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对CT系统进行散射校正的方法以及CT系统技术方案

技术编号:2657384 阅读:259 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种用于散射检测或者散射校正的方法,其中,为所产生的每个辐射赋予已知大小的单独的时间标识/变化,检查所测量的辐射变化的这种典型的时间变化,并根据所确定的时间变化回推散射份额,并在必要时执行相应的校正。本发明专利技术还涉及一种CT系统(1),该CT系统带有执行本发明专利技术的方法的计算机程序(Prg↓[x])。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种对带有至少两个彼此角偏移地设置于可转动的支架上且同时运行的焦点-检测器系统的CT系统进行散射校正的方法,其中,为了对对象进行扫描,彼此角偏移地设置的焦点-检测器系统扫描该对象,其中,所述焦点-检测器系统绕CT系统的系统轴转动并根据所测得的辐射强度与未衰减的辐射强度的比来为多条单个的射线确定吸收值,对所测得的值进行散射校正,并借助于所获得的吸收数据重建该对象的CT照片或CT立体数据。
技术介绍
原则上已知的是,在CT方法中出现导致在对X射线辐射的吸收进行测量时的不精确性的散射效应。在此,首先在单焦点-检测器系统中观察到这一效应所用射线扇形的展宽越宽,则散射的问题就越大,这是因为其上形成散射的位置相应地增加了。为了克服这种已知效应,在这种CT系统的中在检测器之前设置所谓的散射射线准直器(Steustrahlkollimator),该散射射线准直器在每个检测器元件之前仅仅放行检测器元件和焦点之间的直接射线方向,而将所有其它方向都尽可能地遮挡。在双或多焦点-检测器系统的中也使用这种散射射线准直器。不过,这种散射射线准直器不能减少如下的散射其通过角度错开设置的其它焦点的射本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于对具有至少两个彼此角偏移地设置于可转动支架上且同时运行的焦点-检测器系统(FDS↓[A],FDS↓[B])的CT系统(1)进行散射校正的方法,所述焦点-检测器系统各带有一个焦点(F↓[A],F↓[B])以及一个接收所述焦点(F↓[A],F↓[B])的直接辐射的所属检测器(D↓[A],D↓[B]),其中:1.1.在所述至少两个焦点-检测器系统(FDS↓[A],FDS↓[B])中的每一个中,在X射线管中利用管电压(U↓[A],U↓[B])通过管电流(I↓[A],I ↓[B])产生X射线辐射,1.2.为对对象(7)进行扫描,所述彼此角偏移地设置的焦点-检测器系统(FDS↓[A]...

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:斯蒂芬波佩斯库
申请(专利权)人:西门子公司
类型:发明
国别省市:DE[德国]

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