测试治具制造技术

本申请提供一种测试治具。所述测试治具包括承载座、摄像头及处理器。所述承载座用于承载待测试件。所述摄像头用于拍摄所述待测试件的图像，以得到拍摄图像。所述处理器用于选取所述拍摄图像中的部分待测试器件作为参考器件，并获取所述参考器件的测试坐标；所述处理器还用于接收所述待测试件的生产坐标文件，所述生产坐标文件中包括所述待测试件中所有的待测试器件生产时的生产坐标，所述处理器根据所述参考器件的测试坐标与所述参考器件的生产坐标得到所述测试坐标与所述生产坐标之间的位置偏差，并根据所述位置偏差得到所述待测试件中剩余的待测试器件的测试坐标。本申请提供的测试治具的测试效率较高。

【技术实现步骤摘要】
测试治具
本申请涉及测试
，尤其涉及一种测试治具。
技术介绍
目前在对各种电子产品进行研发及生产的时候，需要对电子产品进行硬件测试，以判断电子产品是否存在问题。由此可见，硬件测试是电子产品的品质是否过关的必要流程。硬件测试项目复杂，往往需要较多的时间。比如，相关技术中，对电子产品进行硬件测试时，需要按照电子设备的电路原理图，人工找到电子产品中的待测试器件(比如，电阻、电容等)的坐标，耗时较长。
技术实现思路
为了解决相关技术中的确定电子产品中的待测试件的坐标耗时较长的技术问题，本申请提供了一种测试治具，所述测试治具包括：承载座，所述承载座用于承载待测试件；摄像头，所述摄像头用于拍摄所述待测试件的图像，以得到拍摄图像；及处理器，所述处理器用于选取所述拍摄图像中的部分待测试器件作为参考器件，并获取所述参考器件的测试坐标；所述处理器还用于接收所述待测试件的生产坐标文件，所述生产坐标文件中包括所述待测试件中所有的待测试器件生产时的生产坐标，所述处理器根据所述参考器件的测试坐标与所述参考器件的生产坐标得到所述测试坐标与所述生产坐标之间的位置偏差，并根据所述位置偏差得到所述待测试件中剩余的待测试器件的测试坐标。其中，所述测试治具还包括：机械臂，所述机械臂活动连接于所述承载座，所述机械臂具有探头孔，所述探头孔用于供测试探头通过；及驱动件，所述驱动件用于在所述处理器的控制下驱动所述机械臂运动，以使所述探头孔运动至当前需要测试的待测试器件的位置。其中，所述处理器控制所述驱动件驱动所述机械臂运动时，根据实际位移和期望位移之间的位移偏差对所述驱动件驱动所述机械臂移动的角位移、角速度、及角加速度进行修正，且对所述角位移、角速度、及角加速度的占比进行修正。其中，所述测试治具包括多个机械臂，所述处理器还用于接收当前需要测试的待测试器件所需要的探头的数目，其中，当前需要测试的待测试器件所需要的探头的数目和对所述待测试器件的测试类型相关；且所述处理器还根据所需要的探头的数目及当前需要测试的待测试器件的位置控制所述驱动件驱动所述多个机械臂中对应数量的机械臂运动至当前需要测试的待测试器件的位置。其中，所述测试治具还包括输入装置，所述输入装置与所述处理器电连接，用于输入所述待测试器件所需要的探头的数目以及对所述待测试器件进行测试的测试类型。其中，所述测试治具还包括：第一定位件，所述第一定位件活动连接于所述承载座，且相较于所述承载座在第一方向上可往复移动；第二定位件，所述第二定位件活动连接于所述承载座，且相较于所述承载座在第一方向上可往复移动；第三定位件，所述第三定位件活动连接于所述承载座，且相较于所述承载座在第二方向上可往复移动；及第四定位件，所述第四定位件连接于所述承载座，且可限制所述第三定位件在所述第二方向上的位移；其中，所述第一方向和所述第二方向不同，所述第一定位件、所述第二定位件、所述第三定位件及所述第四定位件相互配合以固定所述待测试件。其中，所述第一定位件面对所述第二定位件的表面开设有凹槽；所述第二定位件面对所述第一定位件的表面开设有凹槽；且所述第一定位件及所述第二定位件面对所述第三定位件的表面均开设有凹槽；所述第三定位件面对所述第一定位件的表面开设有凹槽。其中，所述承载座包括：承载本体；第一连接部，所述第一连接件固定于所述承载本体，且所述第一连接部沿所述第二方向设置，所述第一连接部上开设有间隔设置的多个定位孔；所述第三定位件活动连接所述第一连接部；所述第四定位件包括：定位本体，所述定位本体套设于第一连接部，且可在所述第一连接部上滑动，所述定位本体开设有通孔；定位部，所述定位部用于穿过所述通孔及所述定位孔，以将所述第四定位件固定于所述承载座。其中，所述测试治具还包括：弹性件，所述弹性件套设于所述第一连接部，且设置于所述第三定位件及所述第四定位件之间。其中，所述承载座还包括：第二连接部，所述第二连接部固定于所述承载本体，且所述第二连接部沿所述第一方向设置；所述第一定位件及所述第二定位件套设于所述第二连接部且可相较于所述承载部在第一方向上往复移动，且所述第一定位件及所述第二定位件分别设置于所述第一连接部相对的两侧。相较于相关技术，本申请实施方式提供的测试治具可以利用参考器件的测试坐标和生产坐标之间的位置偏差、以及每个待测试器件的生产坐标，计算出每个待测试器件的测试坐标，无需人工对照所述待测试器件的原理图找到待测试器件的位置，从而可缩短找到每个待测试器件的测试坐标的时间，即，节约了测试用时。换而言之，本申请的测试治具可达到缩短测试用时的技术效果。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本申请一实施方式提供的测试治具的结构示意图。图2为图1中提供的测试治具的电路框图。图3为本申请一实施方式中参考器件的生产坐标的示意图。图4为图3中的参考器件的测试坐标的示意图。图5为本申请一实施方式中的测试治具中的处理器驱动机械臂运动时的控制算法框图。图6为系统误差与性能函数关系示意图。图7本申请一实施方式提供的测试治具中的机械臂的结构示意图。图8为图7中的机械臂中关节2的仿真示意图。图9为图7中的机械臂中关节3的仿真示意图。图10为相关技术中的控制算法对应的控制系统的响应时间的仿真图。图11为本申请的控制算法对应的控制系统的响应时间的仿真图。图12为本申请一实施方式提供的测试治具的电路框图。图13为本申请又一实施方式提供的测试治具一个角度的结构示意图。图14为图13所示的测试治具在另一角度的结构示意图。图15为图14中I处的放大示意图。图16为图13所示的测试治具在另外一个角度的俯视图。图17为本申请另一实施方式提供的测试治具的示意图。图18为图17中测试治具中II处的放大示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。在本文中提及“实施例”或“实施方式”意味着，结合实施例或实施方式描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。需要说明的是，本本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测试治具，其特征在于，所述测试治具包括：/n承载座，所述承载座用于承载待测试件；/n摄像头，所述摄像头用于拍摄所述待测试件的图像，以得到拍摄图像；及/n处理器，所述处理器用于选取所述拍摄图像中的部分待测试器件作为参考器件，并获取所述参考器件的测试坐标；所述处理器还用于接收所述待测试件的生产坐标文件，所述生产坐标文件中包括所述待测试件中所有的待测试器件生产时的生产坐标，所述处理器根据所述参考器件的测试坐标与所述参考器件的生产坐标得到所述测试坐标与所述生产坐标之间的位置偏差，并根据所述位置偏差得到所述待测试件中剩余的待测试器件的测试坐标。/n

【技术特征摘要】
1.一种测试治具，其特征在于，所述测试治具包括：
承载座，所述承载座用于承载待测试件；
摄像头，所述摄像头用于拍摄所述待测试件的图像，以得到拍摄图像；及
处理器，所述处理器用于选取所述拍摄图像中的部分待测试器件作为参考器件，并获取所述参考器件的测试坐标；所述处理器还用于接收所述待测试件的生产坐标文件，所述生产坐标文件中包括所述待测试件中所有的待测试器件生产时的生产坐标，所述处理器根据所述参考器件的测试坐标与所述参考器件的生产坐标得到所述测试坐标与所述生产坐标之间的位置偏差，并根据所述位置偏差得到所述待测试件中剩余的待测试器件的测试坐标。


2.如权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括：
机械臂，所述机械臂活动连接于所述承载座，所述机械臂具有探头孔，所述探头孔用于供测试探头通过；及
驱动件，所述驱动件用于在所述处理器的控制下驱动所述机械臂运动，以使所述探头孔运动至当前需要测试的待测试器件的位置。


3.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述处理器控制所述驱动件驱动所述机械臂运动时，根据实际位移和期望位移之间的位移偏差对所述驱动件驱动所述机械臂移动的角位移、角速度、及角加速度进行修正，且对所述角位移、角速度、及角加速度的占比进行修正。


4.如权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具包括多个机械臂，所述处理器还用于接收当前需要测试的待测试器件所需要的探头的数目，其中，当前需要测试的待测试器件所需要的探头的数目和对所述待测试器件的测试类型相关；且所述处理器还根据所需要的探头的数目及当前需要测试的待测试器件的位置控制所述驱动件驱动所述多个机械臂中对应数量的机械臂运动至当前需要测试的待测试器件的位置。


5.如权利要求4所述的测试治具，其特征在于，所述测试治具还包括输入装置，所述输入装置与所述处理器电连接，用于输入所述待测试器件所需要的探头的数目以及对所述待测试器件进行测试的测试类型。


6.如权利要求1-5任意一项所述的测试治具，其特征在于，所述测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：张才斗，李清，李冬冬，
申请(专利权)人：科大讯飞股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34