(105)和摄像头(106)；
所述级联光栅(103)安装于所述光源(102)上方，所述光源(102)发出的光线从所述级联光栅(103)的底面射入，并从所述级联光栅(103)的顶面射出；所述级联光栅(103)是由多个扇形光栅进行级联后组成的；
所述安装座(104)位于所述级联光栅(103)中相对的两侧边上，用于安装待测光栅(107)；所述待测光栅(107)安装后位于所述级联光栅(103)上方，所述光源(102)发出的光线从所述级联光栅(103)的顶面射出后，再从所述待测光栅(107)的底面射入，并从所述待测光栅(107)的顶面射出；
所述观测窗口(105)安装于所述待测光栅(107)的上方，用于观测光线透过所述级联光栅(103)和所述待测光栅(107)后形成的干涉图案；
所述摄像头(106)安装于所述待测光栅(107)的上方，靠近所述观测窗口(105)且与所述观测窗口(105)位于同一高度，用于拍摄所述干涉图案，以便实验人员根据拍摄到的干涉图案确定所述待测光栅(107)的周期。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述干涉图案为莫尔条纹；
所述级联光栅(103)上设置有刻度值，所述刻度值是表示莫尔条纹的中心对应的数值。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述待测光栅(107)为待测的位相光栅时，所述装置(100)还包括第一偏光片(108)和第二偏光片(109)；
所述第一偏光片(108)位于所述级联光栅(103)下方，所述光源(102)发出的光线从所述第一偏光片(108)的底面射入，并从所述第一偏光片(108)的顶面射出后射入所述级联光栅(103)；
所述第二偏光片(109)位于所述待测光栅(107)下方，所述光源(102)发出的光线从所述级联光栅(103)的顶面射出后，从所述第二偏光片(109)的底面射入，并从所述第二偏光片(109)的顶面射出，再从所述待测光栅(107)的底面射入，并从所述待测光栅(107)的顶面射出。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置(100)还包括第一立柱(110)、第二立柱(1...
【专利技术属性】
技术研发人员：尹志军，张虞，吴冰，许志城，
申请(专利权)人：南京南智先进光电集成技术研究院有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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