温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

一种提高故障覆盖率的自适应BIST测试方法，通过SRAM测试控制模块、故障预分析模块和算法生成模块实现。SRAM测试控制模块控制待测SRAM存储阵列的工作电压、温度以及工艺等，使得SRAM在不同的工作环境下暴露出更多的故障行为，减少故障的逃...
该专利属于南京邮电大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京邮电大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。