一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法技术

一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法，通过SRAM测试控制模块、故障预分析模块和算法生成模块实现。SRAM测试控制模块控制待测SRAM存储阵列的工作电压、温度以及工艺等，使得SRAM在不同的工作环境下暴露出更多的故障行为，减少故障的逃逸率；故障预分析模块用来提前对存储阵列中可能发生的故障进行预判断，判断结果输入算法生成模块，算法生成模块重构出当前环境下存储阵列的最优算法，并生成新的BIST电路，对存储阵列进行高效快速的故障测试。该技术突破传统算法的局限性，可以提高故障覆盖率并降低测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法
本专利技术属于SRAM测试领域，具体提出一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法。
技术介绍
在集成电路高速发展的进程中，高集成度、高稳定性和较强的续航能力成为衡量产品的重要指标，但是随着芯片尺寸的不断缩小，电压的不断降低，甚至由于复杂工艺带来的微小的制造缺陷都对SRAM的稳定性提出了巨大的挑战，种种的不利因素造成存储阵列中相邻晶体管阈值电压不匹配，SRAM鲁棒性越来越差，读写能力越来越差，甚至导致读写失败，错误率飙升。在现有的研究成果中没有哪一种算法可以完全覆盖由多种不利因素引发的各类故障。而任何逃逸的软故障都可能会大大影响产品的可靠性。也有许多研究人员针对某些复杂的动态稳定性故障推算出了特定的算法，但是通常这些算法都会面临复杂度高、测试时间长和测试成本昂贵的问题，因此如何解决算法的局限性以及优化算法的测试时间和功耗，降低测试成本成为当下研究技术的突破点。
技术实现思路
本专利技术针对上述
技术介绍
中存在的问题，提供一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试技术。一种提高故障本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法，其特征在于：/n所述方法通过SRAM测试控制模块、故障预分析模块、算法生成模块、MBIST控制器和SRAM存储阵列实现；/n所述测试方法步骤为，SRAM测试控制模块设定SRAM存储阵列的工作环境，故障预分析模块对SRAM测试控制模块设定好的工作环境做出分析，预先判断此刻在SRAM存储阵列中哪些故障发生的概率最高，故障预分析模块将判断结果输入到算法生成模块，算法生成模块做出抽调有效测试元素的响应，将抽调的元素重构成新的测试算法，生成专属的BIST测试电路，通过MBIST控制器对SRAM存储阵列进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法，其特征在于：
所述方法通过SRAM测试控制模块、故障预分析模块、算法生成模块、MBIST控制器和SRAM存储阵列实现；
所述测试方法步骤为，SRAM测试控制模块设定SRAM存储阵列的工作环境，故障预分析模块对SRAM测试控制模块设定好的工作环境做出分析，预先判断此刻在SRAM存储阵列中哪些故障发生的概率最高，故障预分析模块将判断结果输入到算法生成模块，算法生成模块做出抽调有效测试元素的响应，将抽调的元素重构成新的测试算法，生成专属的BIST测试电路，通过MBIST控制器对SRAM存储阵列进行测试。


2.根据权利要求1所述的一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法，其特征在于：SRAM测试控制模块，输入用户需要设定具体SRAM存储阵列工作的环境指标，包括但不限于温度、电压、工艺角。


3.根据权利要求1所述的一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法，其特征在于：故障预分析模块做出预先判断的依据是大量不同环境下的故障模型和故障行为的研...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡志匡，周正，鄢士钦，王子轩，刘璐，郭宇锋，
申请(专利权)人：南京邮电大学，
类型：发明
国别省市：江苏;32