【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术属于半导体测试装置的外加电压电流测量装置及其所使用的具有开关的电流缓存器,为了小型化,模拟电路可设计成MCM(多芯片模块),或者IC(集成电路)。
技术介绍
在日本专利申请Kokai公开No.5-119110中,公开了一种在IC测量装置的直流测试中使用的直流测量设备,该直流测量设备向负载(被测设备,DUT)和开关提供一置位恒流或者一恒压,根据所述负载电流范围,检测电阻检测所述负载中产生的电压或者那时流过所述负载的电流。在日本专利申请Kokai公开No.8-54424的中,公开了一种外加电压电流测量装置,其中去除了所述范围转换电路并且获得了更高的速度和更小的尺寸。在日本专利申请Kokai公开No.10-10162的中,公开了一种,即在一电流检测电路以及一外加电压电流测量电路和一使用所述电路的恒流源电路中,该电流检测电路中转换所述电流检测电阻的防漏继电器的数量已被减少。图1A简单地示出了在前述日本专利申请Kokai公开No.10-10162的中公开的所述常规外加电压电流测量电路的配置。此外,如通常对半导体测试装置所做的,图1A所示外加电压的电流测试电路分 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
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