存储器定期进行BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及存储器定期进行BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质；其中，方法，包括：对存储器进行预设检测时间周期载入；判断是否到达存储器的检测时间周期；若到达，则启动系统内部BIST对存储器的电路进行检测；判断是否检测到存储器的电路错误；若未检测到，则反馈存储器正常，系统正常工作运行；若检测到，则对存储器进行错误标示。本发明专利技术通过在系统中预设BIST电路，周期性在系统上电后测试内部存储器是否正常工作，可以判断和保证存储器电路的性能安全，以保证该存储器在整个生命周期内工作的功能安全，且检测完成时间短、效率高。

【技术实现步骤摘要】
存储器定期进行BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质
本专利技术涉及存储器测试
，更具体地说是指存储器定期进行BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
产品的板级应用中，芯片在使用时间比较久的情况下，芯片内部的存储器(RAM)单元会出现电路失效(Failure)的情况，造成芯片的功能安全受到损害，引起数据丢失、甚至芯片不能正常工作的情况。现有常规方法是在芯片出厂后，在测试机上进行存储单元的一次性BIST测试，经筛选后的良片用于产品上，板级工作后再没有安排相关电路的检测，也就是说，如果板级应用情况下芯片出问题是无法进行预知的。但在芯片的板级应用过程中，随着工作时间的推移，存储单元会出现老化而引起芯片失效的情况，统计数据表明，这部分电路发生失效的概率是其他电路发生失效概率的数倍；因此，现有的测试，无法满足需求。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术的缺陷，提供存储器定期进行BIST测试的方法、装置、计算机设备及存储介质。为实现上述目的，本专利技术采用于下技术方案：本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.存储器定期进行BIST测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：/n对存储器进行预设检测时间周期载入；/n判断是否到达存储器的检测时间周期；/n若到达，则启动系统内部BIST对存储器的电路进行检测；/n判断是否检测到存储器的电路错误；/n若未检测到，则反馈存储器正常，系统正常工作运行；/n若检测到，则对存储器进行错误标示。/n

【技术特征摘要】
1.存储器定期进行BIST测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：
对存储器进行预设检测时间周期载入；
判断是否到达存储器的检测时间周期；
若到达，则启动系统内部BIST对存储器的电路进行检测；
判断是否检测到存储器的电路错误；
若未检测到，则反馈存储器正常，系统正常工作运行；
若检测到，则对存储器进行错误标示。


2.根据权利要求1所述的存储器定期进行BIST测试的方法，其特征在于，所述“对存储器进行预设检测时间周期载入”步骤中的预设检测时间周期为1-90天。


3.根据权利要求1所述的存储器定期进行BIST测试的方法，其特征在于，所述“判断是否到达存储器的检测时间周期”步骤中，通过在存储器内置计数器，计数器对存储器的检测时间周期进行判断。


4.根据权利要求1所述的存储器定期进行BIST测试的方法，其特征在于，所述“若存在错误，则对存储器进行错误标示”步骤中，还包括：对标示错误的存储器进行报修或停用。


5.存储器定期进行BIST测试的装置，其特征在于，包括：载入单元，第一判断单元，检测单元，第二判断单元，反馈运行单元，及标示单元；
所述载入单元，用于对存储器进行预设检测时间周期载入；
所述第一判断单元，用于判断是否到...

【专利技术属性】
技术研发人员：王宏伟，张鹏，李湘锦，李华东，
申请(专利权)人：深圳忆联信息系统有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44