用于辐射检测器的防散射格栅制造技术

本发明专利技术涉及带有吸收入射辐射（１、８）且产生与吸收的辐射的量成比例的电信号的薄片（２）的防散射格栅（ＡＳＧ）。薄片（２）可以特别地由半导体材料组成，在半导体材料中光子产生了可借助于薄片（２）的侧壁上的电极（３、４、６）检测到的电子－空穴对。因此可以以空间分辨地方式确定吸收的散射辐射（８）或初级辐射（１）的量，这允许修正由传感器单元（９）的阵列（５）生成的图像。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】
一种用于辐射检测器的防散射格栅（ＡＳＧ），其包括适合于产生指示了吸收的辐射（１、８）的量的信号的辐射吸收薄片（２）。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：G泽特勒，G沃格特梅尔，KJ恩格尔，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]