测试治具制造技术

本申请提供一种测试治具。所述测试治具包括承载座、摄像头及处理器。所述承载座用于承载待测试件。所述摄像头用于拍摄所述待测试件的图像，以得到拍摄图像。所述处理器用于选取所述拍摄图像中的部分待测试器件作为参考器件，并获取所述参考器件的测试坐标；所述处理器还用于接收所述待测试件的生产坐标文件，所述生产坐标文件中包括所述待测试件中所有的待测试器件生产时的生产坐标，所述处理器根据所述参考器件的测试坐标与所述参考器件的生产坐标得到所述测试坐标与所述生产坐标之间的位置偏差，并根据所述位置偏差得到所述待测试件中剩余的待测试器件的测试坐标。本申请提供的测试治具的测试效率较高。

【技术实现步骤摘要】
测试治具
本申请涉及测试
，尤其涉及一种测试治具。
技术介绍
目前在对各种电子产品进行研发及生产的时候，需要对电子产品进行硬件测试，以判断电子产品是否存在问题。由此可见，硬件测试是电子产品的品质是否过关的必要流程。硬件测试项目复杂，往往需要较多的时间。比如，相关技术中，对电子产品进行硬件测试时，需要按照电子设备的电路原理图，人工找到电子产品中的待测试器件(比如，电阻、电容等)的坐标，耗时较长。
技术实现思路
为了解决相关技术中的确定电子产品中的待测试件的坐标耗时较长的技术问题，本申请提供了一种测试治具，所述测试治具包括：承载座，所述承载座用于承载待测试件；摄像头，所述摄像头用于拍摄所述待测试件的图像，以得到拍摄图像；及处理器，所述处理器用于选取所述拍摄图像中的部分待测试器件作为参考器件，并获取所述参考器件的测试坐标；所述处理器还用于接收所述待测试件的生产坐标文件，所述生产坐标文件中包括所述待测试件中所有的待测试器件生产时的生产坐标，所述处理器根据所述参考器件的测试坐标与所述参考器件的生产坐标得到本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试治具，其特征在于，所述测试治具包括：/n承载座，所述承载座用于承载待测试件；/n摄像头，所述摄像头用于拍摄所述待测试件的图像，以得到拍摄图像；及/n处理器，所述处理器用于选取所述拍摄图像中的部分待测试器件作为参考器件，并获取所述参考器件的测试坐标；所述处理器还用于接收所述待测试件的生产坐标文件，所述生产坐标文件中包括所述待测试件中所有的待测试器件生产时的生产坐标，所述处理器根据所述参考器件的测试坐标与所述参考器件的生产坐标得到所述测试坐标与所述生产坐标之间的位置偏差，并根据所述位置偏差得到所述待测试件中剩余的待测试器件的测试坐标。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试治具，其特征在于，所述测试治具包括：
承载座，所述承载座用于承载待测试件；
摄像头，所述摄像头用于拍摄所述待测试件的图像，以得到拍摄图像；及
处理器，所述处理器用于选取所述拍摄图像中的部分待测试器件作为参考器件，并获取所述参考器件的测试坐标；所述处理器还用于接收所述待测试件的生产坐标文件，所述生产坐标文件中包括所述待测试件中所有的待测试器件生产时的生产坐标，所述处理器根据所述参考器件的测试坐标与所述参考器件的生产坐标得到所述测试坐标与所述生产坐标之间的位置偏差，并根据所述位置偏差得到所述待测试件中剩余的待测试器件的测试坐标。


2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括：
机械臂，所述机械臂活动连接于所述承载座，所述机械臂具有探头孔，所述探头孔用于供测试探头通过；及
驱动件，所述驱动件用于在所述处理器的控制下驱动所述机械臂运动，以使所述探头孔运动至当前需要测试的待测试器件的位置。


3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述处理器控制所述驱动件驱动所述机械臂运动时，根据实际位移和期望位移之间的位移偏差对所述驱动件驱动所述机械臂移动的角位移、角速度、及角加速度进行修正，且对所述角位移、角速度、及角加速度的占比进行修正。


4.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具包括多个机械臂，所述处理器还用于接收当前需要测试的待测试器件所需要的探头的数目，其中，当前需要测试的待测试器件所需要的探头的数目和对所述待测试器件的测试类型相关；且所述处理器还根据所需要的探头的数目及当前需要测试的待测试器件的位置控制所述驱动件驱动所述多个机械臂中对应数量的机械臂运动至当前需要测试的待测试器件的位置。


5.如权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括输入装置，所述输入装置与所述处理器电连接，用于输入所述待测试器件所需要的探头的数目以及对所述待测试器件进行测试的测试类型。


6.如权利要求1-5任意一项所述的测试治具，其特征在于，所述测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：张才斗，李清，李冬冬，
申请(专利权)人：科大讯飞股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34