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磁共振测量层的定位方法技术

技术编号:2649140 阅读:253 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种用于定位一磁共振测量层的方法,该方法允许借助一修正畸变的磁共振图图解确定所述待测量层。为此,有待测量的层的坐标同样进行畸变修正。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于定位一磁共振测量层的方法。
技术介绍
在医学的磁共振检查时,往往首先借助一张总的宏观照片决定患者的那个部位应当成像。在此例如由使用者借助一磁共振解地确定随后的磁共振测量的区域。基于所述磁共振仪基本磁场和梯度场的不均匀性,往往导致该磁共振图发生畸变。这种畸变表现为图像失真,它们导致难以为下一步的磁共振测量图解地定位。因磁场的不均匀性所引起的畸变可以通过采用恰当的修正方法予以减少或消除。然而,后续的磁共振测量层的定位却不可能基于按此方式修正畸变后的图像进行。借助该修正畸变的图像所设定的层由于磁场的不均匀性通常与实际测量的层有偏差,因此在这种情况下可能并没有测量所期望的层。在某些情况下这还可能意味着对患者存在一定危险,例如在活组织检查时。若活组织检查针借助磁共振图定位,会导致取出错误的组织试样或导致患者受伤。由于此原因,迄今放弃采用已进行畸变修正的磁共振图用于层定位,而是借助未经修正的图像来进行定位。
技术实现思路
因此,本专利技术要解决的技术问题在于提供一种方法,它能避免出现上面讨论的疑难问题。上述技术问题通过一种在一磁共振仪内定位一磁共振测量层的方法来解决,该磁共本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在一磁共振仪内定位一磁共振测量层的方法,该磁共振仪有一个不均匀的基本磁场和/或一个非线性的梯度场,该方法包括下列方法步骤:-借助一修正畸变后的磁共振图确定所述磁共振测量层的位置,以及-修正所产生的所述磁共振测量层的一测量 位置,以补偿该测量位置与所确定的位置的偏差。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:哈拉尔德沃思纳
申请(专利权)人:西门子公司
类型:发明
国别省市:DE[德国]

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