电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术揭露一种电路测试装置，用来测试一待测试元件所包括的一电容的电容值。电路测试装置包括有一量测模块、一第一转换模块、一处理模块以及一第二转换模块。量测模块提供一测试信号，并根据测试信号所产生的一信号量测结果来决定电容的电容值。第一转换模块耦接于量测模块，用以转换测试信号，产生一测试输入信号。处理模块耦接于第一转换模块以及待测试元件，用以将测试输入信号输入至电容，并对电容所产生一输出信号进行放大处理，产生一放大信号。第二转换模块用以对放大信号进行转换，以产生信号量测结果。本实用新型专利技术可以大幅降低测试成本且提升测试的便利性。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术提供一种电路测试装置，尤指一种可用以测试 待测试元件所包括的电容的电容值的电路测试装置。
技术介绍
随着科技的进步，集成电路(Integrated Circuit, IC )的功能越来越强大，其重要性也与日遽增。除了单纯处理模拟信号 的IC以及单纯处理数字信号的IC以外，业界还陆续研发出多种 兼具数字信号与模拟信号处理能力的IC，此种IC一般可称为混 合信号IC。而不论是数字信号IC、模拟信号IC或混合信号IC, 为了确保IC出货时的品质，在完成制造过程之后， 一般都会对 每一IC执行测试，制造商会依据对IC执行测试的结果，来决定 此IC是否合格，并据以判断是否可将此IC供应给下游的厂商。请参阅图1，图l为一般使用专用测试机测试待测试元件的电容的电容值的示意图。 一般现行的测试元件(IC)12皆会搭配 各式各样的专用测试机IO,来对待测试元件12的各种功能进行 测试。如图l所示，当;f争测试元件12具有电容C时，如果要测试 电容C的电容值，则必须使用专用测试机10才能达成，先由专 用测试机10传送 一 测试信号S t至待测试元件12,再由专用测试 机测试电容C两端的信号，最后本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路测试装置，其特征在于，用来测试一待测试元件所包括的一电容的电容值，其中该电路测试装置包括有：　一量测模块，用以提供一测试信号，并根据该测试信号所产生的一信号量测结果来决定该待测试元件的该电容的电容值；　一第一转换模块，耦 接于该量测模块，用以转换该测试信号，以产生一测试输入信号；　一处理模块，耦接于该第一转换模块以及该待测试元件，用以将该测试输入信号输入至该电容，并对该电容所产生一输出信号进行放大处理，以产生一放大信号；以及　一第二转换模块，耦接 于该处理模块以及该量测模块，用以对该放大信号进行转换，以产生该信号量测结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：滕贞勇，许丽娇，
申请(专利权)人：普诚科技股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]