【技术实现步骤摘要】
一种镀膜设备
本技术涉及镀膜
,尤其涉及一种镀膜设备。
技术介绍
化学气相沉积(chemicalvapordeposition;CVD)真空镀膜设备(以下简称为CVD设备)被广泛应用于集成电路等电子产品的制造过程中。其中,膜层生长速度(即镀膜速率)是CVD设备的关键工艺参数,其影响着电子产品的性能和质量,而镀膜速率与CVD设备的蒸发仓内的温度正相关。现有技术中,化学气相沉积设备是通过沉积室内的压力间接估算镀膜速率,在制程结束后通过离线测量的方式来检测膜厚。也有通过沉积室压力间接估算镀膜速率进而推算膜厚的方法,然而这须要通过大量实验建立压力与膜厚的对应关系,进而确定合适的工艺参数,此方法耗时耗力并且也无法实时监测镀膜制程中的实时速率和膜厚。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种镀膜设备,能够实现在线检测膜厚,并能降低测厚仪相对于沉积室的仓门发生移动的几率,提高测厚仪测量检测片上膜层厚度的准确度及电子产品的品质。如上构思,本技术所采用的技术方案是:一种镀膜设备,包括: >沉积室,具有仓门,本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种镀膜设备,其特征在于,包括:/n沉积室,具有仓门(30),所述仓门(30)上设有透明视窗(301);/n镀膜载具(10),包括:/n测厚仪固定结构(1),其位于所述沉积室外,所述测厚仪固定结构(1)包括固定于所述仓门(30)上的支撑组件(11)和可滑动设置于所述支撑组件(11)上的固定组件(12);/n固定架(2),其位于所述沉积室内并固定于所述透明视窗(301)上,所述固定架(2)对应所述测厚仪固定结构(1),所述固定架(2)包括平行于所述透明视窗(301)的第一表面(21);/n测厚仪(20),设置于所述固定组件(12),所述测厚仪(20)具有平行于所述透明视窗 ...
【技术特征摘要】
1.一种镀膜设备,其特征在于,包括:
沉积室,具有仓门(30),所述仓门(30)上设有透明视窗(301);
镀膜载具(10),包括:
测厚仪固定结构(1),其位于所述沉积室外,所述测厚仪固定结构(1)包括固定于所述仓门(30)上的支撑组件(11)和可滑动设置于所述支撑组件(11)上的固定组件(12);
固定架(2),其位于所述沉积室内并固定于所述透明视窗(301)上,所述固定架(2)对应所述测厚仪固定结构(1),所述固定架(2)包括平行于所述透明视窗(301)的第一表面(21);
测厚仪(20),设置于所述固定组件(12),所述测厚仪(20)具有平行于所述透明视窗(301)的镜片。
2.根据权利要求1所述的镀膜设备,其特征在于,所述支撑组件(11)包括固定于所述仓门(30)上的连接底板(111),分别与所述连接底板(111)两端连接的连接竖板(112),两端分别与两个所述连接竖板(112)连接的连接顶板(113),以及两端分别设置在两个所述连接竖板(112)上且能相对所述连接竖板(112)移动的调节板(114),所述固定组件(12)滑动设置于所述调节板(114)上。
3.根据权利要求2所述的镀膜设备,其特征在于,所述支撑组件(11)还包括第一螺钉(115),所述调节板(114)上具有沿所述调节板(114)长度方向延伸的第一腰型孔(1141),所述固定组件(12)通过所述第一螺钉(115)滑动设置于所述第一腰型孔(1141)上。
4.根据权利要求3所述的镀膜设备,其特征在于,所述支撑组件(11)还包括两个第二螺钉(116),所述连接竖板(112)的中部设有沿所述连接竖板(112)的长度方向延伸的第二腰型孔(1121),所述调节板(114)的一端通过一个所述第二螺钉(116)滑动设置于一个所述连接竖板(112)上的所述第二腰型孔(1121)上...
【专利技术属性】
技术研发人员:王凯,张建飞,盛兆亚,宋文庆,
申请(专利权)人:苏州沃盾纳米科技有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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