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本发明涉及一种用于散射检测或者散射校正的方法，其中，为所产生的每个辐射赋予已知大小的单独的时间标识／变化，检查所测量的辐射变化的这种典型的时间变化，并根据所确定的时间变化回推散射份额，并在必要时执行相应的校正。本发明还涉及一种ＣＴ系统（１）...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

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