DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法及测试系统技术方案

本发明专利技术提供了一种DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，包括向地址命令路径发送测试向量，同时向时钟信号路径发送时钟信号；通过环回的时钟信号对环回的测试向量进行采样；将采样到的数据与向地址命令路径发送测试向量进行比较，以完成对DDR物理层地址命令路径的测试。所述DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法中，向地址命令路径发送测试向量，同时向时钟信号路径发送时钟信号，通过环回的时钟信号对环回的测试向量进行采样，使得地址命令路径通路与数据通路在自测时用相同的路径，大大简化了设计的复杂度。本发明专利技术还提供了一种用于实现DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法的测试系统。

Built in self test method and test system of DDR physical layer address command path

【技术实现步骤摘要】
DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法及测试系统
本专利技术涉及DDR物理层地址命令路径测试
，尤其涉及一种DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法及测试系统。
技术介绍
内建自测(Built-inSelfTest，BIST)技术可以实现自我测试，从而减少对自动化测试设备(AutomaticTestEquipment，ATE)的需求，从而降低器件测试对ATE的依赖程度，从而降低测试成本，提高错误覆盖率，缩短测试所需时间，以及独立测试的能力在双倍速率(DoubleDataRate，DDR)物理层中，数据通路读写是双向的，所以在BIST环回时所用的数据通路就是读路径，然而地址命令通路是单向的，所以在BIST环回时不需要经过度路径的处理直接环回与期望的测试向量进行比较。但这种数据通路和地址命令通路都环回都是各自独立的，设计比较麻烦，且地址命令通路和数据通路不能复用。公开号为CN110800060A的中国专利技术专利公开了一种双倍数据速率同步动态随机存取存储器(“DDRSDRAM”)数据选通信号校准，在设备中对在SDRAM数据选通(“DQS”)信号和数据(“DQ”)信号之间的相位偏移进行校准时，对数据信号驱动器电路阻抗进行调整以在执行系统级存储器测试时削弱DQ信号通道上的阻抗匹配。在存储器测试期间，相位偏移会逐步通过范围，并针对每个测试确定错误计数。存储器测试可以仿真设备的任务模式操作。在存储器测试之后，确定与最低错误计数相对应的最佳相位偏移。在设备的后续任务模式操作中，DQS信号可以关于DQ信号延迟与最佳相位偏移相对应的值。其数据通路和地址命令通路都环回都是各自独立的，设计比较麻烦，且地址命令通路和数据通路不能复用。公开号为CN1269041C的中国专利技术专利公开了一种半导体集成电路和存储器测试方法，即使半导体集成电路的BIST电路的工作速度受到限制，也能够在存储器的实际工作速度下测试高速存储器的半导体集成电路。为了测试工作在第一时钟下的存储器，集成电路具有工作在第二时钟下用于生成测试数据的第一测试模式生成部分和工作在与第二时钟反相的第三时钟下用于生成测试数据的第二测试模式生成部分。此外，集成电路具有测试数据选择部分，用于根据第二时钟的信号值选择输出分别由第一测试模式生成部分输出的测试数据或第二测试模式生成部分输出的测试数据中的一个，从而将选中的测试数据作为测试数据输入到存储器中。第二时钟的频率是第一时钟频率的一半。其数据通路和地址命令通路都环回都是各自独立的，设计比较麻烦，且地址命令通路和数据通路不能复用。因此，有必要提供一种新型的DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法及测试系统以解决现有技术中存在的上述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法及测试系统，使得地址命令路径通路与数据通路在自测时用相同的路径，大大简化了设计的复杂度。为实现上述目的，本专利技术的所述DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，包括以下步骤：S1：向地址命令路径发送测试向量，同时向时钟信号路径发送时钟信号；S2：通过环回的时钟信号对环回的测试向量进行采样；S3：将采样到的数据与向地址命令路径发送测试向量进行比较，以完成对DDR物理层地址命令路径的测试。本专利技术的有益效果在于：向地址命令路径发送测试向量，同时向时钟信号路径发送时钟信号，通过环回的时钟信号对环回的测试向量进行采样，使得地址命令路径通路与数据通路在自测时用相同的路径，大大简化了设计的复杂度。优选地，所述步骤S1中，所述测试向量为并行数据，将所述测试向量转变为串行数据，然后进行延时传输。其有益效果在于：将并行数据转变为串行数据，提高数据的传输效率，进行延时传输，能够调节所述测试向量在传输时的延时大小，能够保证后续采样的准确性。优选地，所述步骤S1中，所述时钟信号为并行数据，将所述时钟信号转变为串行数据，然后进行延时传输。其有益效果在于：将并行数据转变为串行数据，提高数据的传输效率，进行延时传输，可以调节所述时钟信号在传输时的延时大小，能够保证后续采样的准确性。优选地，所述步骤S2还包括，对所述环回的时钟信号和所述环回的测试向量进行延时传输。其有益效果在于：进行延时传输，能够调节所述环回的时钟信号和所述环回的测试向量传输在传输时的延时大小，能够保证后续采样的准确性。优选地，所述步骤S2中，所述环回的时钟信号通过时钟树生成至少两个子时钟信号，通过所述子时钟信号对至少两个环回的测试向量进行采样。进一步优选地，所述步骤S2中，所述采样到的数据为串行数据，将所述采样到的数据转变为并行数据。其有益效果在于：保证了数据传输的效率。优选地，DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法还包括采样调试，所述采样调试包括以下步骤：S1a：向地址命令路径发送测试向量的延时值设置为零；S2a：将所述延时值不断增加阈值，直至通过环回的时钟信号对环回的测试向量采样成功，以得到最小延时值；S3a：向地址命令路径发送测试向量的延时值设置为最大值；S4a：将所述延时值不断减少阈值，直至通过环回的时钟信号对环回的测试向量采样成功，以得到最大延时值；S5a：求取取所述最小延时值和所述最大延时值的平均值，然后将向地址命令路径发送测试向量的延时值设置为所述平均值。其有益效果在于：快速调节测试向量的延时值，以便于正确采样。本专利技术还提供了一种测试系统，所述测试系统包括发送模块、采样模块和对比模块，所述发送模块用于向地址命令路径发送测试向量和向时钟信号路径发送时钟信号；所述采样模块用于通过环回的时钟信号对环回的测试向量进行采样；所述对比模块用于将采样到的数据与向地址命令路径发送测试向量进行比较。所述测试系统的有益效果在于：所述发送模块用于向地址命令路径发送测试向量和向时钟信号路径发送时钟信号；所述采样模块用于通过环回的时钟信号对环回的测试向量进行采样，使得地址命令路径通路与数据通路在自测时用相同的路径，大大简化了设计的复杂度。优选地，所述测试系统还包括第一数据转换模块和第一延时链，所述测试向量为并行数据，所述第一数据转换模块用于将所述测试向量转变为串行数据，所述第一延时链用于对转变为串行数据后的测试向量进行延时传输。优选地，所述测试系统还包括第二数据转换模块和第二延时链，所述时钟信号为并行数据，所述第一数据转换模块用于将所述时钟信号转变为串行数据，所述第二延时链用于对转变为串行数据后的时钟信号进行延时传输。优选地，所述测试系统还包括第三延时链和第四延时链，所述第三延时链用于对所述环回的测试向量进行延时传输，所述第四延时链用于对所述环回的时钟信号进行延时传输。优选地，所述测试系统还包括时钟树，用于接收环回的时钟信号以生成至少两个子时钟信号。优选地，所述测试系统还包括第三数据转换模块，所述采样到的数据为串行数据，所述第三数据转换模块用于将所述采样到的数据转换成并行数据。附图说明图1本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS1：向地址命令路径发送测试向量，同时向时钟信号路径发送时钟信号；/nS2：通过环回的时钟信号对环回的测试向量进行采样；/nS3：将采样到的数据与向地址命令路径发送测试向量进行比较，以完成对DDR物理层地址命令路径的测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：向地址命令路径发送测试向量，同时向时钟信号路径发送时钟信号；
S2：通过环回的时钟信号对环回的测试向量进行采样；
S3：将采样到的数据与向地址命令路径发送测试向量进行比较，以完成对DDR物理层地址命令路径的测试。


2.根据权利要求1所述的DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，所述步骤S1中，所述测试向量为并行数据，将所述测试向量转变为串行数据，然后进行延时传输。


3.根据权利要求1所述的DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，所述步骤S1中，所述时钟信号为并行数据，将所述时钟信号转变为串行数据，然后进行延时传输。


4.根据权利要求1所述的DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，所述步骤S2还包括，对所述环回的时钟信号和所述环回的测试向量进行延时传输。


5.根据权利要求1所述的DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，所述步骤S2中，所述环回的时钟信号通过时钟树生成至少两个子时钟信号，通过所述子时钟信号对至少两个环回的测试向量进行采样。


6.根据权利要求1或5所述的DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，所述步骤S2中，所述采样到的数据为串行数据，将所述采样到的数据转变为并行数据。


7.根据权利要求1所述的DDR物理层地址命令路径的内建自测试方法，其特征在于，还包括采样调试，所述采样调试包括以下步骤：
S1a：向地址命令路径发送测试向量的延时值设置为零；
S2a：将所述延时值不断增加阈值，直至通过环回的时钟信号对环回的测试向量采样成功，以得到最小延时值；
S3a：向地址命令路径发送测试向量的延时值设置为最...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵文清，
申请(专利权)人：上海安路信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31