【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测试系统中的热控制
本说明书整体涉及测试系统中的热控制。
技术介绍
测试系统被配置为测试电子装置(诸如微处理器)的操作。一些类型的电子装置在操作期间(包括在测试期间)生成相当多的热量。所生成的热量如果没有适当地耗散，则可能对装置造成损坏、对测试结果产生不利影响或两者兼有。
技术实现思路
一种示例性测试系统包括载体，该载体具有用于接收待测试的装置的测试插座。载体上的测试插座包括电连接件。测试系统还包括封盖组件，该封盖组件由插座盖构成，该插座盖用于接触装置以施加压力以使装置电连接到电连接件。插座盖包括具有超过限定值的热导率的材料。封盖组件还包括一个或多个结构，该一个或多个结构被配置为提供表面区域，来自装置的热量在该表面区域上方耗散。一个或多个结构由具有超过限定值的热导率的材料构成。示例性测试系统可包括下列特征中的一个或多个特征(单独地或组合地)。一个或多个结构可包括翅片，该翅片经由插座盖热连接到装置。翅片可远离装置延伸。翅片可按一行或多行布置。翅片和插座盖可被集成到包括封盖组件的单个结构中。翅片可包括...
【技术保护点】
1.一种测试系统，包括：/n载体，所述载体包括用于接收待测试的装置的测试插座，所述测试插座包括电连接件；和/n封盖组件，所述封盖组件包括：/n插座盖，所述插座盖用于接触所述装置以施加压力以使所述装置电连接到所述电连接件，所述插座盖包括具有超过限定值的热导率的材料；和/n一个或多个结构，所述一个或多个结构被配置为提供表面区域，来自所述装置的热量在所述表面区域上方耗散，所述一个或多个结构包括具有超过所述限定值的热导率的材料。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180424 US 15/961,2901.一种测试系统，包括：
载体，所述载体包括用于接收待测试的装置的测试插座，所述测试插座包括电连接件；和
封盖组件，所述封盖组件包括：
插座盖，所述插座盖用于接触所述装置以施加压力以使所述装置电连接到所述电连接件，所述插座盖包括具有超过限定值的热导率的材料；和
一个或多个结构，所述一个或多个结构被配置为提供表面区域，来自所述装置的热量在所述表面区域上方耗散，所述一个或多个结构包括具有超过所述限定值的热导率的材料。
2.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述一个或多个结构包括翅片，所述翅片经由所述插座盖热连接到所述装置，所述翅片远离所述装置延伸。
3.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述一个或多个结构包括翅片，所述翅片经由所述插座盖热连接到所述装置，所述翅片按一行或多行布置。
4.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述翅片和所述插座盖被集成到包括所述封盖组件的单个结构中。
5.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述一个或多个结构包括翅片，所述翅片经由所述插座盖热连接到所述装置，所述翅片包括金属。
6.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述一个或多个结构包括翅片，所述翅片经由所述插座盖热连接到所述装置，所述翅片为金属。
7.根据权利要求1所述的测试系统，还包括：
测试狭槽，所述测试狭槽用于接收所述载体，所述测试狭槽包括所述载体电连接到其上的接口，所述测试狭槽包括被配置为使空气在所述封盖组件上方移动的鼓风机。
8.根据权利要求7所述的测试系统，还包括：
热控制室，所述热控制室包括保持在一定温度下的空气；和
测试架，所述测试架用于将所述测试狭槽保持在多个测试狭槽之间，所述测试架包括被配置为将空气移入所述热控制室的一个或多个鼓风机。
9.根据权利要求8所述的测试系统，其中所述温度为环境温度。
10.根据权利要求1所述的测试系统，其中所述测试插座为第一测试插座，所述装置为第一装置，并且所述载体包括用于保持待测试的第二装置的第二测试插座。
11.根据权利要求1所述的测试系统，还包括：
测试狭槽，所述测试狭槽用于接收所述载体，所述测试狭槽包括所述载体电连接到其上的接口；和
机器人，所述机器人用于将所述载体移入和移出所述测试狭槽。
12.根据权利要求1所述的测试系统，还包括：
致动器，所述致动器被配置为接合所述插座盖，以将所述插座盖放置在所述装置上方或从所述装置上方移除。
13.根据权利要求12所述的测试系统，其中所述致动器包括：
键元件，所述键元件是能够旋转的；
工具球，所述工具球相对于所述键元件布置；和
块，所述工具球...
【专利技术属性】
技术研发人员：拉里·W·埃克斯，菲利普·坎贝尔，瓦尔奎里奥·纳扎雷·卡瓦略，尚特·奥查尼安，
申请(专利权)人：泰瑞达公司，
类型：发明
国别省市：美国;US
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